Publications
Auteurs:
Stefan Petzold, Eszter Piros, Robert Eilhardt, Alexander Zintler, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Aldin Radetinac, Philipp Komissinskiy, Eric Jalaguier, Emmanuel Nolot, Christelle Charpin‐Nicolle, Christian Wenger, Leopoldo Molina‐Luna, Enrique Miranda, Lambert Alff
Publié dans:
Advanced Electronic Materials, Numéro 6/11, 2020, Page(s) 2000439, ISSN 2199-160X
Éditeur:
Wiley Online Library
DOI:
10.1002/aelm.202000439
Auteurs:
David Lehninger, Konstantin Mertens, Lukas Gerlich, Maximilian Lederer, Tarek Ali, Konrad Seidel
Publié dans:
MRS Advances, Numéro 6/21, 2021, Page(s) 535-539, ISSN 2059-8521
Éditeur:
Springer
DOI:
10.1557/s43580-021-00118-w
Auteurs:
Hatun Cinkaya, Adil Ozturk, Arif Sirri Atilla Hasekioğlu, Zahit Evren Kaya, Seref Kalem, Christelle Charpin-Nicolle, Guillaume Bourgeois, Nicolas Guillaume, Marie Claire.Cyrille, Julien Garrione, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Publié dans:
Solid-State Electronics, Numéro 185, 2021, Page(s) 108101, ISSN 0038-1101
Éditeur:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108101
Auteurs:
Tobias Vogel, Nico Kaiser, Stefan Petzold, Eszter Piros, Nicolas Guillaume, Gauthier Lefevre, Christelle Charpin-Nicolle, Sylvain David, Christophe Vallee, Etienne Nowak, Christina Trautmann, Lambert Alff
Publié dans:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Numéro 68/8, 2021, Page(s) 1542-1547, ISSN 0018-9499
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tns.2021.3085962
Auteurs:
Eszter Piros, Martin Lonsky, Stefan Petzold, Alexander Zintler, S.U. Sharath, Tobias Vogel, Nico Kaiser, Robert Eilhardt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Jens Müller, Lambert Alff
Publié dans:
Physical Review Applied, Numéro 14/3, 2020, ISSN 2331-7019
Éditeur:
American Physical society
DOI:
10.1103/physrevapplied.14.034029
Auteurs:
Eszter Piros, Stefan Petzold, Alexander Zintler, Nico Kaiser, Tobias Vogel, Robert Eilhardt, Christian Wenger, Leopoldo Molina-Luna, Lambert Alff
Publié dans:
Applied Physics Letters, Numéro 117/1, 2020, Page(s) 013504, ISSN 0003-6951
Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0009645
Auteurs:
Fernando Leonel Aguirre, Nicolás M. Gomez, Sebastián Matías Pazos, Félix Palumbo, Jordi Suñé, Enrique Miranda
Publié dans:
Journal of Low Power Electronics and Applications, Numéro 11/1, 2021, Page(s) 9, ISSN 2079-9268
Éditeur:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/jlpea11010009
Auteurs:
G. Lama, G. Bourgeois, M. Bernard, N. Castellani, J. Sandrini, E. Nolot, J. Garrione, M.C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Publié dans:
Microelectronics Reliability, Numéro 114, 2020, Page(s) 113823, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113823
Auteurs:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Olga Cueto, Guillaume Bourgeois, Marie Claire Cyrille, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Publié dans:
Solid-State Electronics, Numéro 186, 2021, Page(s) 108111, ISSN 0038-1101
Éditeur:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108111
Auteurs:
A. Rodriguez-Fernandez, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé, E. Miranda
Publié dans:
Microelectronics Reliability, Numéro 88-90, 2018, Page(s) 142-146, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.06.120
Auteurs:
A. Rodriguez-Fernandez, C. Cagli, J. Sune, E. Miranda
Publié dans:
IEEE Electron Device Letters, Numéro 39/5, 2018, Page(s) 656-659, ISSN 0741-3106
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2018.2822047
Auteurs:
Gilbert Sassine, Cécile Nail, Philippe Blaise, Benoit Sklenard, Mathieu Bernard, Rémy Gassilloud, Aurélie Marty, Marc Veillerot, Christophe Vallée, Etienne Nowak, Gabriel Molas
Publié dans:
Advanced Electronic Materials, Numéro 5/2, 2019, Page(s) 1800658, ISSN 2199-160X
Éditeur:
Advanced Electronic Materials 2019
DOI:
10.1002/aelm.201800658
Auteurs:
Anthonin Verdy, Francesco d'Acapito, Jean-Baptiste Dory, Gabriele Navarro, Mathieu Bernard, Pierre Noé
Publié dans:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 2019, Page(s) 1900548, ISSN 1862-6254
Éditeur:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.201900548
Auteurs:
C. Charpin-Nicolle, M. Bonvalot, R. Sommer, A. Persico, M.L. Cordeau, S. Belahcen, B. Eychenne, Ph. Blaise, S. Martinie, S. Bernasconi, E. Jalaguier, E. Nowak
Publié dans:
Microelectronic Engineering, 2019, Page(s) 111194, ISSN 0167-9317
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2019.111194
Auteurs:
Stefan Petzold, Alexander Zintler, Robert Eilhardt, Eszter Piros, Nico Kaiser, Sankaramangalam Ulhas Sharath, Tobias Vogel, Márton Major, Keith Patrick McKenna, Leopoldo Molina‐Luna, Lambert Alff
Publié dans:
Advanced Electronic Materials, Numéro 5/10, 2019, Page(s) 1900484, ISSN 2199-160X
Éditeur:
WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim
DOI:
10.1002/aelm.201900484
Auteurs:
S. Petzold, E. Miranda, S. U. Sharath, J. Muñoz-Gorriz, T. Vogel, E. Piros, N. Kaiser, R. Eilhardt, A. Zintler, L. Molina-Luna, J. Suñé, L. Alff
Publié dans:
Journal of Applied Physics, Numéro 125/23, 2019, Page(s) 234503, ISSN 0021-8979
Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5094864
Auteurs:
Stefan Petzold, Eszter Piros, S U Sharath, Alexander Zintler, Erwin Hildebrandt, Leopoldo Molina-Luna, Christian Wenger, Lambert Alff
Publié dans:
Semiconductor Science and Technology, Numéro 34/7, 2019, Page(s) 075008, ISSN 0268-1242
Éditeur:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/ab220f
Auteurs:
Marta Pedró, Javier Martín-Martínez, Marcos Maestro-Izquierdo, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafría
Publié dans:
Materials, Numéro 12/21, 2019, Page(s) 3482, ISSN 1996-1944
Éditeur:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12213482
Auteurs:
Agustín Cisternas Ferri, Alan Rapoport, Pablo I. Fierens, German A. Patterson, Enrique Miranda, Jordi Suñé
Publié dans:
Materials, Numéro 12/14, 2019, Page(s) 2260, ISSN 1996-1944
Éditeur:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12142260
Auteurs:
Fernando Leonel Aguirre, Alberto Rodriguez-Fernandez, Sebastian Matias Pazos, Jordi Sune, Enrique Miranda, Felix Palumbo
Publié dans:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numéro 66/8, 2019, Page(s) 3349-3355, ISSN 0018-9383
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TED.2019.2922555
Auteurs:
E. Miranda, A. Morell, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé
Publié dans:
Microelectronics Reliability, Numéro 100-101, 2019, Page(s) 113327, ISSN 0026-2714
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.019
Auteurs:
Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Norman Vogel, Dirk Utess, Beate Volkmann, Tarek Ali, Ricardo Olivo, Johannes Müller, Sven Beyer, Martin Trentzsch, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Publié dans:
Nanomaterials, Numéro 10/2, 2020, Page(s) 384, ISSN 2079-4991
Éditeur:
MDPI
DOI:
10.3390/nano10020384
Auteurs:
David Lehninger, Ricardo Olivo, Tarek Ali, Maximilian Lederer, Thomas Kämpfe, Clemens Mart, Kati Biedermann, Kati Kühnel, Lisa Roy, Mahsa Kalkani, Konrad Seidel
Publié dans:
physica status solidi (a), Numéro 217/8, 2020, Page(s) 1900840, ISSN 1862-6300
Éditeur:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/pssa.201900840
Auteurs:
Enrique Miranda, Jordi Suñé
Publié dans:
Materials, Numéro 13/4, 2020, Page(s) 938, ISSN 1996-1944
Éditeur:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma13040938
Auteurs:
M. Lederer, T. Kämpfe, R. Olivo, D. Lehninger, C. Mart, S. Kirbach, T. Ali, P. Polakowski, L. Roy, and K. Seidel
Publié dans:
Appl. Phys. Lett., 2019, ISSN 0003-6951
Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5129318
Auteurs:
Fernando Leonel Aguirre, Sebastian Matias Pazos, Felix Palumbo, Jordi Sune, Enrique Miranda
Publié dans:
IEEE Access, Numéro 8, 2020, Page(s) 202174-202193, ISSN 2169-3536
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/access.2020.3035638
Auteurs:
Maximilian Lederer, Ricardo Olivo, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Thomas Kämpfe, Sven Kirbach, Clemens Mart, Konrad Seidel, Lukas M. Eng
Publié dans:
physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, Numéro 15/5, 2021, Page(s) 2100086, ISSN 1862-6254
Éditeur:
Wiley - VCH Verlag GmbH & CO. KGaA
DOI:
10.1002/pssr.202100086
Auteurs:
Anna Lisa Serra, Gauthier Lefevre, Guillaume Bourgeois, Chiara Sabbione, Niccolo' Castellani, Olga Cueto, Marie-Claire Cyrille, Mathieu Bernard, Julien Garrione, Nicolas Bernier, Christophe Vallee, Sylvain David, Christelle Charpin-Nicolle, Gabriele Navarro, Etienne Nowak
Publié dans:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numéro 68/2, 2021, Page(s) 535-540, ISSN 0018-9383
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3044267
Auteurs:
T. Kampfe, T. Vogel, R. Olivo, M. Lederer, N. Kaiser, S. Petzold, T. Ali, D. Lehninger, C. Trautmann, L. Alff, K. Seidel
Publié dans:
2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020, Page(s) 1-3, ISBN 978-1-7281-6430-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ifcs-isaf41089.2020.9234942
Auteurs:
