Description du projet
Détecter les défauts avant le stade de plaque réduira les rebuts et stimulera les possibilités de commercialisation
Le carbure de silicium (SiC) est un important matériau cristallin semi-conducteur. Outre ses propriétés électriques, il est également extrêmement dur, peut supporter des températures très élevées et résiste aux réactions chimiques. Ainsi, le SiC est un candidat de premier choix pour l’électronique et l’abrasion à haute puissance et à haute température, de même que pour les applications de découpage. Cependant, le taux de rebut des plaques cristallines est actuellement très élevé en raison d’une croissance incontrôlée et de défauts, ce qui se traduit par une augmentation considérable du prix du marché qui empêche une utilisation généralisée. La PME suisse Scientific Visual a mis au point un scanner capable de détecter les défauts dans les matériaux cristallins transparents comme le saphir, avant leur traitement. Elle collecte également les données de processus en temps réel qui permettent aux fabricants de modifier leurs paramètres et de réduire l’apparition de défauts futurs. Le projet SiC_Scope, financé par l’UE, aide la société à adapter cette technologie au SiC et à d’autres matériaux non transparents.
Objectif
Industrially grown crystals are key to our modern life; from electric car batteries to airplane windows. One of the fastest-growing crystal segments is silicon carbide (SiC), highly demanded in semiconductor applications for power supplies, electric cars, solar inverters, trains, and wind turbines. SiC is expected to be one of the top-10 advanced materials in the market by 2021; the SiC device market will top €1.4B by 2023, with 31% CAGR from 2017-2023.
Growing crystals is an imperfect process. Particularly so for SiC, where unnoticed defects affect as many as 70% of all final wafers. Existing quality control techniques spot the defects after the crystal has been processed. Increased cost of the low yield sets today an obstacle to the wide application of SiC.
Scientific Visual (SV) is a Swiss company, established in 2010 and led by Dr. Ivan Orlov, PhD in crystallography, and COO Fréderic Falise. Our innovation, SiC_Scope, is a scanner to detect and map defects in raw SiC prior to crystal processing. Based on refractive index matching, it is more accurate and faster than existing solutions, providing increased yield at a lower cost. Using SiC_Scope, a single grower can obtain a 6.5M€/year cost saving. Moreover, the scanner gathers real-time information on the defects, which allows crystal growers to tune their processes, driving down the number of defective crystals.
In this project, we will adapt our existing technology currently applied to sapphires and other transparent crystals to detect the defects present in SiC which is a non-transparent crystal. Scientific Visual expects to attain absolute market leadership.
Champ scientifique
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistryinorganic compounds
- natural sciencesearth and related environmental sciencesgeologymineralogycrystallography
- engineering and technologyenvironmental engineeringenergy and fuelsrenewable energywind power
- natural sciencesphysical scienceselectromagnetism and electronicssemiconductivity
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistrymetalloids
Mots‑clés
Programme(s)
Régime de financement
SME-2 - SME instrument phase 2Coordinateur
1006 Lausanne
Suisse
L’entreprise s’est définie comme une PME (petite et moyenne entreprise) au moment de la signature de la convention de subvention.