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Contenuto archiviato il 2022-12-23

Multi-element trace analysis of high-purity substances by mass spectrometric methods (especially glow discharge mass spectrometry) and spatial characterization of materials with layered or microscopic structure

Obiettivo



This research has a double goal. For the bulk trace analysis of high-purity materials it aims at a better understanding of flow discharge mass spectrometry in the participating laboratories. This is a technique of increasing importance for the very sensitive chemical and isotopic characterisation of materials, especially high-purity materials. The laboratory in Antwerp has had a commercial instrument since 1989, the laboratory in Jülich is building its own instrumentation (with the co-operation of a scientist from Novosibirsk), the laboratory of Chernogolovka also has plans to build its own instrument, and the laboratories of Moscow and St. Petersburg have been actively involved in theoretical work on glow discharge mass spectrometry and ion optics.

For spatially resolved analysis of materials with complex/layered structure, the western laboratories offer access to their high-resolution electron microscopes, the secondary ion mass spectrometer (ion microscopy/scanning microprobe mass analysis) and secondary neutral mass spectrometers.

The main objectives are: the theory of the multicomponent glow discharge plasma using Ar-H2 mixture as the working gas which will be developed; the analytical procedure for the quantitative analysis of InGaAsP/InP heterostructures by GDMS with the use of the mixtures mentioned, and the procedure of layer-by-layer analysis by SIMS which will be elaborated; the basic information on the heterostructures InGaAsP/InP with respect to the crystallochemical peculiarities, depth profiles for the main components as well as for dopants, and the lattice mismatch parameters obtained; and the growth conditions of the heterostructures mentioned which will be optimized (with the aim of reaching the almost ideal crystal structure), as well as the improvement of optoelectronic characteristics of devices based on the InGaAsP/InP structures obtained.

Programma(i)

Programmi di finanziamento pluriennali che definiscono le priorità dell’UE in materia di ricerca e innovazione.

Argomento(i)

Gli inviti a presentare proposte sono suddivisi per argomenti. Un argomento definisce un’area o un tema specifico per il quale i candidati possono presentare proposte. La descrizione di un argomento comprende il suo ambito specifico e l’impatto previsto del progetto finanziato.

Invito a presentare proposte

Procedura per invitare i candidati a presentare proposte di progetti, con l’obiettivo di ricevere finanziamenti dall’UE.

Dati non disponibili

Meccanismo di finanziamento

Meccanismo di finanziamento (o «Tipo di azione») all’interno di un programma con caratteristiche comuni. Specifica: l’ambito di ciò che viene finanziato; il tasso di rimborso; i criteri di valutazione specifici per qualificarsi per il finanziamento; l’uso di forme semplificate di costi come gli importi forfettari.

Dati non disponibili

Coordinatore

Universiteit Antwerpen UIA
Contributo UE
Nessun dato
Indirizzo
Universiteitsplein 1
2610 Antwerpen
Belgio

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Costo totale

I costi totali sostenuti dall’organizzazione per partecipare al progetto, compresi i costi diretti e indiretti. Questo importo è un sottoinsieme del bilancio complessivo del progetto.

Nessun dato

Partecipanti (7)

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