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PA and LNA data sheet
Web site launch and Press Release for the INSIGHT project
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Correlation between CV, 1/f, Hysteresis gm(w) on the border trap densityCorrelation between CV, 1/f, Hysteresis gm(w) on the border trap density.
Final report on RF-transistorsData from first small signal model obtained from existing nanowire technology
First noise measurements and RF noise model
Second update on Dissemination Plan
Second update on dissemination plan. It will be included in the “plan for Dissemination and Exploitation”.
Circuit-level Benchmarking ReportFinal Dissemination Plan
Final Dissemination Plan. It will be included in “Plan for Dissemination and Exploitation”.
External Communication PlanReport on high voltage (3-6V) gate stack development
Publications
Auteurs:
V. Deshpande, V. Djara, E. O'Connor, D. Caimi, M. Sousa, L. Czornomaz, J. Fompeyrine, P. Hashemi, K. Balakrishnan
Publié dans:
2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), Numéro Yearly, 2016, Page(s) 127-130, ISBN 978-1-4673-8609-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ULIS.2016.7440069
Auteurs:
Martin Berg, Karl-Magnus Persson, Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publié dans:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, Page(s) 31.2.1-31.2.4, ISBN 978-1-4673-9894-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2015.7409806
Auteurs:
Cezar B. Zota, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
Publié dans:
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, Page(s) 31.4.1-31.4.4, ISBN 978-1-4673-9894-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2015.7409808
Auteurs:
Millar, D., Peralagu, U., Fu, Y.-C., Li, X., Steer, M., and Thayne, I.
Publié dans:
WoDIM, Numéro Yearly; Session 4: III-V FETs, 2016, Page(s) N/A
Éditeur:
http://wodim2016.imm.cnr.it/index.asp?cont=program
Auteurs:
Adam Jonsson, Johannes Svensson, Lars-Erik Wemersson
Publié dans:
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, Page(s) 39.3.1-39.3.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm.2018.8614685
Auteurs:
Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
Publié dans:
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, Page(s) 17.3.1-17.3.4, ISBN 978-1-5386-3559-9
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IEEE
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10.1109/iedm.2017.8268408
Auteurs:
E. Caruso, J. Lin, K. F. Burke, K. Cherkaoui, D. Esseni, F. Gity, S. Monaghan, P. Palestri, P. Hurley, L. Selmi
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2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2018, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-5386-4811-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/ulis.2018.8354757
Auteurs:
Stefan Andric, Lars Ohlsson, Lars-Erik Wenrersson
Publié dans:
2019 92nd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG), 2019, Page(s) 1-4, ISBN 978-1-5386-6599-2
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/arftg.2019.8637222
Auteurs:
V. Deshpande, H. Hahn, E. O'Connor, Y. Baumgartner, M. Sousa, D. Caimi, H. Boutry, J. Widiez, L. Brevard, C. Le Royer, M. Vinet, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
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2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, Page(s) T74-T75, ISBN 978-4-86348-605-8
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.23919/vlsit.2017.7998205
Auteurs:
Lars-Erik Wernersson
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2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), 2017, Page(s) 1-2, ISBN 978-1-5090-5805-1
Éditeur:
IEEE
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10.1109/vlsi-tsa.2017.7942489
Auteurs:
H. Hahn, V. Deshpande, E. Caruso, S. Sant, E. O'Connor, Y. Baumgartner, M. Sousa, D. Caimi, A. Olziersky, P. Palestri, L. Selmi, A. Schenk, L. Czornomaz
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2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, Page(s) 17.5.1-17.5.4, ISBN 978-1-5386-3559-9
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IEEE
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Auteurs:
V. Deshpande, H. Hahn, V. Djara, E. O'Connor, D. Caimi, M. Sousa, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
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Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc.2017.8066637
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C. Convertino, C. B. Zota, D. Caimi, M. Sousa, L. Czornomaz
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2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2018, Page(s) 162-165, ISBN 978-1-5386-5401-9
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc.2018.8486862
Auteurs:
Lars Ohlsson, Fredrik Lindelow, Cezar B. Zota, Matthias Ohlrogge, Thomas Merkle, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
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2017 75th Annual Device Research Conference (DRC), 2017, Page(s) 1-2, ISBN 978-1-5090-6328-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
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C. B. Zota, C. Convertino, Y. Baumgartner, M. Sousa, D. Caimi, L. Czornomaz
