Avances en nanotecnología
En la actualidad, el análisis y la caracterización de materiales a nanoescala implica fundamentalmente ensayos destructivos o métodos superficiales, los cuales se limitan a inspecciones cerca de la superficie o análisis 2D. La iniciativa NANOXCT (Compact X-ray computed tomography system for non destructive characterization of nano materials) ha desarrollado un método no destructivo para analizar y caracterizar nanomateriales. El equipo investigador aplicó una combinación de tomografía de rayos X por ordenador y absorciometría de borde en K para caracterizar la estructura y la descomposición elemental de los nanomateriales. El consorcio NANOXCT, además de desarrollar una fuente de rayos X, un detector y el software para el sistema, ofreció soluciones a las necesidades de posicionamiento preciso de los componentes y la muestra durante el escaneado, lo cual resulta esencial para la caracterización a nanoescala. Además, el consorcio implantó con éxito la absorciometría de borde en K para la descomposición elemental. En materia de creación de imágenes, este método ofrece numerosas ventajas en comparación con otros y no planteaba necesidades adicionales de hardware. La iniciativa NANOXCT evidenció que es posible analizar e identificar las características y los defectos de los nanomateriales mediante la utilización de los métodos propuestos. En última instancia, este avance influirá en varias disciplinas que emplean nanotecnología, entre ellas la nanoelectrónica y la nanorrobótica.
Palabras clave
Nanomateriales, NANOXCT, tomografía de rayos X por ordenador, no destructivo, absorciometría
