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An Outline of a Complementary Inspection System for Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) Devices Based on Radiography and Plenoptic Camera
Autores:
Alvin CHONG, Guojin FENG, Jamil KANFOUD and Tat-Hean GAN
Publicado en:
Advances in Transdisciplinary Engineering, Edición Volume 8: Advances in Manufacturing Technology XXXII, 2018, Página(s) 33 - 38, ISSN 2352-751X
Editor:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-902-7-33
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