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Web site launch and Press Release for the INSIGHT project
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Correlation between CV, 1/f, Hysteresis gm(w) on the border trap densityCorrelation between CV, 1/f, Hysteresis gm(w) on the border trap density.
Final report on RF-transistorsData from first small signal model obtained from existing nanowire technology
First noise measurements and RF noise model
Second update on Dissemination Plan
Second update on dissemination plan. It will be included in the “plan for Dissemination and Exploitation”.
Circuit-level Benchmarking ReportFinal Dissemination Plan
Final Dissemination Plan. It will be included in “Plan for Dissemination and Exploitation”.
External Communication PlanReport on high voltage (3-6V) gate stack development
Publicaciones
Autores:
V. Deshpande, V. Djara, E. O'Connor, D. Caimi, M. Sousa, L. Czornomaz, J. Fompeyrine, P. Hashemi, K. Balakrishnan
Publicado en:
2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), Edición Yearly, 2016, Página(s) 127-130, ISBN 978-1-4673-8609-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ULIS.2016.7440069
Autores:
Martin Berg, Karl-Magnus Persson, Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, Página(s) 31.2.1-31.2.4, ISBN 978-1-4673-9894-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2015.7409806
Autores:
Cezar B. Zota, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publicado en:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, Página(s) 31.4.1-31.4.4, ISBN 978-1-4673-9894-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2015.7409808
Autores:
Millar, D., Peralagu, U., Fu, Y.-C., Li, X., Steer, M., and Thayne, I.
Publicado en:
WoDIM, Edición Yearly; Session 4: III-V FETs, 2016, Página(s) N/A
Editor:
http://wodim2016.imm.cnr.it/index.asp?cont=program
Autores:
Adam Jonsson, Johannes Svensson, Lars-Erik Wemersson
Publicado en:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, Página(s) 39.3.1-39.3.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614685
Autores:
Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, Página(s) 17.3.1-17.3.4, ISBN 978-1-5386-3559-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2017.8268408
Autores:
E. Caruso, J. Lin, K. F. Burke, K. Cherkaoui, D. Esseni, F. Gity, S. Monaghan, P. Palestri, P. Hurley, L. Selmi
Publicado en:
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2018, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-5386-4811-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ulis.2018.8354757
Autores:
Stefan Andric, Lars Ohlsson, Lars-Erik Wenrersson
Publicado en:
2019 92nd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG), 2019, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-5386-6599-2
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/arftg.2019.8637222
Autores:
V. Deshpande, H. Hahn, E. O'Connor, Y. Baumgartner, M. Sousa, D. Caimi, H. Boutry, J. Widiez, L. Brevard, C. Le Royer, M. Vinet, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
Publicado en:
2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, Página(s) T74-T75, ISBN 978-4-86348-605-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.23919/vlsit.2017.7998205
Autores:
Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), 2017, Página(s) 1-2, ISBN 978-1-5090-5805-1
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-tsa.2017.7942489
Autores:
H. Hahn, V. Deshpande, E. Caruso, S. Sant, E. O'Connor, Y. Baumgartner, M. Sousa, D. Caimi, A. Olziersky, P. Palestri, L. Selmi, A. Schenk, L. Czornomaz
Publicado en:
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, Página(s) 17.5.1-17.5.4, ISBN 978-1-5386-3559-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2017.8268410
Autores:
V. Deshpande, H. Hahn, V. Djara, E. O'Connor, D. Caimi, M. Sousa, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
Publicado en:
2017 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2017, Página(s) 244-247, ISBN 978-1-5090-5978-2
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc.2017.8066637
Autores:
C. Convertino, C. B. Zota, D. Caimi, M. Sousa, L. Czornomaz
Publicado en:
2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2018, Página(s) 162-165, ISBN 978-1-5386-5401-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc.2018.8486862
Autores:
Lars Ohlsson, Fredrik Lindelow, Cezar B. Zota, Matthias Ohlrogge, Thomas Merkle, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publicado en:
2017 75th Annual Device Research Conference (DRC), 2017, Página(s) 1-2, ISBN 978-1-5090-6328-4
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/drc.2017.7999451
Autores:
C. B. Zota, C. Convertino, Y. Baumgartner, M. Sousa, D. Caimi, L. Czornomaz
Publicado en:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, Página(s) 39.4.1-39.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614530