M. N. Kalkani et al.
Publié dans:
2019
Éditeur:
International Symposium on Integrated Functionalities (ISIF), Dublin, 2019
Auteurs:
C. Laguna, N. Castellani, M. Bernard, N. Rochat, D. Rouchon, C. Sabbione, J. Garrione, E. Nolot, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Publié dans:
2020 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2020, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-6306-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/imw48823.2020.9108130
Auteurs:
C. Laguna, M. Bernard, N. Bernier, D. Rouchon, N. Rochat, J. Garrione, A. Jannaud, E. Nolot, V. Meli, N. Castellani, C. Sabbione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, L. Militaru, A. Souifi, G. Navarro, E. Nowak
Publié dans:
2021 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2021, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-8517-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/imw51353.2021.9439590
Auteurs:
N.-P. Tran, J. Sandrini, A. Persico, J.-F. Nodin, T. Magis, R. Crochemore, N. Castellani, M.-C. Cyrille, G. Molas, E. Nowak
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2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, Page(s) 33-34, ISBN 978-1-7281-4232-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-tsa48913.2020.9203694
Auteurs:
A.L. Serra, T. Vogel, G. Lefèvre, S. Petzold, N. Kaiser, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, L. Alff, C. Trautmann, C. Vallée, D. Sylvain, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro and E. Nowak
Publié dans:
RADECS 2020, 2020
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Cinkaya, A.S.A. Hasekioğlu, Z.E.Kaya, S. Kalem, C. Charpin-Nicolle, G. Navarro, N. Guillaume, M.C. Cyrille, G. Bourgeois, J. Garrione, E. Nowak
Publié dans:
2019
Éditeur:
EUROSOI-ULIS conference (31/08-04/09/2020, Caen, France)https://eurosoiulis2020.sciencesconf.org/
Auteurs:
Maximilian Lederer, David Lehninger, Sukhrob Abdulazhanov, Andre Reck, Ricardo Olivo, Thomas Kampfe, Konrad Seidel
Publié dans:
2021 IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF), 2021, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-6654-0444-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/isaf51943.2021.9477392
Auteurs:
Ivan Miro-Panades, Benoit Tain, Jean-Frederic Christmann, David Coriat, Romain Lemaire, Clement Jany, Baudouin Martineau, Fabrice Chaix, Anthony Quelen, Emmanuel Pluchart, Jean-Philippe Noel, Reda Boumchedda, Adam Makosiej, Maxime Montoya, Simone Bacles-Min, David Briand, Jean-Marc Philippe, Alexandre Valentian, Frederic Heitzmann, Edith Beigne, Fabien Clermidy
Publié dans:
2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits, 2020, Page(s) 1-2, ISBN 978-1-7281-9942-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsicircuits18222.2020.9163000
Auteurs:
Corentin Pigot, Fabien Gilibert, Marina Reyboz, Marc Bocquet, Jean-Michel Portal
Publié dans:
2018 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2018, Page(s) 190-193, ISBN 978-1-5386-6790-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/SISPAD.2018.8551654
Auteurs:
M. C. Cyrille, A. Verdy, G. Navarro, G. Bourgeois, J. Garrione, M. Bernard, C. Sabbione, P. Noe, E. Nowak
Publié dans:
2018 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT), 2018, Page(s) 113-116, ISBN 978-1-5386-2550-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ICICDT.2018.8399769
Auteurs:
Gilbert Sassine, Diego Alfaro Robayo, Cecile Nail, Jean-Francois Nodin, Jean Coignus, Gabriel Molas, Etienne Nowak
Publié dans:
2018 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2018, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-5386-5247-3
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IMW.2018.8388843
Auteurs:
A. Verdy, M. Bernard, N. Castellani, P. Noé, F. D’Acapito, J. Garrione, G. Bourgeois, M.C. Cyrille, G. Navarro
Publié dans:
ePCOS, 2019
Éditeur:
CEA
Auteurs:
T. Francois, J. Coignus, L. Grenouillet, J.P. Barnes, N. Vaxelaire, J. Ferrand, I. Bottala-Gambetta, M. Gros-Jean, S. Jeannot, P. Boivin, P. Chiquet, M. Bocquet, E. Nowak, F. Gaillard
Publié dans:
2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW), 2019, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-7281-0981-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/imw.2019.8739664
Auteurs:
G. Bourgeois, M. C. Cyrille, J. Garrione, C. Sabbione, M. Bernard, E. Nolot, G. Navarro and E. Nowak
Publié dans:
AVS 66th International Symposium & Exhibition, 2019
Éditeur:
American Vacuum Society
Auteurs:
N. Guillaume, M. Azzaz, S. Blonkowski, E. Jalaguier, P. Gonon, C. Vallée, T. Blomberg, M. Tuominen, H. Spreys, S. Bernasconi, C. Charpin-Nicolle, E. Nowak
Publié dans:
SSDM2019, 2019
Éditeur:
SSDM
Auteurs:
S. Niel, F. La Rosa, A. Regnier, M. Mantelli, F. Trenteseaux, G. Ghezzi, A. Marzaki, Q. Hubert, J. Delalleau, T. Cabout, F. Maugain, E. Lepape, L. Baron, A. Champenois, D. Galpin, N. Cherault, S. Audran, L. Parmigiani, P. Gouraud, B. Duclaux, Y. Escarabajal, F. Baudin, E. Beche, B. Saidi, V. Arnal
Publié dans:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numéro 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Page(s) 7.4.1-7.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614517
Auteurs:
F. Arnaud, P. Zuliani, J.P. Reynard, A. Gandolfo, F. Disegni, P. Mattavelli, E. Gomiero, G. Samanni, C. Jahan, R. Berthelon, O. Weber, E. Richard, V. Barral, A. Villaret, S. Kohler, J.C. Grenier, R. Ranica, C. Gallon, A. Souhaite, D. Ristoiu, L. Favennec, V. Caubet, S. Delmedico, N. Cherault, R. Beneyton, S. Chouteau, P.O. Sassoulas, A. Vernhet, Y. Le Friec, F. Domengie, L. Scotti, D. Pacelli, J.L
Publié dans:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numéro 2018 IEEE International Electron Devices Meeting, 2018, Page(s) 18.4.1-18.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614595
Auteurs:
A. Verdy, M. Bernard, J. Garrione, G. Bourgeois, M. C. Cyrille, E. Nolot, N. Castellani, P. Noe, C. Socquet-Clerc, T. Magis, G. Sassine, G. Molas, G. Navarro, E. Nowak
Publié dans:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Numéro IEDM, San Francisco, 2018, Page(s) 37.4.1-37.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614686
Auteurs:
D. Alfaro Robayo, G. Sassine, J. Minguet Lopez, L. Grenouillet, A. Verdy, G. Navarro, M. Bernard, E. Esmanhotto, C. Carabasse, E. Vianello, N. Castellani, L. Ciampolini, B. Giraud, C. Cagli, G. Guibaudo, E. Nowak, G. Molas
Publié dans:
2019
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993439
Auteurs:
J. Sandrini, M. Barlas, J. F. Nodin, O. Billoint, G. Molas, R. Fournel, E. Nowak, F. Gaillard, C. Cagli, L. Grenouillet, V. Meli, N. Castellani, I. Hammad, S. Bernasconi, F. Aussenac, S. Van Duijn, G. Audoit
Publié dans:
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, Page(s) 30.5.1-30.5.4, ISBN 978-1-7281-4032-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19573.2019.8993484
Auteurs:
G. Lama, M. Bernard, N. Bernier, G. Bourgeois, E. Nolot, N. Castellani, J. Garrione, M. C. Cyrille, G. Navarro, E. Nowak
Publié dans:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405116
Auteurs:
J. Minguet Lopez, L. Hudeley, L. Grenouillet, D. Alfaro Robayo, J. Sandrini, G. Navarro, M. Bernard, C. Carabasse, D. Deleruyelle, N. Castellani, M. Bocquet, J. M. Portal, E. Nowak, G. Molas
Publié dans:
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-7281-6893-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/irps46558.2021.9405195
Auteurs:
R. Eilhardt, A. Zintler, O. Ricalde, S. Petzold, L. Alff, und L. Molina-Luna
Publié dans:
2019
Éditeur:
MRS Fall 2019 (Boston)
Auteurs:
Petzold, Stefan
Publié dans:
Numéro 2, 2020
Éditeur:
Darmstadt, Technische Universität
DOI:
10.25534/tuprints-00011328
Auteurs:
Jordi Suñé
Publié dans:
2020, ISBN 978-3-03928-576-1
Éditeur:
MDPI
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