Unconventional magnetoresistance and resistivity scaling in amorphous CoSi thin films
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Autores:
Lorenzo Rocchino, Alan Molinari, Igor Kladaric, Federico Balduini, Heinz Schmid, Marilyne Sousa, John Bruley, Holt Bui, Bernd Gotsmann, Cezar B. Zota
Publicado en:
Scientific Reports, Edición 14, 2024, ISSN 2045-2322
Editor:
Springer Science and Business Media LLC
DOI:
10.1038/S41598-024-71614-W
"Design guidelines for Gr-MoS<mml:math xmlns:mml=""http://www.w3.org/1998/Math/MathML"" altimg=""si4.svg"" display=""inline"" id=""d1e274""><mml:msub><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:math> based DS-FETs"
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Autores:
Tommaso Ugolini, Elena Gnani
Publicado en:
Solid-State Electronics, Edición 230, 2025, ISSN 0038-1101
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/J.SSE.2025.109216
Orientation dependent resistivity scaling in mesoscopic NbP crystals
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Autores:
Gianluca Mariani, Federico Balduini, Nathan Drucker, Lorenzo Rocchino, Vicky Hasse, Claudia Felser, Heinz Schmid, Cezar Zota, Bernd Gotsmann
Publicado en:
Communications Materials, Edición 6, 2025, ISSN 2662-4443
Editor:
Springer Science and Business Media LLC
DOI:
10.1038/S43246-025-00828-W
Transfer-Matrix Modeling of the Access Region Resistance in Graphene Based Dirac-Source FETs
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Autores:
Erica Baccichetti, David Esseni
Publicado en:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Edición 13, 2025, ISSN 2168-6734
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI:
10.1109/JEDS.2025.3533599
Investigation on the performance limits of Dirac-source FETs
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Autores:
Tommaso Ugolini, Elena Gnani
Publicado en:
Solid-State Electronics, Edición 228, 2025, ISSN 0038-1101
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/J.SSE.2025.109124