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CORDIS - Résultats de la recherche de l’UE
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NEUROmorphic energy-efficient secure accelerators based on Phase change materials aUgmented siLicon photonicS

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Publications

IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Carpegna, Alessio; Savino, Alessandro; Di Carlo, Stefano
Publié dans: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing, 2024, ISSN 2168-6750
Éditeur: ieee
DOI: 10.48550/ARXIV.2401.01141

High‐Endurance and Energy‐Efficient All‐Optical Programming of Scalable Silicon Waveguides with Integrated Phase‐Change Material Patches (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Rajath Sawant, Anthony Albanese, Arnaud Rogemont, Gregorio Gonzalez‐Cortes, Yoann Brûlé, Lara Karam, Jean‐Baptiste Jager, Stephane Malhouitre, Benoit Charbonnier, Aurélien Coillet, Pierre Noé, Benoit Cluzel
Publié dans: Advanced Optical Materials, 2025, ISSN 2195-1071
Éditeur: Wiley
DOI: 10.1002/ADOM.202500775

Silent Data Corruptions: Microarchitectural Perspectives (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Publié dans: IEEE Transactions on Computers, 2023, ISSN 1557-9956
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/TC.2023.3285094

Phase change materials for reconfigurable photonic integrated circuits (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Pierre Noé; Benoit Cluzel; Stéphane Malhouitre; Benoît Charbonnier; Fabio Pavanello
Publié dans: Open Access Government, 2025, ISSN 0000-0000
Éditeur: Open Access Government
DOI: 10.5281/ZENODO.15129565

Estimating the Failures and Silent Errors Rates of CPUs Across ISAs and Microarchitectures (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Chatzopoulos, Odysseas
Publié dans: 2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/ITC51656.2023.00056

Visual identity, project website and social network account (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Van Vaerenbergh, Thomas
Publié dans: ZENODO, 2023
Éditeur: ZENODO
DOI: 10.5281/zenodo.8297735

Emergent self-adaptation in an integrated photonic neural network for backpropagation-free learning (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Alessio Lugnan; Samarth Aggarwal; Frank Brückerhoff-Plückelmann; C David Wright; Wolfram Pernice; Harish Bhaskaran; Peter Bienstman
Publié dans: Crossref, 2023
Éditeur: Crossref
DOI: 10.48550/ARXIV.2312.03802

Phase‐Change and Ovonic Materials (Fourth Edition) (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Noé, Pierre; Kooi, Bart J.; Wuttig, Matthias
Publié dans: Crossref, 2023, ISSN 1862-6270
Éditeur: Wiley
DOI: 10.1002/PSSR.202300129

Special Session: Neuromorphic hardware design and reliability from traditional CMOS to emerging technologies (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Pavanello, Fabio; Vatajelu, Ioana; Bosio, Alberto; van Vaerenbergh, Thomas; Bienstman, Peter; Charbonnier, Benoit; Carpegna, Alessio; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Publié dans: Proceedings of 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023, ISSN 0000-0000
Éditeur: IEEE 2023
DOI: 10.48550/arxiv.2305.01818

Braided interferometer mesh for robust photonic matrix-vector multiplications with non-ideal components (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Marchesin, Federico; Hejda, Matěj; Melendez Carmona, Tzamn; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro; Pavanello, Fabio; Van Varenbergh, Thomas; Bienstman, Peter
Publié dans: Optics Express, 2025
Éditeur: Optics Express
DOI: 10.48550/ARXIV.2411.02243

Complexity Assessment of Analog Security Primitives Using the Disentropy of Autocorrelation (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Jimenez, Paul; Cardoso, Raphael; Gomes de Queiroz, Mauricio; Abdalla, Mohab; Marchand, Cédric; Letartre, Xavier; Pavanello, Fabio
Publié dans: arxiv, 2024, ISSN 2331-8422
Éditeur: arxiv
DOI: 10.5281/ZENODO.12721091

Energy Efficiency of Out-of-Order CPUs: Comparative Study and Microarchitectural Hotspot Characterization of RISC-V Designs (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Chatzopoulos, Odysseas; Papadimitriou, George; Wong, Wing Shek; Gizopoulos, Dimitris
Publié dans: 2023 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC), 2023
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/IISWC59245.2023.00032

