Pubblicazioni
Autori:
Stefan Petzold, Eszter Piros, Robert Eilhardt, Alexander Zintler, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Aldin Radetinac, Philipp Komissinskiy, Eric Jalaguier, Emmanuel Nolot, Christelle Charpin‐Nicolle, Christian Wenger, Leopoldo Molina‐Luna, Enrique Miranda, Lambert Alff
Pubblicato in:
Advanced Electronic Materials, Numero 6/11, 2020, Pagina/e 2000439, ISSN 2199-160X
Editore:
Wiley Online Library
DOI:
10.1002/aelm.202000439
Autori:
David Lehninger, Konstantin Mertens, Lukas Gerlich, Maximilian Lederer, Tarek Ali, Konrad Seidel
Pubblicato in:
MRS Advances, Numero 6/21, 2021, Pagina/e 535-539, ISSN 2059-8521
Editore:
Springer
DOI:
10.1557/s43580-021-00118-w
Autori:
Hatun Cinkaya, Adil Ozturk, Arif Sirri Atilla Hasekioğlu, Zahit Evren Kaya, Seref Kalem, Christelle Charpin-Nicolle, Guillaume Bourgeois, Nicolas Guillaume, Marie Claire.Cyrille, Julien Garrione, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Pubblicato in:
Solid-State Electronics, Numero 185, 2021, Pagina/e 108101, ISSN 0038-1101
Editore:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108101
Autori:
Tobias Vogel, Nico Kaiser, Stefan Petzold, Eszter Piros, Nicolas Guillaume, Gauthier Lefevre, Christelle Charpin-Nicolle, Sylvain David, Christophe Vallee, Etienne Nowak, Christina Trautmann, Lambert Alff
Pubblicato in:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Numero 68/8, 2021, Pagina/e 1542-1547, ISSN 0018-9499
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tns.2021.3085962
Autori:
Eszter Piros, Martin Lonsky, Stefan Petzold, Alexander Zintler, S.U. Sharath, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Robert Eilhardt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Jens Müller, Lambert Alff
Pubblicato in:
Physical Review Applied, Numero 14/3, 2020, ISSN 2331-7019
Editore:
American Physical society
DOI:
10.1103/physrevapplied.14.034029
Autori:
Eszter Piros, Stefan Petzold, Alexander Zintler, Nico Kaiser, Tobias Vogel, Robert Eilhardt, Christian Wenger, Leopoldo Molina-Luna, Lambert Alff
Pubblicato in:
Applied Physics Letters, Numero 117/1, 2020, Pagina/e 013504, ISSN 0003-6951
Editore:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0009645
Autori:
Fernando Leonel Aguirre, Nicolás M. Gomez, Sebastián Matías Pazos, Félix Palumbo, Jordi Suñé, Enrique Miranda
Pubblicato in:
Journal of Low Power Electronics and Applications, Numero 11/1, 2021, Pagina/e 9, ISSN 2079-9268
Editore:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/jlpea11010009
Autori:
G. Lama, G. Bourgeois, M. Bernard, N. Castellani, J. Sandrini, E. Nolot, J. Garrione, M.C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Pubblicato in:
Microelectronics Reliability, Numero 114, 2020, Pagina/e 113823, ISSN 0026-2714
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113823
Autori:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Olga Cueto, Guillaume Bourgeois, Marie Claire Cyrille, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Pubblicato in:
Solid-State Electronics, Numero 186, 2021, Pagina/e 108111, ISSN 0038-1101
Editore:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108111
Autori:
A. Rodriguez-Fernandez, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé, E. Miranda
Pubblicato in:
Microelectronics Reliability, Numero 88-90, 2018, Pagina/e 142-146, ISSN 0026-2714
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.06.120
Autori:
A. Rodriguez-Fernandez, C. Cagli, J. Sune, E. Miranda
Pubblicato in:
IEEE Electron Device Letters, Numero 39/5, 2018, Pagina/e 656-659, ISSN 0741-3106
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2018.2822047
Autori:
Gilbert Sassine, Cécile Nail, Philippe Blaise, Benoit Sklenard, Mathieu Bernard, Rémy Gassilloud, Aurélie Marty, Marc Veillerot, Christophe Vallée, Etienne Nowak, Gabriel Molas
Pubblicato in:
Advanced Electronic Materials, Numero 5/2, 2019, Pagina/e 1800658, ISSN 2199-160X
Editore:
Advanced Electronic Materials 2019
DOI:
10.1002/aelm.201800658
Autori:
Anthonin Verdy, Francesco d'Acapito, Jean-Baptiste Dory, Gabriele Navarro, Mathieu Bernard, Pierre Noé
Pubblicato in:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 2019, Pagina/e 1900548, ISSN 1862-6254
Editore:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.201900548
Autori:
C. Charpin-Nicolle, M. Bonvalot, R. Sommer, A. Persico, M.L. Cordeau, S. Belahcen, B. Eychenne, Ph. Blaise, S. Martinie, S. Bernasconi, E. Jalaguier, E. Nowak
Pubblicato in:
Microelectronic Engineering, 2019, Pagina/e 111194, ISSN 0167-9317
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2019.111194
Autori:
