Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

MIcroelectronics RELiability driven by Artificial Intelligence

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Rezultaty

Publikacje

Literature Review: Global Criticality Assessment Based on Feature Surrogates at the PCBA Levels (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Qiulin Yu, Vikram G. Kamble, Dieter P. Gruber, Peter F. Fuchs, Karl Fendt, Thomas Krivec
Opublikowane w: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), Numer 209, 2024, ISSN 2833-8596
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/EuroSimE60745.2024.10491544

Warpage Optimization of Package Substrates Using Metamodels - A Review (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Fredy John Porathur, Vikram G Kamble, Eduard Stadler, Fabian Huber, Dieter P. Gruber, Peter Filipp Fuchs
Opublikowane w: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024, ISSN 2833-8596
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/EuroSimE60745.2024.10491528

A comprehensive methodology for criticality assessment of microvias in printed circuit board assemblies (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Vikram G Kamble, Dhaval Rasheshkumar Patel, Christian Schipfer, Andreas Thalhamer, Julia Zuendel, Thomas Krivec, Thomas Antretter, Peter Filipp Fuchs
Opublikowane w: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024, ISSN 2833-8596
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/EuroSimE60745.2024.10491487

Enhancing Defect Detection Using Lock In Thermography (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Doaa Mohamed, Daniel May, Kaushal Arun Pareek, Mohamad Abo Ras, Bernhard Wunderle
Opublikowane w: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/EuroSimE60745.2024.10491470

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Moja broszura 0 0