Publicaciones
Autores:
Stefan Petzold, Eszter Piros, Robert Eilhardt, Alexander Zintler, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Aldin Radetinac, Philipp Komissinskiy, Eric Jalaguier, Emmanuel Nolot, Christelle Charpin‐Nicolle, Christian Wenger, Leopoldo Molina‐Luna, Enrique Miranda, Lambert Alff
Publicado en:
Advanced Electronic Materials, Edición 6/11, 2020, Página(s) 2000439, ISSN 2199-160X
Editor:
Wiley Online Library
DOI:
10.1002/aelm.202000439
Autores:
David Lehninger, Konstantin Mertens, Lukas Gerlich, Maximilian Lederer, Tarek Ali, Konrad Seidel
Publicado en:
MRS Advances, Edición 6/21, 2021, Página(s) 535-539, ISSN 2059-8521
Editor:
Springer
DOI:
10.1557/s43580-021-00118-w
Autores:
Hatun Cinkaya, Adil Ozturk, Arif Sirri Atilla Hasekioğlu, Zahit Evren Kaya, Seref Kalem, Christelle Charpin-Nicolle, Guillaume Bourgeois, Nicolas Guillaume, Marie Claire.Cyrille, Julien Garrione, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Publicado en:
Solid-State Electronics, Edición 185, 2021, Página(s) 108101, ISSN 0038-1101
Editor:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108101
Autores:
Tobias Vogel, Nico Kaiser, Stefan Petzold, Eszter Piros, Nicolas Guillaume, Gauthier Lefevre, Christelle Charpin-Nicolle, Sylvain David, Christophe Vallee, Etienne Nowak, Christina Trautmann, Lambert Alff
Publicado en:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Edición 68/8, 2021, Página(s) 1542-1547, ISSN 0018-9499
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tns.2021.3085962
Autores:
Eszter Piros, Martin Lonsky, Stefan Petzold, Alexander Zintler, S.U. Sharath, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Robert Eilhardt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Jens Müller, Lambert Alff
Publicado en:
Physical Review Applied, Edición 14/3, 2020, ISSN 2331-7019
Editor:
American Physical society
DOI:
10.1103/physrevapplied.14.034029
Autores:
Eszter Piros, Stefan Petzold, Alexander Zintler, Nico Kaiser, Tobias Vogel, Robert Eilhardt, Christian Wenger, Leopoldo Molina-Luna, Lambert Alff
Publicado en:
Applied Physics Letters, Edición 117/1, 2020, Página(s) 013504, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0009645
Autores:
Fernando Leonel Aguirre, Nicolás M. Gomez, Sebastián Matías Pazos, Félix Palumbo, Jordi Suñé, Enrique Miranda
Publicado en:
Journal of Low Power Electronics and Applications, Edición 11/1, 2021, Página(s) 9, ISSN 2079-9268
Editor:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/jlpea11010009
Autores:
G. Lama, G. Bourgeois, M. Bernard, N. Castellani, J. Sandrini, E. Nolot, J. Garrione, M.C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Publicado en:
Microelectronics Reliability, Edición 114, 2020, Página(s) 113823, ISSN 0026-2714
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113823
Autores:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Olga Cueto, Guillaume Bourgeois, Marie Claire Cyrille, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Publicado en:
Solid-State Electronics, Edición 186, 2021, Página(s) 108111, ISSN 0038-1101
Editor:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108111
Autores:
A. Rodriguez-Fernandez, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé, E. Miranda
Publicado en:
Microelectronics Reliability, Edición 88-90, 2018, Página(s) 142-146, ISSN 0026-2714
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.06.120
Autores:
A. Rodriguez-Fernandez, C. Cagli, J. Sune, E. Miranda
Publicado en:
IEEE Electron Device Letters, Edición 39/5, 2018, Página(s) 656-659, ISSN 0741-3106
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2018.2822047
Autores:
Gilbert Sassine, Cécile Nail, Philippe Blaise, Benoit Sklenard, Mathieu Bernard, Rémy Gassilloud, Aurélie Marty, Marc Veillerot, Christophe Vallée, Etienne Nowak, Gabriel Molas
Publicado en:
Advanced Electronic Materials, Edición 5/2, 2019, Página(s) 1800658, ISSN 2199-160X
Editor:
Advanced Electronic Materials 2019
DOI:
10.1002/aelm.201800658
Autores:
Anthonin Verdy, Francesco d'Acapito, Jean-Baptiste Dory, Gabriele Navarro, Mathieu Bernard, Pierre Noé
Publicado en:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 2019, Página(s) 1900548, ISSN 1862-6254
Editor:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.201900548
Autores:
C. Charpin-Nicolle, M. Bonvalot, R. Sommer, A. Persico, M.L. Cordeau, S. Belahcen, B. Eychenne, Ph. Blaise, S. Martinie, S. Bernasconi, E. Jalaguier, E. Nowak
Publicado en:
Microelectronic Engineering, 2019, Página(s) 111194, ISSN 0167-9317
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2019.111194
Autores:
Stefan Petzold, Alexander Zintler, Robert Eilhardt, Eszter Piros, Nico Kaiser, Sankaramangalam Ulhas Sharath, Tobias Vogel, Márton Major, Keith Patrick McKenna, Leopoldo Molina‐Luna, Lambert Alff
Publicado en:
Advanced Electronic Materials, Edición 5/10, 2019, Página(s) 1900484, ISSN 2199-160X
Editor:
WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim
DOI:
10.1002/aelm.201900484
Autores:
S. Petzold, E. Miranda, S. U. Sharath, J. Muñoz-Gorriz, T. Vogel, E. Piros, N. Kaiser, R. Eilhardt, A. Zintler, L. Molina-Luna, J. Suñé, L. Alff
Publicado en:
Journal of Applied Physics, Edición 125/23, 2019, Página(s) 234503, ISSN 0021-8979
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5094864
Autores:
Stefan Petzold, Eszter Piros, S U Sharath, Alexander Zintler, Erwin Hildebrandt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Lambert Alff
Publicado en:
Semiconductor Science and Technology, Edición 34/7, 2019, Página(s) 075008, ISSN 0268-1242
Editor:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/ab220f
Autores:
Marta Pedró, Javier Martín-Martínez, Marcos Maestro-Izquierdo, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafría
Publicado en:
Materials, Edición 12/21, 2019, Página(s) 3482, ISSN 1996-1944
Editor:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12213482
Autores:
Agustín Cisternas Ferri, Alan Rapoport, Pablo I. Fierens, German A. Patterson, Enrique Miranda, Jordi Suñé
Publicado en:
Materials, Edición 12/14, 2019, Página(s) 2260, ISSN 1996-1944
Editor:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12142260
Autores:
Fernando Leonel Aguirre, Alberto Rodriguez-Fernandez, Sebastian Matias Pazos, Jordi Sune, Enrique Miranda, Felix Palumbo
Publicado en:
IEEE Transactions on Electron Devices, Edición 66/8, 2019, Página(s) 3349-3355, ISSN 0018-9383
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TED.2019.2922555
Autores:
E. Miranda, A. Morell, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé
Publicado en:
Microelectronics Reliability, Edición 100-101, 2019, Página(s) 113327, ISSN 0026-2714
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.019
Autores:
Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Norman Vogel, Dirk Utess, Beate Volkmann, Tarek Ali, Ricardo Olivo, Johannes Müller, Sven Beyer, Martin Trentzsch, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Publicado en:
Nanomaterials, Edición 10/2, 2020, Página(s) 384, ISSN 2079-4991
Editor:
MDPI
DOI:
10.3390/nano10020384
Autores:
David Lehninger, Ricardo Olivo, Tarek Ali, Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Clemens Mart, Kati Biedermann, Kati Kühnel, Lisa Roy, Mahsa Kalkani, Konrad Seidel
Publicado en:
physica status solidi (a), Edición 217/8, 2020, Página(s) 1900840, ISSN 1862-6300
Editor:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/pssa.201900840
Autores:
Enrique Miranda, Jordi Suñé
Publicado en:
Materials, Edición 13/4, 2020, Página(s) 938, ISSN 1996-1944
Editor:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma13040938
Autores:
M. Lederer, T. Kämpfe, R. Olivo, D. Lehninger, C. Mart, S. Kirbach, T. Ali, P. Polakowski, L. Roy, and K. Seidel
Publicado en:
Appl. Phys. Lett., 2019, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5129318
Autores:
Fernando Leonel Aguirre, Sebastian Matias Pazos, Felix Palumbo, Jordi Sune, Enrique Miranda
Publicado en:
IEEE Access, Edición 8, 2020, Página(s) 202174-202193, ISSN 2169-3536
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/access.2020.3035638
Autores:
Maximilian Lederer, Ricardo Olivo, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Thomas Kämpfe, Sven Kirbach, Clemens Mart, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Publicado en:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, Edición 15/5, 2021, Página(s) 2100086, ISSN 1862-6254
Editor:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.202100086
Autores:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Guillaume Bourgeois, Chiara Sabbione, Niccolo' Castellani, Olga Cueto, Marie-Claire Cyrille, Mathieu Bernard, Julien Garrione, Nicolas Bernier, Christophe Vallee, Sylvain David, Christelle Charpin-Nicolle, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Publicado en:
IEEE Transactions on Electron Devices, Edición 68/2, 2021, Página(s) 535-540, ISSN 0018-9383
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3044267
Autores:
T. Kampfe, T. Vogel, R. Olivo, M. Lederer, N. Kaiser, S. Petzold, T. Ali, D. Lehninger, C. Trautmann, L. Alff, K. Seidel
Publicado en:
2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020, Página(s) 1-3, ISBN 978-1-7281-6430-4
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ifcs-isaf41089.2020.9234942
Autores:
