Skip to main content
Ir a la página de inicio de la Comisión Europea (se abrirá en una nueva ventana)
español español
CORDIS - Resultados de investigaciones de la UE
CORDIS

NEUROmorphic energy-efficient secure accelerators based on Phase change materials aUgmented siLicon photonicS

CORDIS proporciona enlaces a los documentos públicos y las publicaciones de los proyectos de los programas marco HORIZONTE.

Los enlaces a los documentos y las publicaciones de los proyectos del Séptimo Programa Marco, así como los enlaces a algunos tipos de resultados específicos, como conjuntos de datos y «software», se obtienen dinámicamente de OpenAIRE .

Resultado final

Publicaciones

IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Carpegna, Alessio; Savino, Alessandro; Di Carlo, Stefano
Publicado en: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, 2024, ISSN 2168-6750
Editor: ieee
DOI: 10.48550/ARXIV.2401.01141

High‐Endurance and Energy‐Efficient All‐Optical Programming of Scalable Silicon Waveguides with Integrated Phase‐Change Material Patches (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Rajath Sawant, Anthony Albanese, Arnaud Rogemont, Gregorio Gonzalez‐Cortes, Yoann Brûlé, Lara Karam, Jean‐Baptiste Jager, Stephane Malhouitre, Benoit Charbonnier, Aurélien Coillet, Pierre Noé, Benoit Cluzel
Publicado en: Advanced Optical Materials, 2025, ISSN 2195-1071
Editor: Wiley
DOI: 10.1002/ADOM.202500775

Silent Data Corruptions: Microarchitectural Perspectives (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Publicado en: IEEE Transactions on Computers, 2023, ISSN 1557-9956
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/TC.2023.3285094

Phase change materials for reconfigurable photonic integrated circuits (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Pierre Noé; Benoit Cluzel; Stéphane Malhouitre; Benoît Charbonnier; Fabio Pavanello
Publicado en: Open Access Government, 2025, ISSN 0000-0000
Editor: Open Access Government
DOI: 10.5281/ZENODO.15129565

Estimating the Failures and Silent Errors Rates of CPUs Across ISAs and Microarchitectures (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Chatzopoulos, Odysseas
Publicado en: 2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/ITC51656.2023.00056

Visual identity, project website and social network account (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Van Vaerenbergh, Thomas
Publicado en: ZENODO, 2023
Editor: ZENODO
DOI: 10.5281/zenodo.8297735

Emergent self-adaptation in an integrated photonic neural network for backpropagation-free learning (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Alessio Lugnan; Samarth Aggarwal; Frank Brückerhoff-Plückelmann; C David Wright; Wolfram Pernice; Harish Bhaskaran; Peter Bienstman
Publicado en: Crossref, 2023
Editor: Crossref
DOI: 10.48550/ARXIV.2312.03802

Phase‐Change and Ovonic Materials (Fourth Edition) (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Noé, Pierre; Kooi, Bart J.; Wuttig, Matthias
Publicado en: Crossref, 2023, ISSN 1862-6270
Editor: Wiley
DOI: 10.1002/PSSR.202300129

Special Session: Neuromorphic hardware design and reliability from traditional CMOS to emerging technologies (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Pavanello, Fabio; Vatajelu, Ioana; Bosio, Alberto; van Vaerenbergh, Thomas; Bienstman, Peter; Charbonnier, Benoit; Carpegna, Alessio; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Publicado en: Proceedings of 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023, ISSN 0000-0000
Editor: IEEE 2023
DOI: 10.48550/arxiv.2305.01818

Braided interferometer mesh for robust photonic matrix-vector multiplications with non-ideal components (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Marchesin, Federico; Hejda, Matěj; Melendez Carmona, Tzamn; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro; Pavanello, Fabio; Van Varenbergh, Thomas; Bienstman, Peter
Publicado en: Optics Express, 2025
Editor: Optics Express
DOI: 10.48550/ARXIV.2411.02243

Complexity Assessment of Analog Security Primitives Using the Disentropy of Autocorrelation (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Jimenez, Paul; Cardoso, Raphael; Gomes de Queiroz, Mauricio; Abdalla, Mohab; Marchand, Cédric; Letartre, Xavier; Pavanello, Fabio
Publicado en: arxiv, 2024, ISSN 2331-8422
Editor: arxiv
DOI: 10.5281/ZENODO.12721091

