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Photovoltaic module life time forecast and evaluation

CORDIS bietet Links zu öffentlichen Ergebnissen und Veröffentlichungen von HORIZONT-Projekten.

Links zu Ergebnissen und Veröffentlichungen von RP7-Projekten sowie Links zu einigen Typen spezifischer Ergebnisse wie Datensätzen und Software werden dynamisch von OpenAIRE abgerufen.

Leistungen

Database of Climate--based degradation factors (öffnet in neuem Fenster)
Project Homepage (öffnet in neuem Fenster)

Design and launch of project website to present project contents, progress, partners and ESRs, publications and other info.

Veröffentlichungen

Köppen-Geiger-Photovoltaic Climate Classification (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Julian Ascencio-Vasquez, Kristijan Brecl, Marko Topi
Veröffentlicht in: 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC) (A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC & 34th EU PVSEC), 2018, Seite(n) 2270-2275, ISBN 978-1-5386-8529-7
Herausgeber: IEEE
DOI: 10.1109/pvsc.2018.8547952

Training the Next Generation of PV Reliability Experts – New Marie-Sklodowska Curie (MSCA) Project SOLAR-TRAIN (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: K.-A. Weiß, S. Saile, A. Keiner, L. Pitta Bauermann, G. Oreski, R. Gottschalg, D. Moser, M. Topic, A.R. Lagunas, P. Chiantore, M. Van Iseghem
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 33, 2017, Seite(n) 2917 - 2920, ISBN 3-936338-47-7
Herausgeber: WIP Munich Germany
DOI: 10.4229/EUPVSEC20172017-7DV.1.48

​A setup for in-situ measurements of potential and UV induced degradation of PV modules inside a climatic chamber

Autoren: Stefan Mitterhofer, Marko Jankovec, Marko Topič
Veröffentlicht in: International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Ausgabe 53, 2017, Seite(n) 65-70, ISBN 978-961-92933-7-9
Herausgeber: MIDEM Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials

​An Overall Data Analysis Methodology for PV Energy Systems

Autoren: ​Julián Ascencio Vásquez, Marko Topič
Veröffentlicht in: International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Ausgabe 53, 2017, Seite(n) 59-64, ISBN 978-961-92933-7-9
Herausgeber: ​MIDEM Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials

Evaluation of uncertainty sources and propagation from irradiance sensors to PV energy production

Autoren: Francesco Mariottini, Tom R. Betts, Jiang Zhu, Ralph Gottschalg
Veröffentlicht in: Photovoltaic Science, Applications and Technology Conference (PVSAT-14), Ausgabe 14, 2018
Herausgeber: The Solar Energy Society

One- and two-dimensional finite element analysis of humidity ingress in polymeric materials

Autoren: Stefan Mitterhofer, Marko Jankovec, Marko Topič
Veröffentlicht in: International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Ausgabe 54, 2018, Seite(n) 93-98, ISBN 978-961-92933-8-6
Herausgeber: MIDEM

The impact of acetic acid corrosion on the front-side contacts and the finger electrodes of c-Si PV cells

Autoren: Nikoleta Kyranaki, Jiang Zhu, Thomas R. Betts, Ralph Gottschalg
Veröffentlicht in: Photovoltaic Science, Applications and Technology Conference (PVSAT-14), Ausgabe 14, 2018
Herausgeber: The Solar Energy Society

Evaluation of Technology-Dependent Maximum Power Point Current and Voltage Degradation in a Temperate Climate (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Sascha Lindig, P. Ingenhoven, G. Belluardo, David Moser, Marko Topic
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 35, 2018, Seite(n) 1081 - 1086, ISBN 3-936338-50-7
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/35thEUPVSEC20182018-5BO.12.5

Single Diode Model Applied to PV Module Aging (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Nikola Hrelja, Mike Van Iseghem, Eric Lajoie-Mazenc, Eric Moulines, Eloide Vernet
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 35, 2018, Seite(n) 1290 - 1293, ISBN 3-936338-50-7
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/35thEUPVSEC20182018-5CV.3.16

Using UV LEDs for PV Module Aging and Degradation Study (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Stefan Mitterhofer, Marko Jankovec, Marko Topic
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 35, 2018, Seite(n) 1323 - 1327, ISBN 3-936338-50-7
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/35thEUPVSEC20182018-5CV.3.24