Neuromorphic Heart Rate Monitors: Neural State Machines for Monotonic Change Detection (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Carpegna, Alessio; De Luca, Chiara; Pozzi, Federico Emanuele; Savino, Alessandro; Di Carlo, Stefano; Indiveri, Giacomo; Donati, Elisa
Publié dans: 2024 IEEE Biomedical Circuits and Systems Conference (BioCAS), 2024
Éditeur: IEEE
DOI: 10.5167/UZH-268701

Photonic Physical Unclonable Function Based on Symmetric Microring Resonator Arrays (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Jimenez, Paul; Cardoso, Raphael; Gomes de Queiroz, Mauricio; Abdalla, Mohab; Zrounba, Clément; Letartre, Xavier; Marchand, Cédric; Ruhrmair, Ulrich; Pavanello, Fabio
Publié dans: Frontiers In Optics (FiO) - 2023, 2023, ISSN 0000-0000, ISBN 978-1-957171-29-6
Éditeur: Optica
DOI: 10.1364/FIO.2023.JTu4A.82

Automated Black-box Testing of Mass Assignment Vulnerabilities in RESTful APIs (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Corradini, Davide; PASQUA, MICHELE; Ceccato, Mariano
Publié dans: ICSE '23: Proceedings of the 45th International Conference on Software Engineering, 2023, ISSN 1000-0153
Éditeur: IEEE/ACM
DOI: 10.1109/ICSE48619.2023.00213

Enabling Design Space Exploration of RISC-V Accelerator-rich Computing Systems on gem5

Auteurs: Odysseas Chatzopoulos; George Papadimitriou; Vasileios Karakostas; Dimitris Gizopoulos
Publié dans: RISC-V Summit 2023, 2023, ISSN 0000-0000
Éditeur: RISC-V International

Silent Data Errors: Sources, Detection, and Modeling (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Singh, Adit; Chakravarty, Sreejit; Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Publié dans: 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/VTS56346.2023.10139970

Leveraging nonlinear dynamics in silicon microring resonator arrays for image classification via reservoir computing (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Foradori, Alessandro; Lugnan, Alessio; Pavesi, Lorenzo; Bienstman, Peter
Publié dans: AI and Optical Data Sciences VI, 2025, ISSN 0000-0000
Éditeur: AI and Optical Data Sciences VI
DOI: 10.1117/12.3045067

On-chip photonic neural network for multi-wavelength time-dependent signal processing (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: A. Lugnan, A. Foradori, S. Biasi, P. Bienstman, L. Pavesi
Publié dans: 2024 IEEE Photonics Conference (IPC), 2024
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/IPC60965.2024.10799628

Remote Attestation of IoT Devices using Physically Unclonable Functions: Recent Advancements and Open Research Challenges (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Marastoni, Niccolò; Ceccato, Mariano
Publié dans: CPSIoTSec '23: Proceedings of the 5th Workshop on CPS&IoT Security and Privacy, 2023, ISSN 0000-0000
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1145/3605758.3623502

NEUROPULS: NEUROmorphic energy-efficient secure accelerators based on Phase change materials aUgmented siLicon photonicS (s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)

Auteurs: Pavanello, Fabio; Marchand, Cédric; O'Connor, Ian; Orobtchouk, Régis; Mandorlo, Fabien; Letartre, Xavier; Cueff, Sébastien; Vatajelu, Ioana; Di Natale, Giorgio; Cluzel, Benoit; Coillet, Aurélien; Charbonnier, Benoit; Noé, Pierre; Kaván, František; Zoldak, Martin; Szaj, Michal; Bienstman, Peter; van Vaerenbergh, Thomas; Rührmair, Ulrich; Flores, Paulo; Guerra E Silva, Luis; Chaves, Ricardo; Silveira, Luis Miguel; Ceccato, Mariano; Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Karakostas, Vasileios; Brando, Axel; Cazorla, Francisco Javier; Canal, Ramon; Closas, Pau; Gusi Amigo, Adrià; Crovetti, Paolo Stefano; Carpegna, Alessio; Tzamn, Melendez Carmona; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Publié dans: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, ISSN 0410-3942
Éditeur: IEEE
DOI: 10.48550/arxiv.2305.03139

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