Autores:
C. Convertino, C. Zota, S. Sant, F. Eltes, M. Sousa, D. Caimi, A. Schenk, L. Czornomaz
Publicado en:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, Página(s) 39.2.1-39.2.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614640
Autores:
C. Convertino, D. Cutaia, H. Schmid, N. Bologna, P. Paletti, A.M. Ionescu, H. Riel, K. E. Moselund
Publicado en:
2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2017, Página(s) 148-151, ISBN 978-1-5090-5313-1
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ulis.2017.7962586
Autores:
Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2017, Página(s) 99-100, ISBN 978-1-5090-5313-1
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ulis.2017.7962611
Autores:
Arnulf Leuther, Matthias Ohlrogge, Lukas Czornomaz, Thomas Merkle, Frank Bernhardt, Axel Tessmann
Publicado en:
2017 12th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2017, Página(s) 130-133, ISBN 978-2-87487-048-4
Editor:
IEEE
DOI:
10.23919/eumic.2017.8230677
Autores:
H. Schmid, B. Mayer, J. Gooth, S. Wirths, L. Czornomaz, H. Riel, S. Mauthe, C. Convertino, K. E. Moselund
Publicado en:
2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2017, Página(s) 1-3, ISBN 978-1-5386-3766-1
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/s3s.2017.8309200
Autores:
V. Deshpande, V. Djara, T. Morf, P. Hashemi, E. O’Connor, K. Balakrishnan, D. Caimi, M. Sousa,
L. Czornomaz and J. Fompeyrine
Publicado en:
Int'l Conf. on Solid State Devices and Materials (SSDM),, Edición Book of Extended Abstracts in 2016, 2016
Editor:
SSDM
Autores:
Amulf Leuther, Matthias Ohlrogge, Lukas Czornomaz, Thomas Merkle, Frank Bernhardt, Axel Tessmann
Publicado en:
2017 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 2017, Página(s) 1133-1136, ISBN 978-1-5090-6360-4
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/mwsym.2017.8058798
Autores:
Olli-Pekka Kilpi, Jun Wu, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, Página(s) T36-T37, ISBN 978-4-86348-605-8
Editor:
IEEE
DOI:
10.23919/vlsit.2017.7998191
Autores:
A. Tessmann, A. Leuther, F. Heinz, F. Bernhardt, H. Massler
Publicado en:
2018 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2018, Página(s) 156-159, ISBN 978-1-5386-6502-2
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/bcicts.2018.8550836
Autores:
C. B. Zota, C. Convertino, V. Deshpande, T. Merkle, M. Sousa, D. Caimi, L. Czomomaz
Publicado en:
2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, Página(s) 165-166, ISBN 978-1-5386-4218-4
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsit.2018.8510631
Autores:
H. Schmid, D. Cutaia, J. Gooth, S. Wirths, N. Bologna, K. E. Moselund, H. Riel
Publicado en:
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Edición Yearly, 2016, Página(s) 3.6.1-3.6.4, ISBN 978-1-5090-3902-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2016.7838340
Autores:
Cezar B. Zota, Fredrik Lindelow, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publicado en:
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, Página(s) 3.2.1-3.2.4, ISBN 978-1-5090-3902-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2016.7838336
Autores:
Cezar B. Zota, Fredrik Lindelow, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publicado en:
2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, Edición Yearly, 2016, Página(s) 1-2, ISBN 978-1-5090-0638-0
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSIT.2016.7573418
Autores:
Martin Berg, Olli-Pekka Kilpi, Karl-Magnus Persson, Johannes Svensson, Markus Hellenbrand, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
IEEE Electron Device Letters, Edición Volume:PP Edición: 99 , 2016, Página(s) 1-1, ISSN 0741-3106
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/LED.2016.2581918
Autores:
Cezar Zota, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publicado en:
IEEE Electron Device Letters, 2016, Página(s) 1-1, ISSN 0741-3106
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/LED.2016.2602841
Autores:
Cezar Zota, Fredrik Lindelöw, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publicado en:
Electronics Letters, 2016, ISSN 0013-5194
Editor:
Institute of Electrical Engineers
DOI:
10.1049/el.2016.3108
Autores:
Philippe Ferrandis, Mathilde Billaud, Julien Duvernay, Mickael Martin, Alexandre Arnoult, Helen Grampeix, Mikael Cassé, Hervé Boutry, Thierry Baron, Maud Vinet, Gilles Reimbold
Publicado en:
Journal of Applied Physics, Edición 123/16, 2018, Página(s) 161534, ISSN 0021-8979
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5007920
Autores:
Markus Hellenbrand, Elvedin Memisevic, Martin Berg, Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
IEEE Electron Device Letters, Edición 38/11, 2017, Página(s) 1520-1523, ISSN 0741-3106
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2017.2757538