Stefan Petzold, Alexander Zintler, Robert Eilhardt, Eszter Piros, Nico Kaiser, Sankaramangalam Ulhas Sharath, Tobias Vogel, Márton Major, Keith Patrick McKenna, Leopoldo Molina‐Luna, Lambert Alff
Pubblicato in:
Advanced Electronic Materials, Numero 5/10, 2019, Pagina/e 1900484, ISSN 2199-160X
Editore:
WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim
DOI:
10.1002/aelm.201900484
Autori:
S. Petzold, E. Miranda, S. U. Sharath, J. Muñoz-Gorriz, T. Vogel, E. Piros, N. Kaiser, R. Eilhardt, A. Zintler, L. Molina-Luna, J. Suñé, L. Alff
Pubblicato in:
Journal of Applied Physics, Numero 125/23, 2019, Pagina/e 234503, ISSN 0021-8979
Editore:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5094864
Autori:
Stefan Petzold, Eszter Piros, S U Sharath, Alexander Zintler, Erwin Hildebrandt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Lambert Alff
Pubblicato in:
Semiconductor Science and Technology, Numero 34/7, 2019, Pagina/e 075008, ISSN 0268-1242
Editore:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/ab220f
Autori:
Marta Pedró, Javier Martín-Martínez, Marcos Maestro-Izquierdo, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafría
Pubblicato in:
Materials, Numero 12/21, 2019, Pagina/e 3482, ISSN 1996-1944
Editore:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12213482
Autori:
Agustín Cisternas Ferri, Alan Rapoport, Pablo I. Fierens, German A. Patterson, Enrique Miranda, Jordi Suñé
Pubblicato in:
Materials, Numero 12/14, 2019, Pagina/e 2260, ISSN 1996-1944
Editore:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12142260
Autori:
Fernando Leonel Aguirre, Alberto Rodriguez-Fernandez, Sebastian Matias Pazos, Jordi Sune, Enrique Miranda, Felix Palumbo
Pubblicato in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numero 66/8, 2019, Pagina/e 3349-3355, ISSN 0018-9383
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TED.2019.2922555
Autori:
E. Miranda, A. Morell, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé
Pubblicato in:
Microelectronics Reliability, Numero 100-101, 2019, Pagina/e 113327, ISSN 0026-2714
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.019
Autori:
Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Norman Vogel, Dirk Utess, Beate Volkmann, Tarek Ali, Ricardo Olivo, Johannes Müller, Sven Beyer, Martin Trentzsch, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Pubblicato in:
Nanomaterials, Numero 10/2, 2020, Pagina/e 384, ISSN 2079-4991
Editore:
MDPI
DOI:
10.3390/nano10020384
Autori:
David Lehninger, Ricardo Olivo, Tarek Ali, Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Clemens Mart, Kati Biedermann, Kati Kühnel, Lisa Roy, Mahsa Kalkani, Konrad Seidel
Pubblicato in:
physica status solidi (a), Numero 217/8, 2020, Pagina/e 1900840, ISSN 1862-6300
Editore:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/pssa.201900840
Autori:
Enrique Miranda, Jordi Suñé
Pubblicato in:
Materials, Numero 13/4, 2020, Pagina/e 938, ISSN 1996-1944
Editore:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma13040938
Autori:
M. Lederer, T. Kämpfe, R. Olivo, D. Lehninger, C. Mart, S. Kirbach, T. Ali, P. Polakowski, L. Roy, and K. Seidel
Pubblicato in:
Appl. Phys. Lett., 2019, ISSN 0003-6951
Editore:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5129318
Autori:
Fernando Leonel Aguirre, Sebastian Matias Pazos, Felix Palumbo, Jordi Sune, Enrique Miranda
Pubblicato in:
IEEE Access, Numero 8, 2020, Pagina/e 202174-202193, ISSN 2169-3536
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/access.2020.3035638
Autori:
Maximilian Lederer, Ricardo Olivo, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Thomas Kämpfe, Sven Kirbach, Clemens Mart, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Pubblicato in:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, Numero 15/5, 2021, Pagina/e 2100086, ISSN 1862-6254
Editore:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.202100086
Autori:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Guillaume Bourgeois, Chiara Sabbione, Niccolo' Castellani, Olga Cueto, Marie-Claire Cyrille, Mathieu Bernard, Julien Garrione, Nicolas Bernier, Christophe Vallee, Sylvain David, Christelle Charpin-Nicolle, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Pubblicato in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numero 68/2, 2021, Pagina/e 535-540, ISSN 0018-9383
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3044267
Autori:
T. Kampfe, T. Vogel, R. Olivo, M. Lederer, N. Kaiser, S. Petzold, T. Ali, D. Lehninger, C. Trautmann, L. Alff, K. Seidel
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2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020, Pagina/e 1-3, ISBN 978-1-7281-6430-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ifcs-isaf41089.2020.9234942
Autori:
