Des progrès dans les nanotechnologies
Actuellement, l'analyse et la caractérisation de matériaux d'échelle nanométrique fait principalement appel à des tests destructifs ou de surface, limités à l'inspection superficielle ou à l'analyse en 2 dimensions. Le projet NANOXCT (Compact X-ray computed tomography system for non destructive characterization of nano materials) a mis au point une méthode non destructive pour analyser et caractériser les nanomatériaux. Ses chercheurs ont associé la tomodensitométrie par rayons X avec l'absorptiométrie K-edge, afin de caractériser la structure et la composition des nanomatériaux. Le consortium de NANOXCT a mis au point une nouvelle source de rayons X, avec le détecteur et le logiciel, et proposé des solutions pour assurer le positionnement précis requis des composants et de l'éprouvette pendant le balayage, qui est d'une importance critique pour la caractérisation à l'échelle nanométrique. En outre, le consortium a appliqué l'absorptiométrie K-edge pour la composition en éléments. Cette méthode d'imagerie apporte plusieurs avantages et ne demande pas de matériel supplémentaire. Le projet NANOXCT a montré qu'il était possible d'analyser et d'identifier les caractéristiques et les défauts de nanomatériaux à l'aide des méthodes proposées. Ces avancées auront un impact sur divers secteurs utilisant les nanotechnologies, comme la nanoélectronique et la nanorobotique.
Mots‑clés
Nanomatériaux, NANOXCT, tomodensitométrie X, non destructif, absorptiométrie
