Postępy w nanotechnologii
Analiza i charakterystyka materiałów nanoskalowych opiera się aktualnie przede wszystkim na badaniach niszczących lub metodach powierzchniowych, ograniczonych do inspekcji w pobliżu powierzchni lub analizy 2D. W ramach inicjatywy NANOXCT(odnośnik otworzy się w nowym oknie) (Compact X-ray computed tomography system for non destructive characterization of nano materials) opracowano nieniszczącą metodę analizy i charakterystyki nanomateriałów. Uczeni zastosowali połączenie tomografii komputerowej (TK) i absorpcjometrii wykorzystującej krawędź K do scharakteryzowania struktury i składu pierwiastkowego nanomateriałów. Konsorcjum NANOXCT opracowało nowe źródło promieniowania rentgenowskiego, detektor i oprogramowanie dla systemu oraz przygotowało rozwiązania do odpowiedniego precyzyjnego pozycjonowania komponentów i próbek podczas badania, co ma kluczowe znaczenie dla charakterystyki na poziomie nano. Udało się też wdrożyć absorpcjometrię wykorzystującą krawędź K do analizy pierwiastkowej. Ta metoda obrazowania ma szereg zalet w porównaniu do innych technik obrazowania i nie wymaga stosowania dodatkowego sprzętu. Uczestnicy inicjatywy NANOXCT dowiedli, że nowa metoda umożliwia analizę i identyfikację cech i wad nanomateriałów. Prace te będą miały istotne znaczenie dla różnych dziedzin, w których stosuje się nanotechnologię, na przykład nanoelektroniki czy nanorobotyki.