Nanoindentation analysis of PV module polymeric components after accelerated aging (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Djamel Eddine Mansour, F. Swientek, Ismail Kaaya, Daniel Philipp, Luciana Pitta Bauermann
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 35, 2018, Seite(n) 1333 - 1336, ISBN 3-936338-50-7
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/35thEUPVSEC20182018-5CV.3.28

Investigating the Degradation of Front and Rear Sides of c-Si PV Cells Exposed to Acetic Acid (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Nikoleta Kyranaki, Jiang Zhu, Ralph Gottschalg, Tom R. Betts
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 35, 2018, Seite(n) 1372 - 1375, ISBN 3-936338-50-7
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/35thEUPVSEC20182018-5CV.3.47

Uncertainty in calibration and characterisation of pyranometers

Autoren: Francesco Mariottini, Tom R. Betts, Giorgio Belluardo
Veröffentlicht in: Photovoltaic Science, Applications and Technology Conference (PVSAT-15), Ausgabe 15, 2019, Seite(n) 105-108, ISBN 0904-963853
Herausgeber: The Solar Energy Society

Degradation of power output of photovoltaic modules due to accelerated ageing

Autoren: Ashenafi Weldemariam Gebregioris, Tom R. Betts
Veröffentlicht in: Photovoltaic Science, Applications and Technology Conference (PVSAT-15), Ausgabe 15, 2019, ISBN 0904-963853
Herausgeber: The Solar Energy Society

Investigation of moisture ingress and egress in polymer – Glass laminates for PV encapsulation

Autoren: Nikoleta Kyranaki, Marko Jankovec, Marko Topic, Ralph Gottschalg, Tom R. Betts
Veröffentlicht in: Photovoltaic Science, Applications and Technology Conference (PVSAT-15), Ausgabe 15, 2019, Seite(n) 41-44, ISBN 0904-963853
Herausgeber: The Solar Energy Society

Los servicios digitalizados de O&M de BayWa r.e. análisis mejorado de rendimiento mediante inspecciones aéreas termográficas y software especializado. Caso de estudio.

Autoren: Guillermo Oviedo Hernandez
Veröffentlicht in: Digitalización y Energía Solar. Edición México, 2019, Seite(n) 46
Herausgeber: SolarPower Europe, ASOLMEX

European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Nikoleta Kyranaki, David C. Whalley, David A. Hutt, Ralph Gottschalg, Tom R. Betts
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 36, 2019, Seite(n) 1045 - 1049, ISBN 3-936338-60-4
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/eupvsec20192019-4av.1.24

Assessment and Improvement of Thermoelectric Pyranometer Measurements (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Francesco Mariottini, Giorgio Belluardo, Martin Bliss, Patrick J.M. Isherwood, Ian R. Cole, Tom R. Betts
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 36, 2019, Seite(n) 1384 - 1387, ISBN 3-936338-60-4
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/eupvsec20192019-5do.1.3

Optimization of the Cost Priority Number (CPN) Methodology to the Needs of a Large O&M Operator (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Guillermo Oviedo Hernández, Sascha Lindig, David Moser, Paolo V. Chiantore
Veröffentlicht in: European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Ausgabe 36, 2019, Seite(n) 1613 - 1617, ISBN 3-936338-60-4
Herausgeber: EU PVSEC
DOI: 10.4229/eupvsec20192019-5cv.4.19

Analysis of ethylene vinyl acetate degradation under UV-A LED light

Autoren: Stefan Mitterhofer, Chiara Barretta, Luis Castillon, Gernot Oreski, Marko Topič, Marko Jankovec
Veröffentlicht in: International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Ausgabe 55, 2019, Seite(n) 40-43, ISBN 978-961-92933-9-3
Herausgeber: MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials

Application of the full thermal model for PV devices

Autoren: Julian Ascencio-Vasquez, Kristijan Brecl, Franc Smole, Marco Topic
Veröffentlicht in: International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Ausgabe 55, 2020
Herausgeber: MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials

Photovoltaic Energy Production Forecasting using LightGBM

Autoren: Kristjan Reba, Jakob Bevc, Julian Ascencio-Vasquez, Marko Jankovec, Marko Topic
Veröffentlicht in: International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, Ausgabe 55, 2020
Herausgeber: MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials

