Progressi nella nanotecnologia
L’analisi e la caratterizzazione dei materiali su scala nanometrica attualmente coinvolge principalmente test distruttivi o metodi basati sulla superficie, i quali sono limitati al controllo prossimo alla superficie o all’analisi 2D. L’iniziativa NANOXCT (Compact X-ray computed tomography system for non destructive characterization of nano materials) ha sviluppato un metodo non distruttivo per analizzare e caratterizzare i nanomateriali. I ricercatori hanno applicato una combinazione di tomografia computerizzata (CT) a raggi X e assorbimetria nella regione K al fine di caratterizzare la struttura e la decomposizione elementare relative ai nanomateriali. Il consorzio NANOXCT ha sviluppato una nuova sorgente a raggi X, un rivelatore e un software per il sistema, e ha fornito soluzioni per il posizionamento di precisione richiesto in relazione ai componenti nonché ai campioni durante la scansione, di importanza fondamentale per la caratterizzazione su nanoscala. Inoltre, il consorzio ha realizzato con successo l’assorbimetria nella regione K per la decomposizione elementare. Questo metodo di imaging presenta una serie di vantaggi rispetto ad altri metodi e non richiede hardware aggiuntivo. L’iniziativa NANOXCT ha dimostrato che è possibile analizzare e identificare le caratteristiche e i difetti dei nanomateriali utilizzando i metodi proposti. Tale progresso avrà, in ultima analisi, un impatto in vari campi che impiegano le nanotecnologie, come per esempio nanoelettronica e nanorobotica.
Parole chiave
Nanomateriali, NANOXCT, tomografia computerizzata a raggi X, non distruttivo, assorbimetria
