Synergistic Resistive Switching of Perovskite and Silicon Carbide materials for Advanced ReRAM micro Devices

Informations projet

PerovSiC

N° de convention de subvention: 746648

DOI

10.3030/746648

Projet clôturé

Date de signature de la CE 14 Mars 2017

Date de début 1 Juillet 2017

Date de fin 20 Octobre 2019

Financé au titre de

• EXCELLENT SCIENCE - Marie Skłodowska-Curie Actions

Coût total

€ 185 076,00

Contribution de l’UE

€ 185 076,00

Coordonné par

CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS
France

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Publications

Peer reviewed articles (4)

Integration of LaMnO 3+δ films on platinized silicon substrates for resistive switching applications by PI-MOCVD

Auteurs: Raquel Rodriguez-Lamas, Dolors Pla, Odette Chaix-Pluchery, Benjamin Meunier, Fabrice Wilhelm, Andrei Rogalev, Laetitia Rapenne, Xavier Mescot, Quentin Rafhay, Hervé Roussel, Michel Boudard, Carmen Jiménez, Mónica Burriel
Publié dans: Beilstein Journal of Nanotechnology, Numéro 10, 2019, Page(s) 389-398, ISSN 2190-4286
Éditeur: Beilstein-Institut Zur Forderung der Chemischen Wissenschaften
DOI: 10.3762/bjnano.10.38

Microscopic Mechanisms of Local Interfacial Resistive Switching in LaMnO 3+δ

Auteurs: Benjamin Meunier, Dolors Pla, Raquel Rodriguez-Lamas, Michel Boudard, Odette Chaix-Pluchery, Eugénie Martinez, Nicolas Chevalier, Carmen Jiménez, Mónica Burriel, Olivier Renault
Publié dans: ACS Applied Electronic Materials, Numéro 1/5, 2019, Page(s) 675-683, ISSN 2637-6113
Éditeur: ACS Publications
DOI: 10.1021/acsaelm.9b00030

Engineering of Functional Manganites Grown by MOCVD for Miniaturized Devices

Auteurs: Dolors Pla, Carmen Jimenez, Mónica Burriel
Publié dans: Advanced Materials Interfaces, Numéro 4/8, 2017, Page(s) 1600974, ISSN 2196-7350
Éditeur: Wiley Online Library
DOI: 10.1002/admi.201600974

Resistive switching in a LaMnO 3 + δ /TiN memory cell investigated by operando hard X-ray photoelectron spectroscopy

Auteurs: Benjamin Meunier, Eugénie Martinez, Raquel Rodriguez-Lamas, Dolors Pla, Mònica Burriel, Michel Boudard, Carmen Jiménez, Jean-Pascal Rueff, Olivier Renault
Publié dans: Journal of Applied Physics, Numéro 126/22, 2019, Page(s) 225302, ISSN 0021-8979
Éditeur: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.5125420