A Complimentary Inspection Technique based on Computer Tomography and Plenoptic Camera for MEMS Components

Informations projet

CITCOM

N° de convention de subvention: 768883

DOI

10.3030/768883

Projet clôturé

Date de signature de la CE 2 Août 2017

Date de début 1 Octobre 2017

Date de fin 31 Decembre 2020

Financé au titre de

• INDUSTRIAL LEADERSHIP - Leadership in enabling and industrial technologies - Advanced manufacturing and processing

Coût total

€ 5 641 186,20

Contribution de l’UE

€ 4 763 035,64

Coordonné par

CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA - RECHERCHE ET DEVELOPPEMENT
Switzerland

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Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Documents, reports (3)

Open access summary report
Dissemination toolkit
Exploitation workshop

Demonstrators, pilots, prototypes (1)

Project website

Publications

Conference proceedings (1)

An Outline of a Complementary Inspection System for Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) Devices Based on Radiography and Plenoptic Camera

Auteurs: Alvin CHONG, Guojin FENG, Jamil KANFOUD and Tat-Hean GAN
Publié dans: Advances in Transdisciplinary Engineering, Numéro Volume 8: Advances in Manufacturing Technology XXXII, 2018, Page(s) 33 - 38, ISSN 2352-751X
Éditeur: IOS Press
DOI: 10.3233/978-1-61499-902-7-33