Projektbeschreibung
Weniger Ausschuss und bessere Marktfähigkeit, wenn Mängel vor dem Waferstadium erkannt werden
Siliziumkarbid (SiC) ist ein wichtiges kristallines Halbleitermaterial. Abgesehen von seinen elektrischen Eigenschaften ist es extrem hart, kann sehr hohen Temperaturen standhalten und ist resistent gegenüber chemischen Reaktionen. Daher gilt Siliziumkarbid als erstklassiger Kandidat für Hochleistungs- und Hochtemperaturelektronik sowie Abrasions- und Schneidanwendungen. Durch unkontrolliertes Wachstum und Mängel ist die Ausschussquote bei kristallinen Wafern jedoch sehr hoch, wodurch der Marktpreis deutlich ansteigt und eine umfassendere Nutzung verhindert wird. Das Schweizer KMU Scientific Visual hat einen Scanner entwickelt, der Mängel in transparenten kristallinen Materialien wie Saphir vor der Verarbeitung erkennt. Darüber hinaus trägt er prozesstechnische Echtzeitdaten zusammen, mit denen Hersteller Parameter modifizieren und das Auftreten künftiger Mängel reduzieren können. Das EU-finanzierte Projekt SiC_Scope unterstützt das Unternehmen bei der Anpassung der Technologie an Siliziumkarbid und andere intransparente Materialien.
Ziel
Industrially grown crystals are key to our modern life; from electric car batteries to airplane windows. One of the fastest-growing crystal segments is silicon carbide (SiC), highly demanded in semiconductor applications for power supplies, electric cars, solar inverters, trains, and wind turbines. SiC is expected to be one of the top-10 advanced materials in the market by 2021; the SiC device market will top €1.4B by 2023, with 31% CAGR from 2017-2023.
Growing crystals is an imperfect process. Particularly so for SiC, where unnoticed defects affect as many as 70% of all final wafers. Existing quality control techniques spot the defects after the crystal has been processed. Increased cost of the low yield sets today an obstacle to the wide application of SiC.
Scientific Visual (SV) is a Swiss company, established in 2010 and led by Dr. Ivan Orlov, PhD in crystallography, and COO Fréderic Falise. Our innovation, SiC_Scope, is a scanner to detect and map defects in raw SiC prior to crystal processing. Based on refractive index matching, it is more accurate and faster than existing solutions, providing increased yield at a lower cost. Using SiC_Scope, a single grower can obtain a 6.5M€/year cost saving. Moreover, the scanner gathers real-time information on the defects, which allows crystal growers to tune their processes, driving down the number of defective crystals.
In this project, we will adapt our existing technology currently applied to sapphires and other transparent crystals to detect the defects present in SiC which is a non-transparent crystal. Scientific Visual expects to attain absolute market leadership.
Wissenschaftliches Gebiet
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistryinorganic compounds
- natural sciencesearth and related environmental sciencesgeologymineralogycrystallography
- engineering and technologyenvironmental engineeringenergy and fuelsrenewable energywind power
- natural sciencesphysical scienceselectromagnetism and electronicssemiconductivity
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistrymetalloids
Schlüsselbegriffe
Programm/Programme
Thema/Themen
Aufforderung zur Vorschlagseinreichung
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H2020-EIC-SMEInst-2018-2020-3
Finanzierungsplan
SME-2 - SME instrument phase 2Koordinator
1006 Lausanne
Schweiz
Die Organisation definierte sich zum Zeitpunkt der Unterzeichnung der Finanzhilfevereinbarung selbst als KMU (Kleine und mittlere Unternehmen).