Review of Statistical and Analytical Degradation Models for Photovoltaic Modules and Systems as Well as Related Improvements (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Sascha Lindig, Ismail Kaaya, Karl-Anders Weis, David Moser, Marko Topic
Veröffentlicht in: IEEE Journal of Photovoltaics, Ausgabe 8/6, 2018, Seite(n) 1773-1786, ISSN 2156-3381
Herausgeber: IEEE Electron Devices Society
DOI: 10.1109/jphotov.2018.2870532

Modeling Outdoor Service Lifetime Prediction of PV Modules: Effects of Combined Climatic Stressors on PV Module Power Degradation (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Ismail Kaaya, Michael Koehl, Amantin Panos Mehilli, Sidrach de Cardona Mariano, Karl Anders Weiss
Veröffentlicht in: IEEE Journal of Photovoltaics, Ausgabe 9/4, 2019, Seite(n) 1105-1112, ISSN 2156-3381
Herausgeber: IEEE Electron Devices Society
DOI: 10.1109/jphotov.2019.2916197

Methodology of Köppen-Geiger-Photovoltaic climate classification and implications to worldwide mapping of PV system performance (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Julián Ascencio-Vásquez, Kristijan Brecl, Marko Topič
Veröffentlicht in: Solar Energy, Ausgabe 191, 2019, Seite(n) 672-685, ISSN 0038-092X
Herausgeber: Pergamon Press Ltd.
DOI: 10.1016/j.solener.2019.08.072

Global Climate Data Processing and Mapping of Degradation Mechanisms and Degradation Rates of PV Modules (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Julián Ascencio-Vásquez, Ismail Kaaya, Kristijan Brecl, Karl-Anders Weiss, Marko Topič
Veröffentlicht in: Energies, Ausgabe 12/24, 2019, Seite(n) 4749, ISSN 1996-1073
Herausgeber: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/en12244749

A Dual-Transport Model of Moisture Diffusion in PV Encapsulants for Finite-Element Simulations (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Stefan Mitterhofer, Chiara Barretta, Luis F. Castillon, Gernot Oreski, Marko Topic, Marko Jankovec
Veröffentlicht in: IEEE Journal of Photovoltaics, Ausgabe 10/1, 2020, Seite(n) 94-102, ISSN 2156-3381
Herausgeber: IEEE Electron Devices Society
DOI: 10.1109/jphotov.2019.2955182

The Development of Thermal Coefficients of Photovoltaic Devices (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Stefan Mitterhofer, Boštjan Glažar, Marko Jankovec, Marko Topič
Veröffentlicht in: Informacije MIDEM - Journal of Microelectronics, Electronic Components and Materials, Ausgabe 49, 2019, Seite(n) 219-227, ISSN 0352-9045
Herausgeber: Strokovno Drustvo za Mikroelektroniko
DOI: 10.33180/infmidem2019.404

Effect of Backsheet Properties on PV Encapsulant Degradation during Combined Accelerated Aging Tests (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Djamel Eddine Mansour, Chiara Barretta, Luciana Pitta Bauermann, Gernot Oreski, Andreas Schueler, Daniel Philipp, Paul Gebhardt
Veröffentlicht in: Sustainability, Ausgabe 12/12, 2020, Seite(n) 5208, ISSN 2071-1050
Herausgeber: MDPI Open Access Publishing
DOI: 10.3390/su12125208

Advanced PV Performance Modelling Based on Different Levels of Irradiance Data Accuracy (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Julián Ascencio-Vásquez, Jakob Bevc, Kristjan Reba, Kristijan Brecl, Marko Jankovec, Marko Topič
Veröffentlicht in: Energies, Ausgabe 13/9, 2020, Seite(n) 2166, ISSN 1996-1073
Herausgeber: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/en13092166

Scanning acoustic microscopy analysis of the mechanical properties of polymeric components in photovoltaic modules (öffnet in neuem Fenster)

Autoren: Laila V. Mesquita, Djamel Eddine Mansour, Paul Gebhardt, Luciana Pitta Bauermann
Veröffentlicht in: Engineering Reports, Ausgabe 2/6, 2020, ISSN 2577-8196
Herausgeber: John Wiley & Sons, Ltd.
DOI: 10.1002/eng2.12222

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