Energy Efficiency of Out-of-Order CPUs: Comparative Study and Microarchitectural Hotspot Characterization of RISC-V Designs (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Chatzopoulos, Odysseas; Papadimitriou, George; Wong, Wing Shek; Gizopoulos, Dimitris
Publicado en: 2023 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC), 2023
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/IISWC59245.2023.00032

Neuromorphic Heart Rate Monitors: Neural State Machines for Monotonic Change Detection (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Carpegna, Alessio; De Luca, Chiara; Pozzi, Federico Emanuele; Savino, Alessandro; Di Carlo, Stefano; Indiveri, Giacomo; Donati, Elisa
Publicado en: 2024 IEEE Biomedical Circuits and Systems Conference (BioCAS), 2024
Editor: IEEE
DOI: 10.5167/UZH-268701

Photonic Physical Unclonable Function Based on Symmetric Microring Resonator Arrays (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Jimenez, Paul; Cardoso, Raphael; Gomes de Queiroz, Mauricio; Abdalla, Mohab; Zrounba, Clément; Letartre, Xavier; Marchand, Cédric; Ruhrmair, Ulrich; Pavanello, Fabio
Publicado en: Frontiers In Optics (FiO) - 2023, 2023, ISSN 0000-0000, ISBN 978-1-957171-29-6
Editor: Optica
DOI: 10.1364/FIO.2023.JTu4A.82

Automated Black-box Testing of Mass Assignment Vulnerabilities in RESTful APIs (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Corradini, Davide; PASQUA, MICHELE; Ceccato, Mariano
Publicado en: ICSE '23: Proceedings of the 45th International Conference on Software Engineering, 2023, ISSN 1000-0153
Editor: IEEE/ACM
DOI: 10.1109/ICSE48619.2023.00213

Enabling Design Space Exploration of RISC-V Accelerator-rich Computing Systems on gem5

Autores: Odysseas Chatzopoulos; George Papadimitriou; Vasileios Karakostas; Dimitris Gizopoulos
Publicado en: RISC-V Summit 2023, 2023, ISSN 0000-0000
Editor: RISC-V International

Silent Data Errors: Sources, Detection, and Modeling (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Singh, Adit; Chakravarty, Sreejit; Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Publicado en: 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/VTS56346.2023.10139970

Leveraging nonlinear dynamics in silicon microring resonator arrays for image classification via reservoir computing (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Foradori, Alessandro; Lugnan, Alessio; Pavesi, Lorenzo; Bienstman, Peter
Publicado en: AI and Optical Data Sciences VI, 2025, ISSN 0000-0000
Editor: AI and Optical Data Sciences VI
DOI: 10.1117/12.3045067

On-chip photonic neural network for multi-wavelength time-dependent signal processing (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: A. Lugnan, A. Foradori, S. Biasi, P. Bienstman, L. Pavesi
Publicado en: 2024 IEEE Photonics Conference (IPC), 2024
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/IPC60965.2024.10799628

Remote Attestation of IoT Devices using Physically Unclonable Functions: Recent Advancements and Open Research Challenges (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Marastoni, Niccolò; Ceccato, Mariano
Publicado en: CPSIoTSec '23: Proceedings of the 5th Workshop on CPS&IoT Security and Privacy, 2023, ISSN 0000-0000
Editor: IEEE
DOI: 10.1145/3605758.3623502

NEUROPULS: NEUROmorphic energy-efficient secure accelerators based on Phase change materials aUgmented siLicon photonicS (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Pavanello, Fabio; Marchand, Cédric; O'Connor, Ian; Orobtchouk, Régis; Mandorlo, Fabien; Letartre, Xavier; Cueff, Sébastien; Vatajelu, Ioana; Di Natale, Giorgio; Cluzel, Benoit; Coillet, Aurélien; Charbonnier, Benoit; Noé, Pierre; Kaván, František; Zoldak, Martin; Szaj, Michal; Bienstman, Peter; van Vaerenbergh, Thomas; Rührmair, Ulrich; Flores, Paulo; Guerra E Silva, Luis; Chaves, Ricardo; Silveira, Luis Miguel; Ceccato, Mariano; Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Karakostas, Vasileios; Brando, Axel; Cazorla, Francisco Javier; Canal, Ramon; Closas, Pau; Gusi Amigo, Adrià; Crovetti, Paolo Stefano; Carpegna, Alessio; Tzamn, Melendez Carmona; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Publicado en: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, ISSN 0410-3942
Editor: IEEE
DOI: 10.48550/arxiv.2305.03139

Buscando datos de OpenAIRE...

Se ha producido un error en la búsqueda de datos de OpenAIRE

No hay resultados disponibles

Mi folleto 0 0