Publikacje
Autorzy:
Stefan Petzold, Eszter Piros, Robert Eilhardt, Alexander Zintler, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Aldin Radetinac, Philipp Komissinskiy, Eric Jalaguier, Emmanuel Nolot, Christelle Charpin‐Nicolle, Christian Wenger, Leopoldo Molina‐Luna, Enrique Miranda, Lambert Alff
Opublikowane w:
Advanced Electronic Materials, Numer 6/11, 2020, Strona(/y) 2000439, ISSN 2199-160X
Wydawca:
Wiley Online Library
DOI:
10.1002/aelm.202000439
Autorzy:
David Lehninger, Konstantin Mertens, Lukas Gerlich, Maximilian Lederer, Tarek Ali, Konrad Seidel
Opublikowane w:
MRS Advances, Numer 6/21, 2021, Strona(/y) 535-539, ISSN 2059-8521
Wydawca:
Springer
DOI:
10.1557/s43580-021-00118-w
Autorzy:
Hatun Cinkaya, Adil Ozturk, Arif Sirri Atilla Hasekioğlu, Zahit Evren Kaya, Seref Kalem, Christelle Charpin-Nicolle, Guillaume Bourgeois, Nicolas Guillaume, Marie Claire.Cyrille, Julien Garrione, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, Numer 185, 2021, Strona(/y) 108101, ISSN 0038-1101
Wydawca:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108101
Autorzy:
Tobias Vogel, Nico Kaiser, Stefan Petzold, Eszter Piros, Nicolas Guillaume, Gauthier Lefevre, Christelle Charpin-Nicolle, Sylvain David, Christophe Vallee, Etienne Nowak, Christina Trautmann, Lambert Alff
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Numer 68/8, 2021, Strona(/y) 1542-1547, ISSN 0018-9499
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tns.2021.3085962
Autorzy:
Eszter Piros, Martin Lonsky, Stefan Petzold, Alexander Zintler, S.U. Sharath, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Robert Eilhardt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Jens Müller, Lambert Alff
Opublikowane w:
Physical Review Applied, Numer 14/3, 2020, ISSN 2331-7019
Wydawca:
American Physical society
DOI:
10.1103/physrevapplied.14.034029
Autorzy:
Eszter Piros, Stefan Petzold, Alexander Zintler, Nico Kaiser, Tobias Vogel, Robert Eilhardt, Christian Wenger, Leopoldo Molina-Luna, Lambert Alff
Opublikowane w:
Applied Physics Letters, Numer 117/1, 2020, Strona(/y) 013504, ISSN 0003-6951
Wydawca:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0009645
Autorzy:
Fernando Leonel Aguirre, Nicolás M. Gomez, Sebastián Matías Pazos, Félix Palumbo, Jordi Suñé, Enrique Miranda
Opublikowane w:
Journal of Low Power Electronics and Applications, Numer 11/1, 2021, Strona(/y) 9, ISSN 2079-9268
Wydawca:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/jlpea11010009
Autorzy:
G. Lama, G. Bourgeois, M. Bernard, N. Castellani, J. Sandrini, E. Nolot, J. Garrione, M.C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Opublikowane w:
Microelectronics Reliability, Numer 114, 2020, Strona(/y) 113823, ISSN 0026-2714
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113823
Autorzy:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Olga Cueto, Guillaume Bourgeois, Marie Claire Cyrille, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, Numer 186, 2021, Strona(/y) 108111, ISSN 0038-1101
Wydawca:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108111
Autorzy:
A. Rodriguez-Fernandez, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé, E. Miranda
Opublikowane w:
Microelectronics Reliability, Numer 88-90, 2018, Strona(/y) 142-146, ISSN 0026-2714
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.06.120
Autorzy:
A. Rodriguez-Fernandez, C. Cagli, J. Sune, E. Miranda
Opublikowane w:
IEEE Electron Device Letters, Numer 39/5, 2018, Strona(/y) 656-659, ISSN 0741-3106
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2018.2822047
Autorzy:
Gilbert Sassine, Cécile Nail, Philippe Blaise, Benoit Sklenard, Mathieu Bernard, Rémy Gassilloud, Aurélie Marty, Marc Veillerot, Christophe Vallée, Etienne Nowak, Gabriel Molas
Opublikowane w:
Advanced Electronic Materials, Numer 5/2, 2019, Strona(/y) 1800658, ISSN 2199-160X
Wydawca:
Advanced Electronic Materials 2019
DOI:
10.1002/aelm.201800658
Autorzy:
Anthonin Verdy, Francesco d'Acapito, Jean-Baptiste Dory, Gabriele Navarro, Mathieu Bernard, Pierre Noé
Opublikowane w:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 2019, Strona(/y) 1900548, ISSN 1862-6254
Wydawca:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.201900548
Autorzy:
C. Charpin-Nicolle, M. Bonvalot, R. Sommer, A. Persico, M.L. Cordeau, S. Belahcen, B. Eychenne, Ph. Blaise, S. Martinie, S. Bernasconi, E. Jalaguier, E. Nowak
Opublikowane w:
Microelectronic Engineering, 2019, Strona(/y) 111194, ISSN 0167-9317
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2019.111194
Autorzy:
