Actinic photoemission spectroscopy of litho materials using a table-top ultrafast EUV source
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Auteurs:
D. P. Singh, K. M. Dorney, F. Holzmeier, E. W. Larsen, L. Galleni, C. Mokhtarzadeh, M. J. van Setten, T. Conard, J. S. Petersen, P. A. W. van der Heide
Publié dans:
Proc. SPIE 12955, Metrology, Inspection, and Process Control XXXVIII, Numéro 12955, 2024, 2024, Page(s) 1295504
Éditeur:
SPIE
DOI:
10.1117/12.3010751
Actinic inspection of the EUV optical parameters of lithographic materials with lab-based radiometry and reflectometry
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Auteurs:
Kevin M. Dorney, Nicola N. Kissoon, Fabian Holzmeier, Esben W. Larsen, Dhirendra P. Singh, Shikhar Arvind, Sayantani Santra, Roberto Fallica, Igor Makhotkin, Vicky Philipsen, Stefan De Gendt, Claudia Fleischmann, Paul A. W. van der Heide, John S. Petersen
Publié dans:
Proceedings of SPIE, Volume 12494, Optical and EUV Nanolithography XXXVI, Numéro 12494, 2023, 2023, Page(s) 1249407
Éditeur:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2658359