Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski pl
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

Scanner for Early-Stage Quality Control in Silicon Carbide Crystals

Opis projektu

Wykrywanie usterek przed etapem wytwarzania wafla krzemowego ograniczy straty i zwiększy potencjał komercjalizacji

Węglik krzemu (SiC) jest niezwykle ważnym krystalicznym materiałem półprzewodnikowym, charakteryzującym się doskonałymi właściwościami elektrycznymi oraz wysoką twardością, co pozwala mu z powodzeniem wytrzymywać bardzo wysokie temperatury oraz różnego rodzaju reakcje chemiczne. Dzięki tym właśnie właściwościom węglik krzemu stanowi jeden z głównych materiałów wykorzystywanych do produkcji wysokowydajnych układów scalonych pracujących w wysokich temperaturach, a także narzędzi ścierających i tnących. Wskaźnik strat wafli krystalicznych jest jednak niezwykle wysoki ze względu na niekontrolowany przyrost oraz defekty sieci krystalicznej, co znacząco zwiększa cenę rynkową wafli i ogranicza możliwość wykorzystywania ich przez różne podmioty na szeroką skalę. Szwajcarska firma Scientific Visual, działająca w sektorze małych i średnich przedsiębiorstw, opracowała skaner wykrywający defekty w przezroczystych materiałach krystalicznych, takich jak na przykład szafir, przed ich przetwarzaniem. Rozwiązanie zbiera także w czasie rzeczywistym dane procesowe, dzięki którym producenci są w stanie zmieniać na bieżąco parametry i ograniczać tym samym ryzyko wystąpienia problemów w przyszłości. Finansowany przez Unię Europejską projekt SiC_Scope pozwala przedsiębiorstwu dostosować opracowaną technologię do wykorzystania w przypadku węgliku krzemu oraz innych nieprzezroczystych materiałów.

Cel

Industrially grown crystals are key to our modern life; from electric car batteries to airplane windows. One of the fastest-growing crystal segments is silicon carbide (SiC), highly demanded in semiconductor applications for power supplies, electric cars, solar inverters, trains, and wind turbines. SiC is expected to be one of the top-10 advanced materials in the market by 2021; the SiC device market will top €1.4B by 2023, with 31% CAGR from 2017-2023.
Growing crystals is an imperfect process. Particularly so for SiC, where unnoticed defects affect as many as 70% of all final wafers. Existing quality control techniques spot the defects after the crystal has been processed. Increased cost of the low yield sets today an obstacle to the wide application of SiC.
Scientific Visual (SV) is a Swiss company, established in 2010 and led by Dr. Ivan Orlov, PhD in crystallography, and COO Fréderic Falise. Our innovation, SiC_Scope, is a scanner to detect and map defects in raw SiC prior to crystal processing. Based on refractive index matching, it is more accurate and faster than existing solutions, providing increased yield at a lower cost. Using SiC_Scope, a single grower can obtain a 6.5M€/year cost saving. Moreover, the scanner gathers real-time information on the defects, which allows crystal growers to tune their processes, driving down the number of defective crystals.
In this project, we will adapt our existing technology currently applied to sapphires and other transparent crystals to detect the defects present in SiC which is a non-transparent crystal. Scientific Visual expects to attain absolute market leadership.

Dziedzina nauki (EuroSciVoc)

Klasyfikacja projektów w serwisie CORDIS opiera się na wielojęzycznej taksonomii EuroSciVoc, obejmującej wszystkie dziedziny nauki, w oparciu o półautomatyczny proces bazujący na technikach przetwarzania języka naturalnego. Więcej informacji: Europejski Słownik Naukowy.

Aby użyć tej funkcji, musisz się zalogować lub zarejestrować

Słowa kluczowe

Słowa kluczowe dotyczące projektu wybrane przez koordynatora projektu. Nie należy mylić ich z pojęciami z taksonomii EuroSciVoc dotyczącymi dziedzin nauki.

Program(-y)

Wieloletnie programy finansowania, które określają priorytety Unii Europejskiej w obszarach badań naukowych i innowacji.

Temat(-y)

Zaproszenia do składania wniosków dzielą się na tematy. Każdy temat określa wybrany obszar lub wybrane zagadnienie, których powinny dotyczyć wnioski składane przez wnioskodawców. Opis tematu obejmuje jego szczegółowy zakres i oczekiwane oddziaływanie finansowanego projektu.

System finansowania

Program finansowania (lub „rodzaj działania”) realizowany w ramach programu o wspólnych cechach. Określa zakres finansowania, stawkę zwrotu kosztów, szczegółowe kryteria oceny kwalifikowalności kosztów w celu ich finansowania oraz stosowanie uproszczonych form rozliczania kosztów, takich jak rozliczanie ryczałtowe.

SME-2 - SME instrument phase 2

Wyświetl wszystkie projekty finansowane w ramach tego programu finansowania

Zaproszenie do składania wniosków

Procedura zapraszania wnioskodawców do składania wniosków projektowych w celu uzyskania finansowania ze środków Unii Europejskiej.

(odnośnik otworzy się w nowym oknie) H2020-EIC-SMEInst-2018-2020

Wyświetl wszystkie projekty finansowane w ramach tego zaproszenia

Koordynator

SCIENTIFIC VISUAL SA
Wkład UE netto

Kwota netto dofinansowania ze środków Unii Europejskiej. Suma środków otrzymanych przez uczestnika, pomniejszona o kwotę unijnego dofinansowania przekazanego powiązanym podmiotom zewnętrznym. Uwzględnia podział unijnego dofinansowania pomiędzy bezpośrednich beneficjentów projektu i pozostałych uczestników, w tym podmioty zewnętrzne.

€ 2 455 075,00
Adres
8, CHEMIN DES ALLINGES
1006 Lausanne
Szwajcaria

Zobacz na mapie

MŚP

Organizacja określiła się jako MŚP (firma z sektora małych i średnich przedsiębiorstw) w czasie podpisania umowy o grant.

Tak
Region
Schweiz/Suisse/Svizzera Région lémanique Vaud
Rodzaj działalności
Private for-profit entities (excluding Higher or Secondary Education Establishments)
Linki
Koszt całkowity

Ogół kosztów poniesionych przez organizację w związku z uczestnictwem w projekcie. Obejmuje koszty bezpośrednie i pośrednie. Kwota stanowi część całkowitego budżetu projektu.

€ 3 507 250,00
Moja broszura 0 0