Literature Review: Global Criticality Assessment Based on Feature Surrogates at the PCBA Levels
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Auteurs:
Qiulin Yu, Vikram G. Kamble, Dieter P. Gruber, Peter F. Fuchs, Karl Fendt, Thomas Krivec
Publié dans:
2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), Numéro 209, 2024, ISSN 2833-8596
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/EuroSimE60745.2024.10491544
Warpage Optimization of Package Substrates Using Metamodels - A Review
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Auteurs:
Fredy John Porathur, Vikram G Kamble, Eduard Stadler, Fabian Huber, Dieter P. Gruber, Peter Filipp Fuchs
Publié dans:
2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024, ISSN 2833-8596
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/EuroSimE60745.2024.10491528
A comprehensive methodology for criticality assessment of microvias in printed circuit board assemblies
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Auteurs:
Vikram G Kamble, Dhaval Rasheshkumar Patel, Christian Schipfer, Andreas Thalhamer, Julia Zuendel, Thomas Krivec, Thomas Antretter, Peter Filipp Fuchs
Publié dans:
2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024, ISSN 2833-8596
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/EuroSimE60745.2024.10491487
Enhancing Defect Detection Using Lock In Thermography
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Auteurs:
Doaa Mohamed, Daniel May, Kaushal Arun Pareek, Mohamad Abo Ras, Bernhard Wunderle
Publié dans:
2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/EuroSimE60745.2024.10491470