Fortschritte in der Nanotechnologie
Die Analyse und Charakterisierung von nanoskaligen Materialien umfasst zurzeit hauptsächlich eine zerstörende Prüfung oder oberflächenbasierte Methoden, die auf die Oberflächeninspektion oder 2D-Analyse beschränkt sind. Die Initiative NANOXCT (Compact X-ray computed tomography system for non destructive characterization of nano materials) hat eine nicht-destruktive Methode für die Analyse und Charakterisierung von Nanomaterialien entwickelt. Die Forscher verwendeten eine Kombination aus Röntgencomputertomographie (CT) und K-Kante-Absorptionsmesstechnik zur Beschreibung der Struktur und der elementaren Zersetzung von Nanomaterialien. Das NANOXCT-Konsortium entwickelte eine neue Röntgenquelle, den Detektor und die Software für das System, und lieferte Lösungen für die erforderliche genaue Positionierung der Komponenten sowie der Probe während des Scans, was für die Charakterisierung im Nanomaßstab von zentraler Relevanz ist. Darüber hinaus führte das Konsortium erfolgreich eine K-Kante- Absorptionsmessung der elementaren Zersetzung durch. Dieses Bildgebungsverfahren bietet eine Reihe von Vorteilen gegenüber anderen bildgebenden Verfahren und erfordert keine zusätzliche Hardware. Die NANOXCT-Initiative hat gezeigt, dass es möglich ist, Eigenschaften und Mängel von Nanomaterialien mit den vorgeschlagenen Methoden zu analysieren und zu identifizieren. Dieser Fortschritt wird letztlich Auswirkungen in verschiedenen Bereichen haben, in denen Nanotechnologie eingesetzt wird, zum Beispiel in Nanoelektronik und Nanorobotik.
Schlüsselbegriffe
Nanomaterialien, NANOXCT, Röntgencomputertomografie, zerstörungsfrei, Absorptionsmesstechnik