Stefan Petzold, Alexander Zintler, Robert Eilhardt, Eszter Piros, Nico Kaiser, Sankaramangalam Ulhas Sharath, Tobias Vogel, Márton Major, Keith Patrick McKenna, Leopoldo Molina‐Luna, Lambert Alff
Opublikowane w:
Advanced Electronic Materials, Numer 5/10, 2019, Strona(/y) 1900484, ISSN 2199-160X
Wydawca:
WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim
DOI:
10.1002/aelm.201900484
Autorzy:
S. Petzold, E. Miranda, S. U. Sharath, J. Muñoz-Gorriz, T. Vogel, E. Piros, N. Kaiser, R. Eilhardt, A. Zintler, L. Molina-Luna, J. Suñé, L. Alff
Opublikowane w:
Journal of Applied Physics, Numer 125/23, 2019, Strona(/y) 234503, ISSN 0021-8979
Wydawca:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5094864
Autorzy:
Stefan Petzold, Eszter Piros, S U Sharath, Alexander Zintler, Erwin Hildebrandt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Lambert Alff
Opublikowane w:
Semiconductor Science and Technology, Numer 34/7, 2019, Strona(/y) 075008, ISSN 0268-1242
Wydawca:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/ab220f
Autorzy:
Marta Pedró, Javier Martín-Martínez, Marcos Maestro-Izquierdo, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafría
Opublikowane w:
Materials, Numer 12/21, 2019, Strona(/y) 3482, ISSN 1996-1944
Wydawca:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12213482
Autorzy:
Agustín Cisternas Ferri, Alan Rapoport, Pablo I. Fierens, German A. Patterson, Enrique Miranda, Jordi Suñé
Opublikowane w:
Materials, Numer 12/14, 2019, Strona(/y) 2260, ISSN 1996-1944
Wydawca:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12142260
Autorzy:
Fernando Leonel Aguirre, Alberto Rodriguez-Fernandez, Sebastian Matias Pazos, Jordi Sune, Enrique Miranda, Felix Palumbo
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numer 66/8, 2019, Strona(/y) 3349-3355, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TED.2019.2922555
Autorzy:
E. Miranda, A. Morell, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé
Opublikowane w:
Microelectronics Reliability, Numer 100-101, 2019, Strona(/y) 113327, ISSN 0026-2714
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.019
Autorzy:
Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Norman Vogel, Dirk Utess, Beate Volkmann, Tarek Ali, Ricardo Olivo, Johannes Müller, Sven Beyer, Martin Trentzsch, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Opublikowane w:
Nanomaterials, Numer 10/2, 2020, Strona(/y) 384, ISSN 2079-4991
Wydawca:
MDPI
DOI:
10.3390/nano10020384
Autorzy:
David Lehninger, Ricardo Olivo, Tarek Ali, Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Clemens Mart, Kati Biedermann, Kati Kühnel, Lisa Roy, Mahsa Kalkani, Konrad Seidel
Opublikowane w:
physica status solidi (a), Numer 217/8, 2020, Strona(/y) 1900840, ISSN 1862-6300
Wydawca:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/pssa.201900840
Autorzy:
Enrique Miranda, Jordi Suñé
Opublikowane w:
Materials, Numer 13/4, 2020, Strona(/y) 938, ISSN 1996-1944
Wydawca:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma13040938
Autorzy:
M. Lederer, T. Kämpfe, R. Olivo, D. Lehninger, C. Mart, S. Kirbach, T. Ali, P. Polakowski, L. Roy, and K. Seidel
Opublikowane w:
Appl. Phys. Lett., 2019, ISSN 0003-6951
Wydawca:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5129318
Autorzy:
Fernando Leonel Aguirre, Sebastian Matias Pazos, Felix Palumbo, Jordi Sune, Enrique Miranda
Opublikowane w:
IEEE Access, Numer 8, 2020, Strona(/y) 202174-202193, ISSN 2169-3536
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/access.2020.3035638
Autorzy:
Maximilian Lederer, Ricardo Olivo, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Thomas Kämpfe, Sven Kirbach, Clemens Mart, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Opublikowane w:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, Numer 15/5, 2021, Strona(/y) 2100086, ISSN 1862-6254
Wydawca:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.202100086
Autorzy:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Guillaume Bourgeois, Chiara Sabbione, Niccolo' Castellani, Olga Cueto, Marie-Claire Cyrille, Mathieu Bernard, Julien Garrione, Nicolas Bernier, Christophe Vallee, Sylvain David, Christelle Charpin-Nicolle, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numer 68/2, 2021, Strona(/y) 535-540, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3044267
Autorzy:
T. Kampfe, T. Vogel, R. Olivo, M. Lederer, N. Kaiser, S. Petzold, T. Ali, D. Lehninger, C. Trautmann, L. Alff, K. Seidel
Opublikowane w:
2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020, Strona(/y) 1-3, ISBN 978-1-7281-6430-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ifcs-isaf41089.2020.9234942
Autorzy:
M. N. Kalkani et al.
Opublikowane w:
2019
Wydawca:
International Symposium on Integrated Functionalities (ISIF), Dublin, 2019
Autorzy:
C. Laguna, N. Castellani, M. Bernard, N. Rochat, D. Rouchon, C. Sabbione, J. Garrione, E. Nolot, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Opublikowane w:
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2020, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-7281-6306-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/imw48823.2020.9108130
Autorzy:
C. Laguna, M. Bernard, N. Bernier, D. Rouchon, N. Rochat, J. Garrione, A. Jannaud, E. Nolot, V. Meli, N. Castellani, C. Sabbione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Opublikowane w:
2021 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2021, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-7281-8517-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/imw51353.2021.9439590
Autorzy:
N.-P. Tran, J. Sandrini, A. Persico, J.-F. Nodin, T. Magis, R. Crochemore, N. Castellani, M.-C. Cyrille, G. Molas, E. Nowak
Opublikowane w:
2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, Strona(/y) 33-34, ISBN 978-1-7281-4232-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-tsa48913.2020.9203694
Autorzy:
A.L. Serra, T. Vogel, G. Lefèvre, S. Petzold, N. Kaiser, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, L. Alff, C. Trautmann, C. Vallée, D. Sylvain, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro and E. Nowak
Opublikowane w:
RADECS 2020, 2020
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Cinkaya, A.S.A. Hasekioğlu, Z.E.Kaya, S. Kalem, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro, N. Guillaume, M.C. Cyrille, G. Bourgeois, J. Garrione, E. Nowak
Opublikowane w:
2019
Wydawca:
EUROSOI-ULIS conference (31/08-04/09/2020, Caen, France)https://eurosoiulis2020.sciencesconf.org/
Autorzy:
Maximilian Lederer, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Andre Reck, Ricardo Olivo, Thomas Kampfe, Konrad Seidel
Opublikowane w:
2021 IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF), 2021, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-6654-0444-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/isaf51943.2021.9477392
Autorzy:
Ivan Miro-Panades, Benoit Tain, Jean-Frederic Christmann, David Coriat, Romain Lemaire, Clement Jany, Baudouin Martineau, Fabrice Chaix, Anthony Quelen, Emmanuel Pluchart, Jean-Philippe Noel, Reda Boumchedda, Adam Makosiej, Maxime Montoya, Simone Bacles-Min, David Briand, Jean-Marc Philippe, Alexandre Valentian, Frederic Heitzmann, Edith Beigne, Fabien Clermidy
Opublikowane w:
2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits, 2020, Strona(/y) 1-2, ISBN 978-1-7281-9942-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsicircuits18222.2020.9163000
Autorzy:
Corentin Pigot, Fabien Gilibert, Marina Reyboz, Marc Bocquet, Jean-Michel Portal
Opublikowane w:
2018 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2018, Strona(/y) 190-193, ISBN 978-1-5386-6790-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/SISPAD.2018.8551654
Autorzy:
M. C. Cyrille, A. Verdy, G. Navarro, G. Bourgeois, J. Garrione, M. Bernard, C. Sabbione, P. Noe, E. Nowak
Opublikowane w:
2018 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT), 2018, Strona(/y) 113-116, ISBN 978-1-5386-2550-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ICICDT.2018.8399769
Autorzy:
Gilbert Sassine, Diego Alfaro Robayo, Cecile Nail, Jean-Francois Nodin, Jean Coignus, Gabriel Molas, Etienne Nowak
Opublikowane w:
2018 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2018, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5386-5247-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/IMW.2018.8388843
Autorzy:
A. Verdy, M. Bernard, N. Castellani, P. Noé, F. D’Acapito, J. Garrione, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, G. Navarro
Opublikowane w:
ePCOS, 2019
Wydawca:
CEA
Autorzy:
