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CORDIS - Résultats de la recherche de l’UE
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Contenu archivé le 2024-05-29

Scatterometry Overlay Control Technology in the integrated circuit industry for the 32nm technology node and beyond

Objectif

The overlay control budget for the 32nm technology node will be approximately 10nm according to the ITRS. The overlay metrology budget is typically 1/10 of the overlay control budget resulting in overlay metrology performance requirements of 1nm. Theoretical considerations show that overlay technology based on scatterometry has inherent advantages, which will allow it to achieve this strict requirement and go beyond it.

We have demonstrated a breakthrough scatterometry overlay technology in preliminary proof-of-concept experiments. The results of these studies are promising, and at this early stage position scatterometry as one of the leading contenders for the overlay technology for the 32nm node and beyond. We propose to carry out a thorough and detailed research program with the goal of transforming the promising concept into a well-developed technology, which meets the most strict overlay control requirements of the future.

The anticipated outcome of the project is an optimal methodology for a scatterometry overlay tool design, target design and algorithms, which allow overlay control with a significantly improved Total Measurement Uncertainty (TMU) and reduced systematic bias with respect to device structures, on layers fabricated with the most advanced processes and materials.

We will achieve this through extensive research in target design including the design and fabrication of a dedicated reticle. Extensive measurements of selected targets will be carried out on both RandD and production wafers. The project will also involve a substantial amount of simulations of the lithography process and of the scatterometry signal.

The success of the project will be ensured through a very close collaboration of the leading overlay metrology company worldwide with leading European research institution and semiconductor manufacturer. This consortium will augment the European leadership in the microelectronics industry.

Champ scientifique (EuroSciVoc)

CORDIS classe les projets avec EuroSciVoc, une taxonomie multilingue des domaines scientifiques, grâce à un processus semi-automatique basé sur des techniques TLN. Voir: Le vocabulaire scientifique européen.

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Thème(s)

Les appels à propositions sont divisés en thèmes. Un thème définit un sujet ou un domaine spécifique dans le cadre duquel les candidats peuvent soumettre des propositions. La description d’un thème comprend sa portée spécifique et l’impact attendu du projet financé.

Données non disponibles

Appel à propositions

Procédure par laquelle les candidats sont invités à soumettre des propositions de projet en vue de bénéficier d’un financement de l’UE.

Données non disponibles

Régime de financement

Régime de financement (ou «type d’action») à l’intérieur d’un programme présentant des caractéristiques communes. Le régime de financement précise le champ d’application de ce qui est financé, le taux de remboursement, les critères d’évaluation spécifiques pour bénéficier du financement et les formes simplifiées de couverture des coûts, telles que les montants forfaitaires.

STREP - Specific Targeted Research Project

Coordinateur

KLA-TENCOR CORPORATION (ISRAEL)
Contribution de l’UE
Aucune donnée
Adresse
4 HATIKSHORET ST.
23100 MIGDAL HAEMEK
Israël

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Coût total

Les coûts totaux encourus par l’organisation concernée pour participer au projet, y compris les coûts directs et indirects. Ce montant est un sous-ensemble du budget global du projet.

Aucune donnée

Participants (3)

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