M. N. Kalkani et al.
Pubblicato in:
2019
Editore:
International Symposium on Integrated Functionalities (ISIF), Dublin, 2019
Autori:
C. Laguna, N. Castellani, M. Bernard, N. Rochat, D. Rouchon, C. Sabbione, J. Garrione, E. Nolot, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Pubblicato in:
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2020, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-7281-6306-2
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/imw48823.2020.9108130
Autori:
C. Laguna, M. Bernard, N. Bernier, D. Rouchon, N. Rochat, J. Garrione, A. Jannaud, E. Nolot, V. Meli, N. Castellani, C. Sabbione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
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2021 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2021, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-7281-8517-0
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/imw51353.2021.9439590
Autori:
N.-P. Tran, J. Sandrini, A. Persico, J.-F. Nodin, T. Magis, R. Crochemore, N. Castellani, M.-C. Cyrille, G. Molas, E. Nowak
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2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, Pagina/e 33-34, ISBN 978-1-7281-4232-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-tsa48913.2020.9203694
Autori:
A.L. Serra, T. Vogel, G. Lefèvre, S. Petzold, N. Kaiser, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, L. Alff, C. Trautmann, C. Vallée, D. Sylvain, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro and E. Nowak
Pubblicato in:
RADECS 2020, 2020
Editore:
IEEE
Autori:
Cinkaya, A.S.A. Hasekioğlu, Z.E.Kaya, S. Kalem, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro, N. Guillaume, M.C. Cyrille, G. Bourgeois, J. Garrione, E. Nowak
Pubblicato in:
2019
Editore:
EUROSOI-ULIS conference (31/08-04/09/2020, Caen, France)https://eurosoiulis2020.sciencesconf.org/
Autori:
Maximilian Lederer, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Andre Reck, Ricardo Olivo, Thomas Kampfe, Konrad Seidel
Pubblicato in:
2021 IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF), 2021, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-6654-0444-0
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/isaf51943.2021.9477392
Autori:
Ivan Miro-Panades, Benoit Tain, Jean-Frederic Christmann, David Coriat, Romain Lemaire, Clement Jany, Baudouin Martineau, Fabrice Chaix, Anthony Quelen, Emmanuel Pluchart, Jean-Philippe Noel, Reda Boumchedda, Adam Makosiej, Maxime Montoya, Simone Bacles-Min, David Briand, Jean-Marc Philippe, Alexandre Valentian, Frederic Heitzmann, Edith Beigne, Fabien Clermidy
Pubblicato in:
2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits, 2020, Pagina/e 1-2, ISBN 978-1-7281-9942-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsicircuits18222.2020.9163000
Autori:
Corentin Pigot, Fabien Gilibert, Marina Reyboz, Marc Bocquet, Jean-Michel Portal
Pubblicato in:
2018 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2018, Pagina/e 190-193, ISBN 978-1-5386-6790-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/SISPAD.2018.8551654
Autori:
M. C. Cyrille, A. Verdy, G. Navarro, G. Bourgeois, J. Garrione, M. Bernard, C. Sabbione, P. Noe, E. Nowak
Pubblicato in:
2018 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT), 2018, Pagina/e 113-116, ISBN 978-1-5386-2550-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ICICDT.2018.8399769
Autori:
Gilbert Sassine, Diego Alfaro Robayo, Cecile Nail, Jean-Francois Nodin, Jean Coignus, Gabriel Molas, Etienne Nowak
Pubblicato in:
2018 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2018, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-5386-5247-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/IMW.2018.8388843
Autori:
A. Verdy, M. Bernard, N. Castellani, P. Noé, F. D’Acapito, J. Garrione, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, G. Navarro
Pubblicato in:
ePCOS, 2019
Editore:
CEA