Autores:
Adam Jonsson, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
IEEE Electron Device Letters, Edición 39/7, 2018, Página(s) 935-938, ISSN 0741-3106
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2018.2837676
Autores:
Markus Hellenbrand, Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
Microelectronic Engineering, 2019, Página(s) 110986, ISSN 0167-9317
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2019.110986
Autores:
Jun Lin, Scott Monaghan, Karim Cherkaoui, Ian M. Povey, Brendan Sheehan, Paul K. Hurley
Publicado en:
Microelectronic Engineering, Edición 178, 2017, Página(s) 204-208, ISSN 0167-9317
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2017.05.020
Autores:
Clarissa Convertino, Cezar Zota, Heinz Schmid, Daniele Caimi, Marilyne Sousa, Kirsten Moselund, Lukas Czornomaz
Publicado en:
Materials, Edición 12/1, 2019, Página(s) 87, ISSN 1996-1944
Editor:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12010087
Autores:
Mattias Borg, Lynne Gignac, John Bruley, Andreas Malmgren, Saurabh Sant, Clarissa Convertino, Marta D Rossell, Marilyne Sousa, Chris Breslin, Heike Riel, Kirsten E Moselund, Heinz Schmid
Publicado en:
Nanotechnology, Edición 30/8, 2019, Página(s) 084004, ISSN 0957-4484
Editor:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6528/aaf547
Autores:
Erik Lind
Publicado en:
Semiconductor Science and Technology, Edición 31/9, 2016, Página(s) 093005, ISSN 0268-1242
Editor:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/0268-1242/31/9/093005
Autores:
Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Edición 7, 2019, Página(s) 70-75, ISSN 2168-6734
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
DOI:
10.1109/jeds.2018.2878659
Autores:
Axel Tessmann, Arnulf Leuther, Felix Heinz, Frank Bernhardt, Laurenz John, Hermann Massler, Lukas Czornomaz, Thomas Merkle
Publicado en:
IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2019, Página(s) 1-8, ISSN 0018-9200
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/jssc.2019.2915161
Autores:
Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Jun Wu, Axel R. Persson, Reine Wallenberg, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
Nano Letters, Edición 17/10, 2017, Página(s) 6006-6010, ISSN 1530-6984
Editor:
American Chemical Society
DOI:
10.1021/acs.nanolett.7b02251
Autores:
Cezar B. Zota, Clarissa Convertino, Marilyne Sousa, Daniele Caimi, Kirsten Moselund, Lukas Czornomaz
Publicado en:
IEEE Electron Device Letters, Edición 40/4, 2019, Página(s) 538-541, ISSN 0741-3106
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2019.2902519
Autores:
Veeresh Deshpande, H. Hahn, E. O'Connor, Y. Baumgartner, D. Caimi, M. Sousa, H. Boutry, J. Widiez, L. Brevard, C. Le Royer, M. Vinet, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
Publicado en:
IEEE Transactions on Electron Devices, Edición 64/11, 2017, Página(s) 4503-4509, ISSN 0018-9383
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2017.2755662
Autores:
V. Deshpande, V. Djara, E. O'Connor, P. Hashemi, K. Balakrishnan, D. Caimi, M. Sousa, L. Czornomaz, J. Fompeyrine
Publicado en:
Solid-State Electronics, Edición 128, 2017, Página(s) 87-91, ISSN 0038-1101
Editor:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2016.10.034
Autores:
Clarissa Convertino, Cezar B. Zota, Daniele Caimi, Marilyne Sousa, Kirsten E. Moselund, Lukas Czornomaz
Publicado en:
Japanese Journal of Applied Physics, Edición 58/8, 2019, Página(s) 080901, ISSN 0021-4922
Editor:
IOP Publishing
Autores:
Mattias Borg, Heinz Schmid, Johannes Gooth, Marta D. Rossell, Davide Cutaia, Moritz Knoedler, Nicolas Bologna, Stephan Wirths, Kirsten E. Moselund, Heike Riel
Publicado en:
ACS Nano, Edición 11/3, 2017, Página(s) 2554-2560, ISSN 1936-0851
Editor:
American Chemical Society
DOI:
10.1021/acsnano.6b04541
Autores:
É. O'Connor, K. Cherkaoui, S. Monaghan, B. Sheehan, I. M. Povey, P. K. Hurley
Publicado en:
Applied Physics Letters, Edición 110/3, 2017, Página(s) 032902, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.4973971
Autores:
Aein S. Babadi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publicado en:
Applied Physics Letters, Edición 110/5, 2017, Página(s) 053502, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.4975374
Autores:
Davide Cutaia, K. Moselund, H. Schmid, M. Borg, H. Riel
Publicado en:
Compound Semiconductor, Edición 23 (1), 2017, Página(s) 38-42, ISSN 2042-7328
Editor:
Angel Business Communications
Autores:
V. Deshpande, V. Djara, E. O'Connor, P. Hashemi, T. Morf, K. Balakrishnan, D. Caimi, M. Sousa, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
Publicado en:
Japanese Journal of Applied Physics, Edición vol 56, 2017, Página(s) 04CA05, ISSN 1347-4065
Editor:
Institute of Physics
DOI:
10.7567/JJAP.56.04CA05
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