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CORDIS - Risultati della ricerca dell’UE
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Autonomous Creation of Analog Integrated Circuits based on Self-Learning of Design Expertise

CORDIS fornisce collegamenti ai risultati finali pubblici e alle pubblicazioni dei progetti ORIZZONTE.

I link ai risultati e alle pubblicazioni dei progetti del 7° PQ, così come i link ad alcuni tipi di risultati specifici come dataset e software, sono recuperati dinamicamente da .OpenAIRE .

Pubblicazioni

Analog synthesis 3.0: AI/ML to boost automated design and test ofanalog/mixed-signal ICs

Autori: Georges Gielen
Pubblicato in: proceedings ASP-DAC, Numero 2023, 2023
Editore: IEEE

Using probabilistic model rollouts to boost the sample efficiency of reinforcement learning for automated analog circuit sizing

Autori: Mohsen Ahmadzadeh; Georges Gielen
Pubblicato in: proceedings Design Automation Conference (DAC), Numero 2024, 2024
Editore: ACM/IEEE

Self-learning and transfer across topologies of constraints for analog/mixed-signal circuit layout synthesis (si apre in una nuova finestra)

Autori: Kaichang Chen; Georges Gielen
Pubblicato in: proceedings Design, Automation & Test in Europe (DATE) conference, Numero 2024, 2024
Editore: EDAA/IEEE/ACM
DOI: 10.23919/DATE58400.2024.10546850

Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing (si apre in una nuova finestra)

Autori: P. Bernardi; R. Cantoro; A. Coyette; W. Dobbeleare; M. Fieback; A. Floridia; Georges Gielen; J. Gomez; M. Grosso; A. Guerriero; I. Guglielminetti; S. Hamdioui; G. Insinga; N. Mautone; N. Mirabella; S. Sartoni; M. Sonza Reorda; R. Ullmann; R. Vanhooren; Nektar Xama; L. Wu
Pubblicato in: proceedings 2022 IEEE 28TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ON-LINE TESTING AND ROBUST SYSTEM DESIGN (IOLTS 2022), Numero 2022, 2022
Editore: IEEE
DOI: 10.1109/iolts56730.2022.9897647

Analog synthesis 3.0: AI/ML to synthesize and test analog ICs: hope or hype ? (si apre in una nuova finestra)

Autori: Georges Gielen
Pubblicato in: proceedings ACM/IEEE Workshop on Machine Learning for CAD (MLCAD), Numero 2024, 2024
Editore: ACM/IEEE
DOI: 10.1109/mlcad58807.2023.10299830

Boosting Latent Defect Coverage in Automotive Mixed-Signal ICs using SVM Classifiers (si apre in una nuova finestra)

Autori: Nektar Xama; Jhon Gomez Caicedo; Georges Gielen
Pubblicato in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits And Systems, Numero 2023, 2023, ISSN 0278-0070
Editore: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/tcad.2023.3244892

AI in the edge; the edge of AI

Autori: Georges Gielen
Pubblicato in: keynote presentation Design, Automation & Test in Europe (DATE) conference, Numero 2022, 2022
Editore: IEEE CEDA

Machine-learning-based synthesis of analog integrated circuits exploiting the self-learning of design expertise

Autori: Georges Gielen
Pubblicato in: invited presentation MPSoC'22 conference, Numero 2022, 2022
Editore: EDAA/IEEE

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