Autori:
T. Francois, J. Coignus, L. Grenouillet, J.P. Barnes, N. Vaxelaire, J. Ferrand, I. Bottala-Gambetta, M. Gros-Jean, S. Jeannot, P. Boivin, P. Chiquet, M. Bocquet, E. Nowak, F. Gaillard
Pubblicato in:
2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW), 2019, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-7281-0981-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/imw.2019.8739664
Autori:
G. Bourgeois, M. C. Cyrille, J. Garrione, C. Sabbione, M. Bernard, E. Nolot, G. Navarro and E. Nowak
Pubblicato in:
AVS 66th International Symposium & Exhibition, 2019
Editore:
American Vacuum Society
Autori:
N. Guillaume, M. Azzaz, S. Blonkowski, E. Jalaguier, P. Gonon, C. Vallée, T. Blomberg, M. Tuominen, H. Spreys, S. Bernasconi, C. Charpin-Nicolle, E. Nowak
Pubblicato in:
SSDM2019, 2019
Editore:
SSDM
Autori:
S. Niel, F. La Rosa, A. Regnier, M. Mantelli, F. Trenteseaux, G. Ghezzi, A. Marzaki, Q. Hubert, J. Delalleau, T. Cabout, F. Maugain, E. Lepape, L. Baron, A. Champenois, D. Galpin, N. Cherault, S. Audran, L. Parmigiani, P. Gouraud, B. Duclaux, Y. Escarabajal, F. Baudin, E. Beche, B. Saidi, V. Arnal
Pubblicato in:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numero 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Pagina/e 7.4.1-7.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614517
Autori:
F. Arnaud, P. Zuliani, J.P. Reynard, A. Gandolfo, F. Disegni, P. Mattavelli, E. Gomiero, G. Samanni, C. Jahan, R. Berthelon, O. Weber, E. Richard, V. Barral, A. Villaret, S. Kohler, J.C. Grenier, R. Ranica, C. Gallon, A. Souhaite, D. Ristoiu, L. Favennec, V. Caubet, S. Delmedico, N. Cherault, R. Beneyton, S. Chouteau, P.O. Sassoulas, A. Vernhet, Y. Le Friec, F. Domengie, L. Scotti, D. Pacelli, J.L
Pubblicato in:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numero 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Pagina/e 18.4.1-18.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614595
Autori:
A. Verdy, M. Bernard, J. Garrione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, E. Nolot, N. Castellani, P. Noe, C. Socquet-Clerc, T. Magis, G. Sassine, G. Molas, G. Navarro, E. Nowak
Pubblicato in:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numero IEDM, San Francisco, 2018, Pagina/e 37.4.1-37.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614686
Autori:
D. Alfaro Robayo, G. Sassine, J. Minguet Lopez, L. Grenouillet, A. Verdy, G. Navarro, M. Bernard, E. Esmanhotto, C. Carabasse, E. Vianello, N. Castellani, L. Ciampolini, B. Giraud, C. Cagli, G. Guibaudo, E. Nowak, G. Molas
Pubblicato in:
2019
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993439
Autori:
J. Sandrini, M. Barlas, J. F. Nodin, O. Billoint, G. Molas, R. Fournel, E. Nowak, F. Gaillard, C. Cagli, L. Grenouillet, V. Meli, N. Castellani, I. Hammad, S. Bernasconi, F. Aussenac, S. Van Duijn, G. Audoit
Pubblicato in:
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, Pagina/e 30.5.1-30.5.4, ISBN 978-1-7281-4032-2
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993484
Autori:
G. Lama, M. Bernard, N. Bernier, G. Bourgeois, E. Nolot, N. Castellani, J. Garrione, M. C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Pubblicato in:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405116
Autori:
J. Minguet Lopez, L. Hudeley, L. Grenouillet, D. Alfaro Robayo, J. Sandrini, G. Navarro, M. Bernard, C. Carabasse, D. Deleruyelle, N. Castellani, M. Bocquet, J. M. Portal, E. Nowak, G. Molas
Pubblicato in:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405195
Autori:
R. Eilhardt, A. Zintler, O. Ricalde, S. Petzold, L. Alff, und L. Molina-Luna
Pubblicato in:
2019
Editore:
MRS Fall 2019 (Boston)
Autori:
Petzold, Stefan
Pubblicato in:
Numero 2, 2020
Editore:
Darmstadt, Technische Universität
DOI:
10.25534/tuprints-00011328
Autori:
Jordi Suñé
Pubblicato in:
2020, ISBN 978-3-03928-576-1
Editore:
MDPI
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