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CORDIS - Résultats de la recherche de l’UE
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Autonomous Creation of Analog Integrated Circuits based on Self-Learning of Design Expertise

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Publications

Analog synthesis 3.0: AI/ML to boost automated design and test ofanalog/mixed-signal ICs

Auteurs: Georges Gielen
Publié dans: proceedings ASP-DAC, Numéro 2023, 2023
Éditeur: IEEE

Using probabilistic model rollouts to boost the sample efficiency of reinforcement learning for automated analog circuit sizing

Auteurs: Mohsen Ahmadzadeh; Georges Gielen
Publié dans: proceedings Design Automation Conference (DAC), Numéro 2024, 2024
Éditeur: ACM/IEEE

Self-learning and transfer across topologies of constraints for analog/mixed-signal circuit layout synthesis (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Kaichang Chen; Georges Gielen
Publié dans: proceedings Design, Automation & Test in Europe (DATE) conference, Numéro 2024, 2024
Éditeur: EDAA/IEEE/ACM
DOI: 10.23919/DATE58400.2024.10546850

Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: P. Bernardi; R. Cantoro; A. Coyette; W. Dobbeleare; M. Fieback; A. Floridia; Georges Gielen; J. Gomez; M. Grosso; A. Guerriero; I. Guglielminetti; S. Hamdioui; G. Insinga; N. Mautone; N. Mirabella; S. Sartoni; M. Sonza Reorda; R. Ullmann; R. Vanhooren; Nektar Xama; L. Wu
Publié dans: proceedings 2022 IEEE 28TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ON-LINE TESTING AND ROBUST SYSTEM DESIGN (IOLTS 2022), Numéro 2022, 2022
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/iolts56730.2022.9897647

Analog synthesis 3.0: AI/ML to synthesize and test analog ICs: hope or hype ? (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Georges Gielen
Publié dans: proceedings ACM/IEEE Workshop on Machine Learning for CAD (MLCAD), Numéro 2024, 2024
Éditeur: ACM/IEEE
DOI: 10.1109/mlcad58807.2023.10299830

Boosting Latent Defect Coverage in Automotive Mixed-Signal ICs using SVM Classifiers (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Nektar Xama; Jhon Gomez Caicedo; Georges Gielen
Publié dans: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits And Systems, Numéro 2023, 2023, ISSN 0278-0070
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/tcad.2023.3244892

AI in the edge; the edge of AI

Auteurs: Georges Gielen
Publié dans: keynote presentation Design, Automation & Test in Europe (DATE) conference, Numéro 2022, 2022
Éditeur: IEEE CEDA

Machine-learning-based synthesis of analog integrated circuits exploiting the self-learning of design expertise

Auteurs: Georges Gielen
Publié dans: invited presentation MPSoC'22 conference, Numéro 2022, 2022
Éditeur: EDAA/IEEE

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