Synergistic Resistive Switching of Perovskite and Silicon Carbide materials for Advanced ReRAM micro Devices

Informazioni relative al progetto

PerovSiC

ID dell’accordo di sovvenzione: 746648

DOI

10.3030/746648

Progetto chiuso

Data della firma CE 14 Marzo 2017

Data di avvio 1 Luglio 2017

Data di completamento 20 Ottobre 2019

Finanziato da

• EXCELLENT SCIENCE - Marie Skłodowska-Curie Actions

Costo totale

€ 185 076,00

Contributo UE

€ 185 076,00

Coordinato da

CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS
France

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Pubblicazioni

Peer reviewed articles (4)

Integration of LaMnO 3+δ films on platinized silicon substrates for resistive switching applications by PI-MOCVD

Autori: Raquel Rodriguez-Lamas, Dolors Pla, Odette Chaix-Pluchery, Benjamin Meunier, Fabrice Wilhelm, Andrei Rogalev, Laetitia Rapenne, Xavier Mescot, Quentin Rafhay, Hervé Roussel, Michel Boudard, Carmen Jiménez, Mónica Burriel
Pubblicato in: Beilstein Journal of Nanotechnology, Numero 10, 2019, Pagina/e 389-398, ISSN 2190-4286
Editore: Beilstein-Institut Zur Forderung der Chemischen Wissenschaften
DOI: 10.3762/bjnano.10.38

Microscopic Mechanisms of Local Interfacial Resistive Switching in LaMnO 3+δ

Autori: Benjamin Meunier, Dolors Pla, Raquel Rodriguez-Lamas, Michel Boudard, Odette Chaix-Pluchery, Eugénie Martinez, Nicolas Chevalier, Carmen Jiménez, Mónica Burriel, Olivier Renault
Pubblicato in: ACS Applied Electronic Materials, Numero 1/5, 2019, Pagina/e 675-683, ISSN 2637-6113
Editore: ACS Publications
DOI: 10.1021/acsaelm.9b00030

Engineering of Functional Manganites Grown by MOCVD for Miniaturized Devices

Autori: Dolors Pla, Carmen Jimenez, Mónica Burriel
Pubblicato in: Advanced Materials Interfaces, Numero 4/8, 2017, Pagina/e 1600974, ISSN 2196-7350
Editore: Wiley Online Library
DOI: 10.1002/admi.201600974

Resistive switching in a LaMnO 3 + δ /TiN memory cell investigated by operando hard X-ray photoelectron spectroscopy

Autori: Benjamin Meunier, Eugénie Martinez, Raquel Rodriguez-Lamas, Dolors Pla, Mònica Burriel, Michel Boudard, Carmen Jiménez, Jean-Pascal Rueff, Olivier Renault
Pubblicato in: Journal of Applied Physics, Numero 126/22, 2019, Pagina/e 225302, ISSN 0021-8979
Editore: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.5125420