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Leistungen
Metrics Definition (öffnet in neuem Fenster)
In the context of all benchmarking activities, this deliverable will be a reference to analyze, discuss, and enlist all evaluation metrics.
System architecture model and simulation platform: iteration 1 (öffnet in neuem Fenster)Data management plan: iteration 1 (öffnet in neuem Fenster)
Veröffentlichungen
Autoren:
Van Vaerenbergh, Thomas
Veröffentlicht in:
ZENODO, 2023
Herausgeber:
ZENODO
DOI:
10.5281/zenodo.8297735
Autoren:
Alessio Lugnan; Samarth Aggarwal; Frank Brückerhoff-Plückelmann; C David Wright; Wolfram Pernice; Harish Bhaskaran; Peter Bienstman
Veröffentlicht in:
Crossref, 2023
Herausgeber:
TO COMPLETE
DOI:
10.48550/arxiv.2312.03802
Autoren:
Noé, Pierre; Kooi, Bart J.; Wuttig, Matthias
Veröffentlicht in:
Crossref, 2023
Herausgeber:
TO COMPLETE
DOI:
10.1002/pssr.202300129
Autoren:
Pavanello, Fabio; Vatajelu, Ioana; Bosio, Alberto; van Vaerenbergh, Thomas; Bienstman, Peter; Charbonnier, Benoit; Carpegna, Alessio; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Veröffentlicht in:
Proceedings of 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023, ISSN 0000-0000
Herausgeber:
IEEE 2023
DOI:
10.48550/arxiv.2305.01818
Autoren:
Chatzopoulos, Odysseas; Papadimitriou, George; Wong, Wing Shek; Gizopoulos, Dimitris
Veröffentlicht in:
2023 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC), 2023
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/IISWC59245.2023.00032
Autoren:
Jimenez, Paul; Cardoso, Raphael; Gomes de Queiroz, Mauricio; Abdalla, Mohab; Zrounba, Clément; Letartre, Xavier; Marchand, Cédric; Ruhrmair, Ulrich; Pavanello, Fabio
Veröffentlicht in:
Frontiers In Optics (FiO) - 2023, 2023, ISBN 978-1-957171-29-6
Herausgeber:
Optica
DOI:
10.1364/FIO.2023.JTu4A.82
Autoren:
Corradini, Davide; PASQUA, MICHELE; Ceccato, Mariano
Veröffentlicht in:
ICSE '23: Proceedings of the 45th International Conference on Software Engineering, 2023, ISSN 1000-0153
Herausgeber:
IEEE/ACM
DOI:
10.1109/ICSE48619.2023.00213
Autoren:
Odysseas Chatzopoulos; George Papadimitriou; Vasileios Karakostas; Dimitris Gizopoulos
Veröffentlicht in:
RISC-V Summit 2023, 2023, ISSN 0000-0000
Herausgeber:
RISC-V International
Autoren:
Singh, Adit; Chakravarty, Sreejit; Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Veröffentlicht in:
2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/VTS56346.2023.10139970
Autoren:
A. Lugnan, A. Foradori, S. Biasi, P. Bienstman, L. Pavesi
Veröffentlicht in:
2024 IEEE Photonics Conference (IPC), 2024
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/IPC60965.2024.10799628
Autoren:
Marastoni, Niccolò; Ceccato, Mariano
Veröffentlicht in:
CPSIoTSec '23: Proceedings of the 5th Workshop on CPS&IoT Security and Privacy, 2023, ISSN 0000-0000
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1145/3605758.3623502
Autoren:
Pavanello, Fabio; Marchand, Cédric; O'Connor, Ian; Orobtchouk, Régis; Mandorlo, Fabien; Letartre, Xavier; Cueff, Sébastien; Vatajelu, Ioana; Di Natale, Giorgio; Cluzel, Benoit; Coillet, Aurélien; Charbonnier, Benoit; Noé, Pierre; Kaván, František; Zoldak, Martin; Szaj, Michal; Bienstman, Peter; van Vaerenbergh, Thomas; Rührmair, Ulrich; Flores, Paulo; Guerra E Silva, Luis; Chaves, Ricardo; Silveira, Luis Miguel; Ceccato, Mariano; Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Karakostas, Vasileios; Brando, Axel; Cazorla, Francisco Javier; Canal, Ramon; Closas, Pau; Gusi Amigo, Adrià; Crovetti, Paolo Stefano; Carpegna, Alessio; Tzamn, Melendez Carmona; Di Carlo, Stefano; Savino, Alessandro
Veröffentlicht in:
2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, ISSN 0410-3942
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.48550/arxiv.2305.03139
Autoren:
Papadimitriou, George; Gizopoulos, Dimitris
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Computers, 2023, ISSN 1557-9956
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/TC.2023.3285094
Autoren:
Gizopoulos, Dimitris; Papadimitriou, George; Chatzopoulos, Odysseas
Veröffentlicht in:
2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ITC51656.2023.00056
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