Opis projektu
Wykrywanie usterek przed etapem wytwarzania wafla krzemowego ograniczy straty i zwiększy potencjał komercjalizacji
Węglik krzemu (SiC) jest niezwykle ważnym krystalicznym materiałem półprzewodnikowym, charakteryzującym się doskonałymi właściwościami elektrycznymi oraz wysoką twardością, co pozwala mu z powodzeniem wytrzymywać bardzo wysokie temperatury oraz różnego rodzaju reakcje chemiczne. Dzięki tym właśnie właściwościom węglik krzemu stanowi jeden z głównych materiałów wykorzystywanych do produkcji wysokowydajnych układów scalonych pracujących w wysokich temperaturach, a także narzędzi ścierających i tnących. Wskaźnik strat wafli krystalicznych jest jednak niezwykle wysoki ze względu na niekontrolowany przyrost oraz defekty sieci krystalicznej, co znacząco zwiększa cenę rynkową wafli i ogranicza możliwość wykorzystywania ich przez różne podmioty na szeroką skalę. Szwajcarska firma Scientific Visual, działająca w sektorze małych i średnich przedsiębiorstw, opracowała skaner wykrywający defekty w przezroczystych materiałach krystalicznych, takich jak na przykład szafir, przed ich przetwarzaniem. Rozwiązanie zbiera także w czasie rzeczywistym dane procesowe, dzięki którym producenci są w stanie zmieniać na bieżąco parametry i ograniczać tym samym ryzyko wystąpienia problemów w przyszłości. Finansowany przez Unię Europejską projekt SiC_Scope pozwala przedsiębiorstwu dostosować opracowaną technologię do wykorzystania w przypadku węgliku krzemu oraz innych nieprzezroczystych materiałów.
Cel
Industrially grown crystals are key to our modern life; from electric car batteries to airplane windows. One of the fastest-growing crystal segments is silicon carbide (SiC), highly demanded in semiconductor applications for power supplies, electric cars, solar inverters, trains, and wind turbines. SiC is expected to be one of the top-10 advanced materials in the market by 2021; the SiC device market will top €1.4B by 2023, with 31% CAGR from 2017-2023.
Growing crystals is an imperfect process. Particularly so for SiC, where unnoticed defects affect as many as 70% of all final wafers. Existing quality control techniques spot the defects after the crystal has been processed. Increased cost of the low yield sets today an obstacle to the wide application of SiC.
Scientific Visual (SV) is a Swiss company, established in 2010 and led by Dr. Ivan Orlov, PhD in crystallography, and COO Fréderic Falise. Our innovation, SiC_Scope, is a scanner to detect and map defects in raw SiC prior to crystal processing. Based on refractive index matching, it is more accurate and faster than existing solutions, providing increased yield at a lower cost. Using SiC_Scope, a single grower can obtain a 6.5M€/year cost saving. Moreover, the scanner gathers real-time information on the defects, which allows crystal growers to tune their processes, driving down the number of defective crystals.
In this project, we will adapt our existing technology currently applied to sapphires and other transparent crystals to detect the defects present in SiC which is a non-transparent crystal. Scientific Visual expects to attain absolute market leadership.
Dziedzina nauki (EuroSciVoc)
Klasyfikacja projektów w serwisie CORDIS opiera się na wielojęzycznej taksonomii EuroSciVoc, obejmującej wszystkie dziedziny nauki, w oparciu o półautomatyczny proces bazujący na technikach przetwarzania języka naturalnego.
Klasyfikacja projektów w serwisie CORDIS opiera się na wielojęzycznej taksonomii EuroSciVoc, obejmującej wszystkie dziedziny nauki, w oparciu o półautomatyczny proces bazujący na technikach przetwarzania języka naturalnego.
- nauki przyrodniczenauki chemicznechemia nieorganicznazwiązki nieorganiczne
- nauki przyrodniczenauki o Ziemi i pokrewne nauki o środowiskugeologiamineralogiakrystalografia
- inżynieria i technologiainżynieria śodowiskaenergetyka i paliwaenergia odnawialnaenergia wiatrowa
- nauki przyrodniczenauki fizyczneelektromagnetyzm i elektronikaurządzenie półprzewodnikowe
- nauki przyrodniczenauki chemicznechemia nieorganicznametaloidy
Aby użyć tej funkcji, musisz się zalogować lub zarejestrować
Słowa kluczowe
Program(-y)
Temat(-y)
Zaproszenie do składania wniosków
Zobacz inne projekty w ramach tego zaproszeniaSzczegółowe działanie
H2020-EIC-SMEInst-2018-2020-3
System finansowania
SME-2 - SME instrument phase 2Koordynator
1006 Lausanne
Szwajcaria
Organizacja określiła się jako MŚP (firma z sektora małych i średnich przedsiębiorstw) w czasie podpisania umowy o grant.