M. N. Kalkani et al.
Publicado en:
2019
Editor:
International Symposium on Integrated Functionalities (ISIF), Dublin, 2019
Autores:
C. Laguna, N. Castellani, M. Bernard, N. Rochat, D. Rouchon, C. Sabbione, J. Garrione, E. Nolot, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Publicado en:
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2020, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-6306-2
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/imw48823.2020.9108130
Autores:
C. Laguna, M. Bernard, N. Bernier, D. Rouchon, N. Rochat, J. Garrione, A. Jannaud, E. Nolot, V. Meli, N. Castellani, C. Sabbione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Publicado en:
2021 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2021, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-8517-0
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/imw51353.2021.9439590
Autores:
N.-P. Tran, J. Sandrini, A. Persico, J.-F. Nodin, T. Magis, R. Crochemore, N. Castellani, M.-C. Cyrille, G. Molas, E. Nowak
Publicado en:
2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, Página(s) 33-34, ISBN 978-1-7281-4232-6
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-tsa48913.2020.9203694
Autores:
A.L. Serra, T. Vogel, G. Lefèvre, S. Petzold, N. Kaiser, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, L. Alff, C. Trautmann, C. Vallée, D. Sylvain, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro and E. Nowak
Publicado en:
RADECS 2020, 2020
Editor:
IEEE
Autores:
Cinkaya, A.S.A. Hasekioğlu, Z.E.Kaya, S. Kalem, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro, N. Guillaume, M.C. Cyrille, G. Bourgeois, J. Garrione, E. Nowak
Publicado en:
2019
Editor:
EUROSOI-ULIS conference (31/08-04/09/2020, Caen, France)https://eurosoiulis2020.sciencesconf.org/
Autores:
Maximilian Lederer, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Andre Reck, Ricardo Olivo, Thomas Kampfe, Konrad Seidel
Publicado en:
2021 IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF), 2021, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-6654-0444-0
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/isaf51943.2021.9477392
Autores:
Ivan Miro-Panades, Benoit Tain, Jean-Frederic Christmann, David Coriat, Romain Lemaire, Clement Jany, Baudouin Martineau, Fabrice Chaix, Anthony Quelen, Emmanuel Pluchart, Jean-Philippe Noel, Reda Boumchedda, Adam Makosiej, Maxime Montoya, Simone Bacles-Min, David Briand, Jean-Marc Philippe, Alexandre Valentian, Frederic Heitzmann, Edith Beigne, Fabien Clermidy
Publicado en:
2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits, 2020, Página(s) 1-2, ISBN 978-1-7281-9942-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsicircuits18222.2020.9163000
Autores:
Corentin Pigot, Fabien Gilibert, Marina Reyboz, Marc Bocquet, Jean-Michel Portal
Publicado en:
2018 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2018, Página(s) 190-193, ISBN 978-1-5386-6790-3
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/SISPAD.2018.8551654
Autores:
M. C. Cyrille, A. Verdy, G. Navarro, G. Bourgeois, J. Garrione, M. Bernard, C. Sabbione, P. Noe, E. Nowak
Publicado en:
2018 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT), 2018, Página(s) 113-116, ISBN 978-1-5386-2550-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ICICDT.2018.8399769
Autores:
Gilbert Sassine, Diego Alfaro Robayo, Cecile Nail, Jean-Francois Nodin, Jean Coignus, Gabriel Molas, Etienne Nowak
Publicado en:
2018 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2018, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-5386-5247-3
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/IMW.2018.8388843
Autores:
A. Verdy, M. Bernard, N. Castellani, P. Noé, F. D’Acapito, J. Garrione, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, G. Navarro
Publicado en:
ePCOS, 2019
Editor:
CEA
Autores:
T. Francois, J. Coignus, L. Grenouillet, J.P. Barnes, N. Vaxelaire, J. Ferrand, I. Bottala-Gambetta, M. Gros-Jean, S. Jeannot, P. Boivin, P. Chiquet, M. Bocquet, E. Nowak, F. Gaillard
Publicado en:
2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW), 2019, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-0981-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/imw.2019.8739664
Autores:
G. Bourgeois, M. C. Cyrille, J. Garrione, C. Sabbione, M. Bernard, E. Nolot, G. Navarro and E. Nowak
Publicado en:
AVS 66th International Symposium & Exhibition, 2019
Editor:
American Vacuum Society
Autores:
N. Guillaume, M. Azzaz, S. Blonkowski, E. Jalaguier, P. Gonon, C. Vallée, T. Blomberg, M. Tuominen, H. Spreys, S. Bernasconi, C. Charpin-Nicolle, E. Nowak
Publicado en:
SSDM2019, 2019
Editor:
SSDM
Autores:
S. Niel, F. La Rosa, A. Regnier, M. Mantelli, F. Trenteseaux, G. Ghezzi, A. Marzaki, Q. Hubert, J. Delalleau, T. Cabout, F. Maugain, E. Lepape, L. Baron, A. Champenois, D. Galpin, N. Cherault, S. Audran, L. Parmigiani, P. Gouraud, B. Duclaux, Y. Escarabajal, F. Baudin, E. Beche, B. Saidi, V. Arnal
Publicado en:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Edición 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Página(s) 7.4.1-7.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614517
Autores:
F. Arnaud, P. Zuliani, J.P. Reynard, A. Gandolfo, F. Disegni, P. Mattavelli, E. Gomiero, G. Samanni, C. Jahan, R. Berthelon, O. Weber, E. Richard, V. Barral, A. Villaret, S. Kohler, J.C. Grenier, R. Ranica, C. Gallon, A. Souhaite, D. Ristoiu, L. Favennec, V. Caubet, S. Delmedico, N. Cherault, R. Beneyton, S. Chouteau, P.O. Sassoulas, A. Vernhet, Y. Le Friec, F. Domengie, L. Scotti, D. Pacelli, J.L
Publicado en:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Edición 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Página(s) 18.4.1-18.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614595
Autores:
A. Verdy, M. Bernard, J. Garrione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, E. Nolot, N. Castellani, P. Noe, C. Socquet-Clerc, T. Magis, G. Sassine, G. Molas, G. Navarro, E. Nowak
Publicado en:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Edición IEDM, San Francisco, 2018, Página(s) 37.4.1-37.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614686
Autores:
D. Alfaro Robayo, G. Sassine, J. Minguet Lopez, L. Grenouillet, A. Verdy, G. Navarro, M. Bernard, E. Esmanhotto, C. Carabasse, E. Vianello, N. Castellani, L. Ciampolini, B. Giraud, C. Cagli, G. Guibaudo, E. Nowak, G. Molas
Publicado en:
2019
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993439
Autores:
J. Sandrini, M. Barlas, J. F. Nodin, O. Billoint, G. Molas, R. Fournel, E. Nowak, F. Gaillard, C. Cagli, L. Grenouillet, V. Meli, N. Castellani, I. Hammad, S. Bernasconi, F. Aussenac, S. Van Duijn, G. Audoit
Publicado en:
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, Página(s) 30.5.1-30.5.4, ISBN 978-1-7281-4032-2
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993484
Autores:
G. Lama, M. Bernard, N. Bernier, G. Bourgeois, E. Nolot, N. Castellani, J. Garrione, M. C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Publicado en:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Página(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405116
Autores:
J. Minguet Lopez, L. Hudeley, L. Grenouillet, D. Alfaro Robayo, J. Sandrini, G. Navarro, M. Bernard, C. Carabasse, D. Deleruyelle, N. Castellani, M. Bocquet, J. M. Portal, E. Nowak, G. Molas
Publicado en:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Página(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405195
Autores:
R. Eilhardt, A. Zintler, O. Ricalde, S. Petzold, L. Alff, und L. Molina-Luna
Publicado en:
2019
Editor:
MRS Fall 2019 (Boston)
Autores:
Petzold, Stefan
Publicado en:
Edición 2, 2020
Editor:
Darmstadt, Technische Universität
DOI:
10.25534/tuprints-00011328
Autores:
Jordi Suñé
Publicado en:
2020, ISBN 978-3-03928-576-1
Editor:
MDPI
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