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, Page(s) 39.4.1-39.4.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
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IEEE
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Auteurs:
C. Convertino, C. Zota, S. Sant, F. Eltes, M. Sousa, D. Caimi, A. Schenk, L. Czornomaz
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, Page(s) 39.2.1-39.2.4, ISBN 978-1-7281-1987-8
Éditeur:
IEEE
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10.1109/iedm.2018.8614640
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C. Convertino, D. Cutaia, H. Schmid, N. Bologna, P. Paletti, A.M. Ionescu, H. Riel, K. E. Moselund
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Lars-Erik Wernersson
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Arnulf Leuther, Matthias Ohlrogge, Lukas Czornomaz, Thomas Merkle, Frank Bernhardt, Axel Tessmann
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2017 12th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2017, Page(s) 130-133, ISBN 978-2-87487-048-4
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H. Schmid, B. Mayer, J. Gooth, S. Wirths, L. Czornomaz, H. Riel, S. Mauthe, C. Convertino, K. E. Moselund
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IEEE
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10.1109/s3s.2017.8309200
Auteurs:
V. Deshpande, V. Djara, T. Morf, P. Hashemi, E. O’Connor, K. Balakrishnan, D. Caimi, M. Sousa,
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Auteurs:
Amulf Leuther, Matthias Ohlrogge, Lukas Czornomaz, Thomas Merkle, Frank Bernhardt, Axel Tessmann
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2017 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 2017, Page(s) 1133-1136, ISBN 978-1-5090-6360-4
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/mwsym.2017.8058798
Auteurs:
Olli-Pekka Kilpi, Jun Wu, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
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2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, Page(s) T36-T37, ISBN 978-4-86348-605-8
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IEEE
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10.23919/vlsit.2017.7998191
Auteurs:
A. Tessmann, A. Leuther, F. Heinz, F. Bernhardt, H. Massler
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2018 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2018, Page(s) 156-159, ISBN 978-1-5386-6502-2
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IEEE
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10.1109/bcicts.2018.8550836
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C. B. Zota, C. Convertino, V. Deshpande, T. Merkle, M. Sousa, D. Caimi, L. Czomomaz
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, Page(s) 165-166, ISBN 978-1-5386-4218-4
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IEEE
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10.1109/vlsit.2018.8510631
Auteurs:
H. Schmid, D. Cutaia, J. Gooth, S. Wirths, N. Bologna, K. E. Moselund, H. Riel
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Auteurs:
Cezar B. Zota, Fredrik Lindelow, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
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2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, Page(s) 3.2.1-3.2.4, ISBN 978-1-5090-3902-9
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IEEE
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10.1109/IEDM.2016.7838336
Auteurs:
Cezar B. Zota, Fredrik Lindelow, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, Numéro Yearly, 2016, Page(s) 1-2, ISBN 978-1-5090-0638-0
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSIT.2016.7573418
Auteurs:
Martin Berg, Olli-Pekka Kilpi, Karl-Magnus Persson, Johannes Svensson, Markus Hellenbrand, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
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IEEE Electron Device Letters, Numéro Volume:PP Numéro: 99 , 2016, Page(s) 1-1, ISSN 0741-3106
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/LED.2016.2581918
Auteurs:
Cezar Zota, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
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IEEE Electron Device Letters, 2016, Page(s) 1-1, ISSN 0741-3106
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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10.1109/LED.2016.2602841
Auteurs:
Cezar Zota, Fredrik Lindelöw, Lars-Erik Wernersson, Erik Lind
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Electronics Letters, 2016, ISSN 0013-5194
Éditeur:
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DOI:
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Auteurs:
Philippe Ferrandis, Mathilde Billaud, Julien Duvernay, Mickael Martin, Alexandre Arnoult, Helen Grampeix, Mikael Cassé, Hervé Boutry, Thierry Baron, Maud Vinet, Gilles Reimbold
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Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5007920
Auteurs:
Markus Hellenbrand, Elvedin Memisevic, Martin Berg, Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
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IEEE Electron Device Letters, Numéro 38/11, 2017, Page(s) 1520-1523, ISSN 0741-3106
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2017.2757538
Auteurs:
Adam Jonsson, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
Publié dans:
IEEE Electron Device Letters, Numéro 39/7, 2018, Page(s) 935-938, ISSN 0741-3106
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2018.2837676
Auteurs:
Markus Hellenbrand, Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
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Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
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Auteurs:
Jun Lin, Scott Monaghan, Karim Cherkaoui, Ian M. Povey, Brendan Sheehan, Paul K. Hurley
Publié dans:
Microelectronic Engineering, Numéro 178, 2017, Page(s) 204-208, ISSN 0167-9317
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.mee.2017.05.020
Auteurs:
Clarissa Convertino, Cezar Zota, Heinz Schmid, Daniele Caimi, Marilyne Sousa, Kirsten Moselund, Lukas Czornomaz
Publié dans:
Materials, Numéro 12/1, 2019, Page(s) 87, ISSN 1996-1944
Éditeur:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12010087
Auteurs:
Mattias Borg, Lynne Gignac, John Bruley, Andreas Malmgren, Saurabh Sant, Clarissa Convertino, Marta D Rossell, Marilyne Sousa, Chris Breslin, Heike Riel, Kirsten E Moselund, Heinz Schmid
Publié dans:
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Institute of Physics Publishing
DOI:
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Auteurs:
Erik Lind
Publié dans:
Semiconductor Science and Technology, Numéro 31/9, 2016, Page(s) 093005, ISSN 0268-1242
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Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/0268-1242/31/9/093005
Auteurs:
Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
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IEEE Journal of the Electron Devices Society, Numéro 7, 2019, Page(s) 70-75, ISSN 2168-6734
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DOI:
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Auteurs:
Axel Tessmann, Arnulf Leuther, Felix Heinz, Frank Bernhardt, Laurenz John, Hermann Massler, Lukas Czornomaz, Thomas Merkle
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IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2019, Page(s) 1-8, ISSN 0018-9200
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Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Auteurs:
Olli-Pekka Kilpi, Johannes Svensson, Jun Wu, Axel R. Persson, Reine Wallenberg, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
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Nano Letters, Numéro 17/10, 2017, Page(s) 6006-6010, ISSN 1530-6984
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American Chemical Society
DOI:
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Auteurs:
Cezar B. Zota, Clarissa Convertino, Marilyne Sousa, Daniele Caimi, Kirsten Moselund, Lukas Czornomaz
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IEEE Electron Device Letters, Numéro 40/4, 2019, Page(s) 538-541, ISSN 0741-3106
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Auteurs:
Veeresh Deshpande, H. Hahn, E. O'Connor, Y. Baumgartner, D. Caimi, M. Sousa, H. Boutry, J. Widiez, L. Brevard, C. Le Royer, M. Vinet, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
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IEEE Transactions on Electron Devices, Numéro 64/11, 2017, Page(s) 4503-4509, ISSN 0018-9383
Éditeur:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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Auteurs:
V. Deshpande, V. Djara, E. O'Connor, P. Hashemi, K. Balakrishnan, D. Caimi, M. Sousa, L. Czornomaz, J. Fompeyrine
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Solid-State Electronics, Numéro 128, 2017, Page(s) 87-91, ISSN 0038-1101
Éditeur:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2016.10.034
Auteurs:
Clarissa Convertino, Cezar B. Zota, Daniele Caimi, Marilyne Sousa, Kirsten E. Moselund, Lukas Czornomaz
Publié dans:
Japanese Journal of Applied Physics, Numéro 58/8, 2019, Page(s) 080901, ISSN 0021-4922
Éditeur:
IOP Publishing
Auteurs:
Mattias Borg, Heinz Schmid, Johannes Gooth, Marta D. Rossell, Davide Cutaia, Moritz Knoedler, Nicolas Bologna, Stephan Wirths, Kirsten E. Moselund, Heike Riel
Publié dans:
ACS Nano, Numéro 11/3, 2017, Page(s) 2554-2560, ISSN 1936-0851
Éditeur:
American Chemical Society
DOI:
10.1021/acsnano.6b04541
Auteurs:
É. O'Connor, K. Cherkaoui, S. Monaghan, B. Sheehan, I. M. Povey, P. K. Hurley
Publié dans:
Applied Physics Letters, Numéro 110/3, 2017, Page(s) 032902, ISSN 0003-6951
Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.4973971
Auteurs:
Aein S. Babadi, Johannes Svensson, Erik Lind, Lars-Erik Wernersson
Publié dans:
Applied Physics Letters, Numéro 110/5, 2017, Page(s) 053502, ISSN 0003-6951
Éditeur:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.4975374
Auteurs:
Davide Cutaia, K. Moselund, H. Schmid, M. Borg, H. Riel
Publié dans:
Compound Semiconductor, Numéro 23 (1), 2017, Page(s) 38-42, ISSN 2042-7328
Éditeur:
Angel Business Communications
Auteurs:
V. Deshpande, V. Djara, E. O'Connor, P. Hashemi, T. Morf, K. Balakrishnan, D. Caimi, M. Sousa, J. Fompeyrine, L. Czornomaz
Publié dans:
Japanese Journal of Applied Physics, Numéro vol 56, 2017, Page(s) 04CA05, ISSN 1347-4065
Éditeur:
Institute of Physics
DOI:
10.7567/JJAP.56.04CA05
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