Unconventional magnetoresistance and resistivity scaling in amorphous CoSi thin films
(s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)
Auteurs:
Lorenzo Rocchino, Alan Molinari, Igor Kladaric, Federico Balduini, Heinz Schmid, Marilyne Sousa, John Bruley, Holt Bui, Bernd Gotsmann, Cezar B. Zota
Publié dans:
Scientific Reports, Numéro 14, 2024, ISSN 2045-2322
Éditeur:
Springer Science and Business Media LLC
DOI:
10.1038/S41598-024-71614-W
"Design guidelines for Gr-MoS<mml:math xmlns:mml=""http://www.w3.org/1998/Math/MathML"" altimg=""si4.svg"" display=""inline"" id=""d1e274""><mml:msub><mml:mrow/><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:math> based DS-FETs"
(s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)
Auteurs:
Tommaso Ugolini, Elena Gnani
Publié dans:
Solid-State Electronics, Numéro 230, 2025, ISSN 0038-1101
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/J.SSE.2025.109216
Orientation dependent resistivity scaling in mesoscopic NbP crystals
(s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)
Auteurs:
Gianluca Mariani, Federico Balduini, Nathan Drucker, Lorenzo Rocchino, Vicky Hasse, Claudia Felser, Heinz Schmid, Cezar Zota, Bernd Gotsmann
Publié dans:
Communications Materials, Numéro 6, 2025, ISSN 2662-4443
Éditeur:
Springer Science and Business Media LLC
DOI:
10.1038/S43246-025-00828-W
Transfer-Matrix Modeling of the Access Region Resistance in Graphene Based Dirac-Source FETs
(s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)
Auteurs:
Erica Baccichetti, David Esseni
Publié dans:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Numéro 13, 2025, ISSN 2168-6734
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI:
10.1109/JEDS.2025.3533599
Investigation on the performance limits of Dirac-source FETs
(s’ouvre dans une nouvelle fenêtre)
Auteurs:
Tommaso Ugolini, Elena Gnani
Publié dans:
Solid-State Electronics, Numéro 228, 2025, ISSN 0038-1101
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/J.SSE.2025.109124