A Complimentary Inspection Technique based on Computer Tomography and Plenoptic Camera for MEMS Components

Informazioni relative al progetto

CITCOM

ID dell’accordo di sovvenzione: 768883

DOI

10.3030/768883

Progetto chiuso

Data della firma CE 2 Agosto 2017

Data di avvio 1 Ottobre 2017

Data di completamento 31 Dicembre 2020

Finanziato da

• INDUSTRIAL LEADERSHIP - Leadership in enabling and industrial technologies - Advanced manufacturing and processing

Costo totale

€ 5 641 186,20

Contributo UE

€ 4 763 035,64

Coordinato da

CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA - RECHERCHE ET DEVELOPPEMENT
Switzerland

CORDIS fornisce collegamenti ai risultati finali pubblici e alle pubblicazioni dei progetti ORIZZONTE.

I link ai risultati e alle pubblicazioni dei progetti del 7° PQ, così come i link ad alcuni tipi di risultati specifici come dataset e software, sono recuperati dinamicamente da .OpenAIRE .

Risultati finali

Documents, reports (3)

Open access summary report
Dissemination toolkit
Exploitation workshop

Demonstrators, pilots, prototypes (1)

Project website

Pubblicazioni

Conference proceedings (1)

An Outline of a Complementary Inspection System for Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) Devices Based on Radiography and Plenoptic Camera

Autori: Alvin CHONG, Guojin FENG, Jamil KANFOUD and Tat-Hean GAN
Pubblicato in: Advances in Transdisciplinary Engineering, Numero Volume 8: Advances in Manufacturing Technology XXXII, 2018, Pagina/e 33 - 38, ISSN 2352-751X
Editore: IOS Press
DOI: 10.3233/978-1-61499-902-7-33