Synergistic Resistive Switching of Perovskite and Silicon Carbide materials for Advanced ReRAM micro Devices

Información del proyecto

PerovSiC

Identificador del acuerdo de subvención: 746648

DOI

10.3030/746648

Proyecto cerrado

Fecha de la firma de la CE 14 Marzo 2017

Fecha de inicio 1 Julio 2017

Fecha de finalización 20 Octubre 2019

Financiado con arreglo a

• EXCELLENT SCIENCE - Marie Skłodowska-Curie Actions

Coste total

€ 185 076,00

Aportación de la UE

€ 185 076,00

Coordinado por

CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS
France

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Publicaciones

Peer reviewed articles (4)

Integration of LaMnO 3+δ films on platinized silicon substrates for resistive switching applications by PI-MOCVD

Autores: Raquel Rodriguez-Lamas, Dolors Pla, Odette Chaix-Pluchery, Benjamin Meunier, Fabrice Wilhelm, Andrei Rogalev, Laetitia Rapenne, Xavier Mescot, Quentin Rafhay, Hervé Roussel, Michel Boudard, Carmen Jiménez, Mónica Burriel
Publicado en: Beilstein Journal of Nanotechnology, Edición 10, 2019, Página(s) 389-398, ISSN 2190-4286
Editor: Beilstein-Institut Zur Forderung der Chemischen Wissenschaften
DOI: 10.3762/bjnano.10.38

Microscopic Mechanisms of Local Interfacial Resistive Switching in LaMnO 3+δ

Autores: Benjamin Meunier, Dolors Pla, Raquel Rodriguez-Lamas, Michel Boudard, Odette Chaix-Pluchery, Eugénie Martinez, Nicolas Chevalier, Carmen Jiménez, Mónica Burriel, Olivier Renault
Publicado en: ACS Applied Electronic Materials, Edición 1/5, 2019, Página(s) 675-683, ISSN 2637-6113
Editor: ACS Publications
DOI: 10.1021/acsaelm.9b00030

Engineering of Functional Manganites Grown by MOCVD for Miniaturized Devices

Autores: Dolors Pla, Carmen Jimenez, Mónica Burriel
Publicado en: Advanced Materials Interfaces, Edición 4/8, 2017, Página(s) 1600974, ISSN 2196-7350
Editor: Wiley Online Library
DOI: 10.1002/admi.201600974

Resistive switching in a LaMnO 3 + δ /TiN memory cell investigated by operando hard X-ray photoelectron spectroscopy

Autores: Benjamin Meunier, Eugénie Martinez, Raquel Rodriguez-Lamas, Dolors Pla, Mònica Burriel, Michel Boudard, Carmen Jiménez, Jean-Pascal Rueff, Olivier Renault
Publicado en: Journal of Applied Physics, Edición 126/22, 2019, Página(s) 225302, ISSN 0021-8979
Editor: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.5125420