Descripción del proyecto
Detectar defectos antes de la fase de obleas reducirá la escoria y aumentará la comerciabilidad
El carburo de silicio (SiC) es un importante material semiconductor cristalino que, además de contar con propiedades eléctricas, es extremadamente duro, puede soportar temperaturas muy altas y resiste a las reacciones químicas. Como resultado, el SiC es un candidato destacado tanto para la electrónica de alta potencia y alta temperatura como para las aplicaciones de abrasión y corte. Sin embargo, la tasa de escoria de las obleas cristalinas es actualmente muy alta debido a los defectos y el crecimiento descontrolado, lo que aumenta considerablemente el precio de mercado y, en consecuencia, impide un uso más generalizado. La pyme suiza Scientific Visual ha desarrollado un escáner que puede detectar defectos en materiales cristalinos transparentes, como el zafiro, antes de procesarlos. También recoge datos del proceso en tiempo real, que permiten a los fabricantes modificar los parámetros y reducir la aparición de futuros defectos. El proyecto SiC_Scope, financiado con fondos europeos, está ayudando a la empresa a adaptar esta tecnología al SiC y a otros materiales no transparentes.
Objetivo
Industrially grown crystals are key to our modern life; from electric car batteries to airplane windows. One of the fastest-growing crystal segments is silicon carbide (SiC), highly demanded in semiconductor applications for power supplies, electric cars, solar inverters, trains, and wind turbines. SiC is expected to be one of the top-10 advanced materials in the market by 2021; the SiC device market will top €1.4B by 2023, with 31% CAGR from 2017-2023.
Growing crystals is an imperfect process. Particularly so for SiC, where unnoticed defects affect as many as 70% of all final wafers. Existing quality control techniques spot the defects after the crystal has been processed. Increased cost of the low yield sets today an obstacle to the wide application of SiC.
Scientific Visual (SV) is a Swiss company, established in 2010 and led by Dr. Ivan Orlov, PhD in crystallography, and COO Fréderic Falise. Our innovation, SiC_Scope, is a scanner to detect and map defects in raw SiC prior to crystal processing. Based on refractive index matching, it is more accurate and faster than existing solutions, providing increased yield at a lower cost. Using SiC_Scope, a single grower can obtain a 6.5M€/year cost saving. Moreover, the scanner gathers real-time information on the defects, which allows crystal growers to tune their processes, driving down the number of defective crystals.
In this project, we will adapt our existing technology currently applied to sapphires and other transparent crystals to detect the defects present in SiC which is a non-transparent crystal. Scientific Visual expects to attain absolute market leadership.
Ámbito científico
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistryinorganic compounds
- natural sciencesearth and related environmental sciencesgeologymineralogycrystallography
- engineering and technologyenvironmental engineeringenergy and fuelsrenewable energywind power
- natural sciencesphysical scienceselectromagnetism and electronicssemiconductivity
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistrymetalloids
Palabras clave
Programa(s)
Convocatoria de propuestas
Consulte otros proyectos de esta convocatoriaConvocatoria de subcontratación
H2020-EIC-SMEInst-2018-2020-3
Régimen de financiación
SME-2 - SME instrument phase 2Coordinador
1006 Lausanne
Suiza
Organización definida por ella misma como pequeña y mediana empresa (pyme) en el momento de la firma del acuerdo de subvención.