T. Francois, J. Coignus, L. Grenouillet, J.P. Barnes, N. Vaxelaire, J. Ferrand, I. Bottala-Gambetta, M. Gros-Jean, S. Jeannot, P. Boivin, P. Chiquet, M. Bocquet, E. Nowak, F. Gaillard
Opublikowane w:
2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW), 2019, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-7281-0981-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/imw.2019.8739664
Autorzy:
G. Bourgeois, M. C. Cyrille, J. Garrione, C. Sabbione, M. Bernard, E. Nolot, G. Navarro and E. Nowak
Opublikowane w:
AVS 66th International Symposium & Exhibition, 2019
Wydawca:
American Vacuum Society
Autorzy:
N. Guillaume, M. Azzaz, S. Blonkowski, E. Jalaguier, P. Gonon, C. Vallée, T. Blomberg, M. Tuominen, H. Spreys, S. Bernasconi, C. Charpin-Nicolle, E. Nowak
Opublikowane w:
SSDM2019, 2019
Wydawca:
SSDM
Autorzy:
S. Niel, F. La Rosa, A. Regnier, M. Mantelli, F. Trenteseaux, G. Ghezzi, A. Marzaki, Q. Hubert, J. Delalleau, T. Cabout, F. Maugain, E. Lepape, L. Baron, A. Champenois, D. Galpin, N. Cherault, S. Audran, L. Parmigiani, P. Gouraud, B. Duclaux, Y. Escarabajal, F. Baudin, E. Beche, B. Saidi, V. Arnal
Opublikowane w:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numer 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Strona(/y) 7.4.1-7.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614517
Autorzy:
F. Arnaud, P. Zuliani, J.P. Reynard, A. Gandolfo, F. Disegni, P. Mattavelli, E. Gomiero, G. Samanni, C. Jahan, R. Berthelon, O. Weber, E. Richard, V. Barral, A. Villaret, S. Kohler, J.C. Grenier, R. Ranica, C. Gallon, A. Souhaite, D. Ristoiu, L. Favennec, V. Caubet, S. Delmedico, N. Cherault, R. Beneyton, S. Chouteau, P.O. Sassoulas, A. Vernhet, Y. Le Friec, F. Domengie, L. Scotti, D. Pacelli, J.L
Opublikowane w:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numer 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Strona(/y) 18.4.1-18.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614595
Autorzy:
A. Verdy, M. Bernard, J. Garrione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, E. Nolot, N. Castellani, P. Noe, C. Socquet-Clerc, T. Magis, G. Sassine, G. Molas, G. Navarro, E. Nowak
Opublikowane w:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numer IEDM, San Francisco, 2018, Strona(/y) 37.4.1-37.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614686
Autorzy:
D. Alfaro Robayo, G. Sassine, J. Minguet Lopez, L. Grenouillet, A. Verdy, G. Navarro, M. Bernard, E. Esmanhotto, C. Carabasse, E. Vianello, N. Castellani, L. Ciampolini, B. Giraud, C. Cagli, G. Guibaudo, E. Nowak, G. Molas
Opublikowane w:
2019
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993439
Autorzy:
J. Sandrini, M. Barlas, J. F. Nodin, O. Billoint, G. Molas, R. Fournel, E. Nowak, F. Gaillard, C. Cagli, L. Grenouillet, V. Meli, N. Castellani, I. Hammad, S. Bernasconi, F. Aussenac, S. Van Duijn, G. Audoit
Opublikowane w:
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, Strona(/y) 30.5.1-30.5.4, ISBN 978-1-7281-4032-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993484
Autorzy:
G. Lama, M. Bernard, N. Bernier, G. Bourgeois, E. Nolot, N. Castellani, J. Garrione, M. C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Opublikowane w:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405116
Autorzy:
J. Minguet Lopez, L. Hudeley, L. Grenouillet, D. Alfaro Robayo, J. Sandrini, G. Navarro, M. Bernard, C. Carabasse, D. Deleruyelle, N. Castellani, M. Bocquet, J. M. Portal, E. Nowak, G. Molas
Opublikowane w:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405195
Autorzy:
R. Eilhardt, A. Zintler, O. Ricalde, S. Petzold, L. Alff, und L. Molina-Luna
Opublikowane w:
2019
Wydawca:
MRS Fall 2019 (Boston)
Autorzy:
Petzold, Stefan
Opublikowane w:
Numer 2, 2020
Wydawca:
Darmstadt, Technische Universität
DOI:
10.25534/tuprints-00011328
Autorzy:
Jordi Suñé
Opublikowane w:
2020, ISBN 978-3-03928-576-1
Wydawca:
MDPI
Wyszukiwanie danych OpenAIRE...
Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd
Brak wyników