Synthesis and integration of wafer-scale van der Waals heterostructures for industrial nanoelectronic devices

Información del proyecto

2D-HETERO

Identificador del acuerdo de subvención: 894840

DOI

10.3030/894840

Proyecto cerrado

Fecha de la firma de la CE 30 Marzo 2020

Fecha de inicio 1 Mayo 2020

Fecha de finalización 30 Abril 2022

Financiado con arreglo a

• EXCELLENT SCIENCE - Marie Skłodowska-Curie Actions

Coste total

€ 166 320,00

Aportación de la UE

€ 166 320,00

Coordinado por

INTERUNIVERSITAIR MICRO-ELECTRONICA CENTRUM
Belgium

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Publicaciones

Conference proceedings (4)

Extreme scaling enabled by TMD transistors: variability challenges

Autores: Q. Smets, G. Arutchelvan, T. Schram, D. Verreck, B. Groven, D. Cott, Z. Ahmed, Y. Shi, S. Sutar, A. Nalin Mehta, D. Lin, I. Asselberghs, I. Radu
Publicado en: IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2021, ISSN 2169-3536
Editor: IEEE

Dual gate synthetic MoS2 MOSFETs with 4.56µF/cm2 channel capacitance, 320µS/µm Gm and 420 µA/µm Id at 1V Vd/100nm Lg

Autores: X. Wu, D. Cott, Z. Lin, Y. Shi, B. Groven, P. Morin, D. Verreck, Q. Smets, H. Medina, S. Sutar, I. Asselberghs, I. Radu, D. Lin
Publicado en: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, ISSN 2169-3536
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/iedm19574.2021.9720695

Sources of variability in scaled MoS2 FETs

Autores: Q. Smets, D. Verreck, Y. Shi, G. Arutchelvan, B. Groven, X. Wu, S. Sutar, S. Banerjee, A. N. Mehta, D. Lin, I. Asselberghs, I. Radu
Publicado en: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, ISSN 2169-3536
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/iedm13553.2020.9371890

Superior electrostatic control in uniform monolayer MoS2 scaled transistors via in-situ surface smoothening

Autores: Y. Shi, B. Groven, Q. Smets, S. Sutar, S. Banerjee, H. Medina, X. Wu, C. Huyghebaert, S. Brems, D. Lin, P. Morin, M. Caymax, I. Asselberghs, I. Radu
Publicado en: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, ISSN 2169-3536
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/iedm19574.2021.9720676

Peer reviewed articles (1)

Engineering wafer-scale epitaxial two-dimensional materials through sapphire template screening for advanced high-performance nanoelectronics

Autores: Y. Shi, B. Groven, J. Serron, X. Wu, A. N. Mehta, A. Minj, S. Sergeant, H. Han, I. Asselberghs, D. Lin, S. Brems, C. Huyghebaert, P. Morin, I. Radu, M. Caymax
Publicado en: ACS Nano, 2021, Página(s)  9482–9494, ISSN 1936-0851
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c07761