Actinic photoemission spectroscopy of litho materials using a table-top ultrafast EUV source
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Autores:
D. P. Singh, K. M. Dorney, F. Holzmeier, E. W. Larsen, L. Galleni, C. Mokhtarzadeh, M. J. van Setten, T. Conard, J. S. Petersen, P. A. W. van der Heide
Publicado en:
Proc. SPIE 12955, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVIII, Edición 12955, 2024, 2024, Página(s) 1295504
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.3010751
Actinic inspection of the EUV optical parameters of lithographic materials with lab-based radiometry and reflectometry
(se abrirá en una nueva ventana)
Autores:
Kevin M. Dorney, Nicola N. Kissoon, Fabian Holzmeier, Esben W. Larsen, Dhirendra P. Singh, Shikhar Arvind, Sayantani Santra, Roberto Fallica, Igor Makhotkin, Vicky Philipsen, Stefan De Gendt, Claudia Fleischmann, Paul A. W. van der Heide, John S. Petersen
Publicado en:
Proceedings of SPIE, Volume 12494, Optical and EUV Nanolithography XXXVI, Edición 12494, 2023, 2023, Página(s) 1249407
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2658359