HETEROGENEOUS MATERIAL AND TECHNOLOGICAL PLATFORM FOR A NEW DOMAIN OF POWER NANOELECTRONICS

Informations projet

NANOMAT

N° de convention de subvention: 101091433

DOI

10.3030/101091433

Date de signature de la CE 14 Novembre 2022

Date de début 1 Decembre 2022

Date de fin 30 Juin 2026

Financé au titre de

• Digital, Industry and Space

Coût total

€ 4 125 051,25

Contribution de l’UE

€ 4 125 051,00

Coordonné par

THALES
France

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Documents, reports (6)

Progress Management Reports Y1
Risk management (6 months update)
Dissemination and Communication report Y1
Progress Activity Report Y1
Yearly report on benchmarking Y1
NANOMAT PDE

Other (2)

Device use case trained models for machine learning
Device use case trained models for machine learning-2

Device use case trained models for machine learning

Data Management Plan (1)

NANOMAT DMP

Websites, patent fillings, videos etc. (1)

NANOMAT website

Publications

Conference proceedings (16)

Determination of III-Nitride compound semiconductors polarity by SPM methods

Auteurs: K. Tsagaraki, A. Adikimenakis, A. Kostopoulos and A. Georgakilas
Publié dans: Micor Nano 2024, 2024
Éditeur: None

A study of Nanocrystalline Diamond electrical properties for RF-MEMS capacitive switches application

Auteurs: I.Kochylas, J. Theocharis, G.Papaioannou, Z.Afshin
Publié dans: 2024
Éditeur: None

An experimental study of power related reliability in RF MEMS capacitive switches

Auteurs: L. Michalas, A. Ngabonziza, G. Stavrinidis, P. Martins, M. le Baillif, A. Ziaei and G. Konstantinidis
Publié dans: Micro Nano 2024, 2024
Éditeur: None

On the electrical properties of ALD HfO2 dielectric films for MEMS capacitive switches

Auteurs: J. Theocharis, J. P. Martins, A. Mahjoub, E. Eustache, A. Ziaei, G. Papaioannou
Publié dans: 2024
Éditeur: sciencedirect

Electrical Characterization of HfO2 Dielectric Films Deposited by ALD for RF-MEMS Capacitive Switches

Auteurs: J. Theocharis, J. P. Martins,A. Mahjoub,E. Eustache, A. Ziaei and G. Papaioannou
Publié dans: 2024
Éditeur: None

Aging Investigations under Mechanical Stress on special Thermal Interface Materials

Auteurs: Antonio Harder, Santiago Campos-Boettges and Mohamad Abo Ras
Publié dans: SEMI-THERM Conference 2023, 2023
Éditeur: IEEE

Electrical Properties of Y2O3 for MEMS Applications

Auteurs: I. Kochilas, J. P. Martins, J. Theocharis, A. Mahjoub, E. Eustache, A. Ziaei, G. Papaioannou
Publié dans: EuroSimE 2025, 2025
Éditeur: None

Growth and performance of n++GaN/InAlN/AlN/GaN heterostructures for E/D-mode HEMTs applications

Auteurs: M. Blaho, D. Gregušová, O. Pohorelec, S. Hasenöhrl, P. Eliáš, F. Gucmann, E. Dobročka, Z. Zápražný, Š. Haščík, M. Kayambaki, M. Androulidaki, G. Konstantinidis, and J. Kuzmík
Publié dans: 12th International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2024), 2024
Éditeur: None

Finite Element Simulation of Accelerated Stress Testing and Damage Detection for Micro and Nano Structures Using Surface Acoustic Waves (SAWs)

Auteurs: Arash Mohammadi, George Boldeiu, Dan Vasilache, Afshin Ziaei, Bernhard Wunderle
Publié dans: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/EuroSimE60745.2024.10491501

Advanced Threshold voltage extraction methodologies for GaN High Electron Mobility Transistors

Auteurs: L. Chevas, N. Makris, M. Kayambaki, A. Kostopoulos, A. Stavrinidis, E. Lourandakis, G. Konstantinidis and M. Bucher
Publié dans: 2023
Éditeur: Micro Nano 2023

Thermal Effects in Surface Acoustic Wave Devices Induced by Damping

Auteurs: George Boldeiu, Alexandra Nicoloiu, Arash Mohammadi, Claudia Nastase, Monica Nedelcu, Ioana Zdru, Dan Vasilache, Adrian Dinescu, Bernhard Wunderle, Alexandru Muller
Publié dans: EuroSimE2025, 2025
Éditeur: None

Exploring Relaxation and Recovery Effects in Thermal Interface Materials

Auteurs: Santiago Campos-Boettges, Antonio Harder and Mohamad Abo Ras
Publié dans: 17th Advanced Technology Workshop on Micropackaging and Thermal Management, 2024
Éditeur: None

Considering Sustainability in Nanofabrication Cleanrooms: Initial Thoughts to Accelerate the Concept

Auteurs: V. Kontomitrou, S. Lymperapoulou, G. Stavrinidis, A. Stavrinidis, A. Kostopoulos, G. Konstantinidis and L. Michalas
Publié dans: 2024
Éditeur: None

High-power RF MEMS capacitive switches: Considering the self-actuation effect

Auteurs: L. Michalas, G. Stavrinidis, A. Stavrinidis, K. Tsagaraki and G. Konstantinidis
Publié dans: 2023
Éditeur: Mico Nano 2024

Study of the optical properties and stoichiometry of Silicon Nitride thin films grown on different substrates

Auteurs: M. Androulidaki, A. Stavrinidis, C.C. Katsidis, L. Michalas, K. Tsagaraki and G. Konstantinidi
Publié dans: 2023
Éditeur: Micro Nano 2023

Development of Hall Measurements in Nanomaterials

Auteurs: E. Koutantou, G. Veisakis, G. Makris, D. Kosmidis and G. Deligeorgis
Publié dans: 2024
Éditeur: None

Peer reviewed articles (3)

Growth and performance of n++ GaN cap layer for HEMTs applications

Auteurs: J. Kuzmík, M. Blaho, D. Gregušová, P. Eliáš, O. Pohorelec, S. Hasenöhrl, Š. Haščík, F. Gucmann, Z. Zápražný, E. Dobročka, M. Kyambaki, G. Konstantinidis
Publié dans: Materials Science in Semiconductor Processing, Numéro 185, 2024, ISSN 1369-8001
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.MSSP.2024.108959

A study of field emission current in MEMS capacitors with bottom electrode covered by dielectric film

Auteurs: J. Theocharis, D. Birmpiliotis, S. Gardelis, G. Papaioannou
Publié dans: Microelectronics Reliability, Numéro 150, 2023, ISSN 0026-2714
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.microrel.2023.115192

Enhanced 2DEG confinement in GaN-based HEMTs: Exploring the role of AlGaN back barriers through Schrödinger - Poisson simulations and experimental validation

Auteurs: Athanasios Kostopoulos, Adam Adikimenakis, Katerina Tsagaraki, Maria Kayambaki, Nikolaos Kornilios, George Konstantinidis, Alexandros Georgakilas
Publié dans: Materials Science in Semiconductor Processing, Numéro 188, 2025, ISSN 1369-8001
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.MSSP.2024.109213

Other (1)

On the electrical properties of ALD HfO2 dielectric films for MEMS capacitive switches

Auteurs: J. Theocharis, J. P. Martins, A. Mahjoub, E. Eustache, A. Ziaei, G. Papaioannou
Publié dans: Microelectronics Reliability, 2025
Éditeur: ScienceDirect