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Veröffentlichungen
Autoren:
Dadmehr Rahbari, Masoud Daneshtalab, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
IEEE Access, Ausgabe 13, 2025, ISSN 2169-3536
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI:
10.1109/ACCESS.2025.3576689
Autoren:
Natalia Cherezova, Artur Jutman, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
Microprocessors and Microsystems, Ausgabe 119, 2025, ISSN 0141-9331
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/J.MICPRO.2025.105222
Autoren:
Selg, Hardi; Shibin, Konstantin; Tsertov, Anton; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter; Raik, Jaan
Veröffentlicht in:
2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2024, ISSN 2765-933X
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DFT63277.2024.10753541
Autoren:
Mahdi Taheri, Natalia Cherezova, Samira Nazari, Ali Azarpeyvand, Tara Ghasempouri, Masoud Daneshtalab, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Ausgabe 25, 2025, ISSN 1530-4388
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI:
10.1109/TDMR.2024.3523386
Autoren:
Ahsan Rafiq, Alberto Bosio, Salvatore Pappalardo, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2025 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2025
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ISVLSI65124.2025.11130248
Autoren:
Kodamanchili, Rama Mounika; Cherezova; Natalia; Taheri, Mahdi; Jenihhin, Maksim
Veröffentlicht in:
IEEE Asian Test Symposium (ATS'25) (ATS-25)
DOI:
10.5281/ZENODO.18462542
Autoren:
Samira Nazari, Mahdi Taheri, Ali Azarpeyvand, Mohsen Afsharchi, Christian Herglotz, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2025 IEEE 26th Latin American Test Symposium (LATS), 2025
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/LATS65346.2025.10963948
Autoren:
Samira Nazari, Mahdi Taheri, Ali Azarpeyvand, Mohsen Afsharchi, Tara Ghasempouri, Christian Herglotz, Masoud Daneshtalab, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2024
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
DOI:
10.36227/techrxiv.173143099.94285566/v1
Autoren:
Hardi Selg, Konstantin Shibin, Anton Tsertov, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2024
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DFT63277.2024.10753541
Autoren:
Samira Nazari, Mahdi Taheri, Ali Azarpeyvand, Mohsen Afsharchi, Tara Ghasempouri, Christian Herglotz, Masoud Daneshtalab, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2024 IEEE 33rd Asian Test Symposium (ATS), 2025
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ATS64447.2024.10915463
Autoren:
Samira Nazari, Mahdi Taheri, Ali Azarpeyvand, Mohsen Afsharchi, Christian Herglotz, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2025 11th International Conference on Computing and Artificial Intelligence (ICCAI), 2025
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ICCAI66501.2025.00049
Autoren:
Ahsan Rafiq, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2025 55th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W), 2025
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DSN-W65791.2025.00047
Autoren:
Mahdi Taheri, Parth Patne, Natalia Cherezova, Ali Mahani, Christian Herglotz, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2025 IEEE 28th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2025
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS63720.2025.11006795
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