A Complimentary Inspection Technique based on Computer Tomography and Plenoptic Camera for MEMS Components

Projektinformationen

CITCOM

ID Finanzhilfevereinbarung: 768883

DOI

10.3030/768883

Projekt abgeschlossen

EK-Unterschriftsdatum 2 August 2017

Startdatum 1 Oktober 2017

Enddatum 31 Dezember 2020

Finanziert unter

• INDUSTRIAL LEADERSHIP - Leadership in enabling and industrial technologies - Advanced manufacturing and processing

Gesamtkosten

€ 5 641 186,20

EU-Beitrag

€ 4 763 035,64

Koordiniert durch

CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA - RECHERCHE ET DEVELOPPEMENT
Switzerland

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Leistungen

Documents, reports (3)

Open access summary report
Dissemination toolkit
Exploitation workshop

Demonstrators, pilots, prototypes (1)

Project website

Veröffentlichungen

Conference proceedings (1)

An Outline of a Complementary Inspection System for Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) Devices Based on Radiography and Plenoptic Camera

Autoren: Alvin CHONG, Guojin FENG, Jamil KANFOUD and Tat-Hean GAN
Veröffentlicht in: Advances in Transdisciplinary Engineering, Ausgabe Volume 8: Advances in Manufacturing Technology XXXII, 2018, Seite(n) 33 - 38, ISSN 2352-751X
Herausgeber: IOS Press
DOI: 10.3233/978-1-61499-902-7-33