Skip to main content
Weiter zur Homepage der Europäischen Kommission (öffnet in neuem Fenster)
Deutsch de
CORDIS - Forschungsergebnisse der EU
CORDIS
Inhalt archiviert am 2024-05-29

Scatterometry Overlay Control Technology in the integrated circuit industry for the 32nm technology node and beyond

Ziel

The overlay control budget for the 32nm technology node will be approximately 10nm according to the ITRS. The overlay metrology budget is typically 1/10 of the overlay control budget resulting in overlay metrology performance requirements of 1nm. Theoretical considerations show that overlay technology based on scatterometry has inherent advantages, which will allow it to achieve this strict requirement and go beyond it.

We have demonstrated a breakthrough scatterometry overlay technology in preliminary proof-of-concept experiments. The results of these studies are promising, and at this early stage position scatterometry as one of the leading contenders for the overlay technology for the 32nm node and beyond. We propose to carry out a thorough and detailed research program with the goal of transforming the promising concept into a well-developed technology, which meets the most strict overlay control requirements of the future.

The anticipated outcome of the project is an optimal methodology for a scatterometry overlay tool design, target design and algorithms, which allow overlay control with a significantly improved Total Measurement Uncertainty (TMU) and reduced systematic bias with respect to device structures, on layers fabricated with the most advanced processes and materials.

We will achieve this through extensive research in target design including the design and fabrication of a dedicated reticle. Extensive measurements of selected targets will be carried out on both RandD and production wafers. The project will also involve a substantial amount of simulations of the lithography process and of the scatterometry signal.

The success of the project will be ensured through a very close collaboration of the leading overlay metrology company worldwide with leading European research institution and semiconductor manufacturer. This consortium will augment the European leadership in the microelectronics industry.

Wissenschaftliches Gebiet (EuroSciVoc)

CORDIS klassifiziert Projekte mit EuroSciVoc, einer mehrsprachigen Taxonomie der Wissenschaftsbereiche, durch einen halbautomatischen Prozess, der auf Verfahren der Verarbeitung natürlicher Sprache beruht. Siehe: Das European Science Vocabulary.

Sie müssen sich anmelden oder registrieren, um diese Funktion zu nutzen

Thema/Themen

Aufforderungen zur Einreichung von Vorschlägen sind nach Themen gegliedert. Ein Thema definiert einen bestimmten Bereich oder ein Gebiet, zu dem Vorschläge eingereicht werden können. Die Beschreibung eines Themas umfasst seinen spezifischen Umfang und die erwarteten Auswirkungen des finanzierten Projekts.

Daten nicht verfügbar

Aufforderung zur Vorschlagseinreichung

Verfahren zur Aufforderung zur Einreichung von Projektvorschlägen mit dem Ziel, eine EU-Finanzierung zu erhalten.

Daten nicht verfügbar

Finanzierungsplan

Finanzierungsregelung (oder „Art der Maßnahme“) innerhalb eines Programms mit gemeinsamen Merkmalen. Sieht folgendes vor: den Umfang der finanzierten Maßnahmen, den Erstattungssatz, spezifische Bewertungskriterien für die Finanzierung und die Verwendung vereinfachter Kostenformen wie Pauschalbeträge.

STREP - Specific Targeted Research Project

Koordinator

KLA-TENCOR CORPORATION (ISRAEL)
EU-Beitrag
Keine Daten
Adresse
4 HATIKSHORET ST.
23100 MIGDAL HAEMEK
Israel

Auf der Karte ansehen

Gesamtkosten

Die Gesamtkosten, die dieser Organisation durch die Beteiligung am Projekt entstanden sind, einschließlich der direkten und indirekten Kosten. Dieser Betrag ist Teil des Gesamtbudgets des Projekts.

Keine Daten

Beteiligte (3)

Mein Booklet 0 0