Quantifying electron-electron forces at the atomic scale

Informazioni relative al progetto

DeQ

ID dell’accordo di sovvenzione: 947717

DOI

10.3030/947717

Data della firma CE 3 Settembre 2020

Data di avvio 1 Gennaio 2021

Data di completamento 31 Marzo 2027

Finanziato da

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Costo totale

€ 1 912 095,00

Contributo UE

€ 1 912 095,00

Coordinato da

STICHTING RADBOUD UNIVERSITEIT
Netherlands

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Pubblicazioni

Peer reviewed articles (3)

Advanced atomic force microscopy techniques V

Autori: Philipp Rahe, Ilko Bald, Nadine Hauptmann, Regina Hoffmann-Vogel, Harry Mönig, Michael Reichling
Pubblicato in: Beilstein Journal of Nanotechnology, Numero 16, 2025, Pagina/e 54-56, ISSN 2190-4286
Editore: Beilstein-Institut Zur Forderung der Chemischen Wissenschaften
DOI: 10.3762/bjnano.16.6

"Influence of surface relaxations on scanning probe microscopy images of the charge density wave material <mml:math xmlns:mml=""http://www.w3.org/1998/Math/MathML""><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn><mml:mi>H</mml:mi></mml:mrow><mml:mtext>−</mml:mtext><mml:msub><mml:mi>NbSe</mml:mi><mml:mn>2</mml:mn></mml:msub></mml:math>"

Autori: Nikhil S. Sivakumar, Joost Aretz, Sebastian Scherb, Marion van Midden Mavrič, Nora Huijgen, Umut Kamber, Daniel Wegner, Alexander A. Khajetoorians, Malte Rösner, Nadine Hauptmann
Pubblicato in: Physical Review B, Numero 111, 2025, ISSN 2469-9950
Editore: APS
DOI: 10.1103/physrevb.111.075409

2024 roadmap on magnetic microscopy techniques and their applications in materials science

Autori: D V Christensen, U Staub, T R Devidas, B Kalisky, K C Nowack, J L Webb, U L Andersen, A Huck, D A Broadway, K Wagner, P Maletinsky, T van der Sar, C R Du, A Yacoby, D Collomb, S Bending, A Oral, H J Hug, A-O Mandru, V Neu, H W Schumacher, S Sievers, H Saito, A A Khajetoorians, N Hauptmann, S Baumann, A Eichler, C L Degen, J McCord, M Vogel, M Fiebig, P Fischer, A Hierro-Rodriguez, S Finizio, S S D
Pubblicato in: Journal of Physics: Materials, Numero 7, 2024, Pagina/e 032501, ISSN 2515-7639
Editore: IOP Science
DOI: 10.1088/2515-7639/ad31b5