Risultati finali
Metrics Definition
In the context of all benchmarking activities, this deliverable will be a reference to analyze, discuss, and enlist all evaluation metrics.
System architecture model and simulation platform: iteration 1Data management plan: iteration 1
Pubblicazioni
Autori:
Van Vaerenbergh, Thomas
Pubblicato in:
2023
DOI:
10.5281/zenodo.8297735
Autori:
Pavanello, Fabio; Vatajelu, Ioana; Bosio, Alberto; van Vaerenbergh, Thomas; Bienstman, Peter; Charbonnier, Benoit; Carpegna, Alessio; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Pubblicato in:
Proceedings of 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023, ISSN 0000-0000
Editore:
IEEE 2023
DOI:
10.48550/arxiv.2305.01818
Autori:
Chatzopoulos, Odysseas; Papadimitriou, George; Wong, Wing Shek; Gizopoulos, Dimitris
Pubblicato in:
2023 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC), 2023
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/IISWC59245.2023.00032
Autori:
Jimenez, Paul; Cardoso, Raphael; Gomes de Queiroz, Mauricio; Abdalla, Mohab; Zrounba, Clément; Letartre, Xavier; Marchand, Cédric; Ruhrmair, Ulrich; Pavanello, Fabio
Pubblicato in:
Frontiers In Optics (FiO) - 2023, 2023, ISBN 978-1-957171-29-6
Editore:
Optica
DOI:
10.1364/FIO.2023.JTu4A.82
Autori:
Corradini, Davide; PASQUA, MICHELE; Ceccato, Mariano
Pubblicato in:
ICSE '23: Proceedings of the 45th International Conference on Software Engineering, 2023, ISSN 1000-0153
Editore:
IEEE/ACM
DOI:
10.1109/ICSE48619.2023.00213
Autori:
Odysseas Chatzopoulos; George Papadimitriou; Vasileios Karakostas; Dimitris Gizopoulos
Pubblicato in:
RISC-V Sumit 2023, 2023, ISSN 0000-0000
Editore:
RISC-V Sumit 2023
Autori:
Singh, Adit; Chakravarty, Sreejit; Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Pubblicato in:
2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/VTS56346.2023.10139970
Autori:
Marastoni, Niccolò; Ceccato, Mariano
Pubblicato in:
CPSIoTSec '23: Proceedings of the 5th Workshop on CPS&IoT Security and Privacy, 2023, ISSN 0000-0000
Editore:
IEEE
DOI:
10.1145/3605758.3623502
Autori:
Pavanello, Fabio; Marchand, Cédric; O'Connor, Ian; Orobtchouk, Régis; Mandorlo, Fabien; Letartre, Xavier; Cueff, Sébastien; Vatajelu, Ioana; Di Natale, Giorgio; Cluzel, Benoit; Coillet, Aurélien; Charbonnier, Benoit; Noé, Pierre; Kaván, František; Zoldak, Martin; Szaj, Michal; Bienstman, Peter; van Vaerenbergh, Thomas; Rührmair, Ulrich; Flores, Paulo; Guerra E Silva, Luis; Chaves, Ricardo; Silveira, Luis Miguel; Ceccato, Mariano; Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Karakostas, Vasileios; Brando, Axel; Cazorla, Francisco Javier; Canal, Ramon; Closas, Pau; Gusi Amigo, Adrià; Crovetti, Paolo Stefano; Carpegna, Alessio; Tzamn, Melendez Carmona; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Pubblicato in:
2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, ISSN 0410-3942
Editore:
IEEE
DOI:
10.48550/arxiv.2305.03139
Autori:
Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Pubblicato in:
IEEE Transactions on Computers, 2023, ISSN 1557-9956
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/TC.2023.3285094
Autori:
Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Chatzopoulos, Odysseas
Pubblicato in:
2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC51656.2023.00056
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