Picometer metrology for light-element nanostructures: making every electron count

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Publicaciones

Element specific atom counting for heterogeneous nanostructures : combining multiple ADF STEM images for simultaneous thickness and composition determination

Autores: Sentürk Duygu Gizem, De Backer Annick, Van Aert Sandra
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 259, 2024, Página(s) 113941, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2024.113941

3D Characterization and Plasmon Mapping of Gold Nanorods Welded by Femtosecond Laser Irradiation

Autores: Thaís Milagres de Oliveira, Wiebke Albrecht, Guillermo González-Rubio, Thomas Altantzis, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Armand Béché, Sandra Van Aert, Andrés Guerrero-Martínez, Luis M. Liz-Marzán, Sara Bals
Publicado en: ACS Nano, Edición 14/10, 2020, Página(s) 12558-12570, ISSN 1936-0851
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c02610

Alloy CsCd x Pb 1– x Br 3 Perovskite Nanocrystals: The Role of Surface Passivation in Preserving Composition and Blue Emission

Autores: Muhammad Imran, Julien Ramade, Francesco Di Stasio, Manuela De Franco, Joka Buha, Sandra Van Aert, Luca Goldoni, Simone Lauciello, Mirko Prato, Ivan Infante, Sara Bals, Liberato Manna
Publicado en: Chemistry of Materials, 2020, ISSN 0897-4756
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.chemmater.0c03825

Modelling ADF STEM images using elliptical Gaussian peaks and its effects on the quantification of structure parameters in the presence of sample tilt

Autores: De wael, A.; De Backer, A.; Lobato, I.; Van Aert, S.
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 03043991, 2021, Página(s) 113391, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113391

Real-time simulations of ADF STEM probe position-integrated scattering cross-sections for single element fcc crystals in zone axis orientation using a densely connected neural network

Autores: Lobato Hoyos Ivan Pedro, De Backer A., Van Aert Sandra
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 251, 2023, Página(s) 113769, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113769

Phase object reconstruction for 4D-STEM using deep learning

Autores: Friedrich Thomas, Yu Chu-Ping, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra
Publicado en: Microscopy and microanalysis, Edición 29, 2023, Página(s) 395, ISSN 1431-9276
Editor: Cambridge University Press
DOI: 10.1093/micmic/ozac002

Interface Pattern Engineering in Core‐Shell Upconverting Nanocrystals: Shedding Light on Critical Parameters and Consequences for the Photoluminescence Properties

Autores: Hudry, D.; De Backer, A.; Popescu, R.; Busko, D.; Howard, I.A.; Bals, S.; Zhang, Y.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Van Aert, S.; Gerthsen, D.; Altantzis, T.; Richards, B.S.
Publicado en: Small, Edición 17, 2021, Página(s) 2104441, ISSN 1613-6810
Editor: Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI: 10.1002/smll.202104441

Element Specific Atom Counting at the Atomic Scale by Combining High Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy and Energy Dispersive X‐ray Spectroscopy

Autores: De Backer, A.; Zhang, Z.; van den Bos, K.H.W.; Bladt, E.; Sánchez‐Iglesias, A.; Liz‐Marzán, L.M.; Nellist, P.D.; Bals, S.; Van Aert, S.
Publicado en: Small Methods, Edición 6, 2022, Página(s) 2200875, ISSN 2366-9608
Editor: Wiley-v c h verlag gmbh
DOI: 10.1002/smtd.202200875

Three-Dimensional Nanoparticle Transformations Captured by an Electron Microscope

Autores: Wiebke Albrecht, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publicado en: Accounts of Chemical Research, Edición 54/5, 2021, Página(s) 1189-1199, ISSN 0001-4842
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.accounts.0c00711

Measuring Dynamic Structural Changes of Nanoparticles at the Atomic Scale Using Scanning Transmission Electron Microscopy

Autores: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Aakash Varambhia, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
Publicado en: Physical Review Letters, Edición 124/10, 2020, ISSN 0031-9007
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.124.106105

Coupling Charge and Topological Reconstructions at Polar Oxide Interfaces

Autores: van Thiel, T. c.; Brzezicki, W.; Autieri, C.; Hortensius, J. r.; Afanasiev, D.; Gauquelin, N.; Jannis, D.; Janssen, N.; Groenendijk, D. j.; Fatermans, J.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.; Cuoco, M.; Caviglia, A. d.
Publicado en: Physical review letters, Edición 127, 2021, Página(s) 127202, ISSN 0031-9007
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.127.127202

Sampling Real-Time Atomic Dynamics in Metal Nanoparticles by Combining Experiments, Simulations, and Machine Learning

Autores: Matteo Cioni, Massimo Delle Piane, Daniela Polino, Daniele Rapetti, Martina Crippa, Ece Arslan Irmak, Sandra Van Aert, Sara Bals, and Giovanni M. Pavan
Publicado en: Advanced Science, 2024, Página(s) 1-13, ISSN 2198-3844
Editor: Wiley
DOI: 10.1002/advs.202307261

Thermal Activation of Gold Atom Diffusion in Au@Pt Nanorods

Autores: Pedrazo-Tardajos, A.; Arslan Irmak, E.; Kumar, V.; Sánchez-Iglesias, A.; Chen, Q.; Wirix, M.; Freitag, B.; Albrecht, W.; Van Aert, S.; Liz-Marzán, L.M.; Bals, S.
Publicado en: ACS nano, Edición 16, 2022, Página(s) 9608-9619, ISSN 1936-0851
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.2c02889

Dynamical diffraction of high-energy electrons investigated by focal series momentum-resolved scanning transmission electron microscopy at atomic resolution

Autores: Robert, Hl.; Lobato, I.; Lyu, Fj.; Chen, Q.; Van Aert, S.; Van Dyck, D.; Müller-Caspary, K.
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 233, 2022, Página(s) 113425, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113425

Atom counting from a combination of two ADF STEM images

Autores: Sentürk Duygu Gizem, Yu C.P., De Backer A., Van Aert Sandra
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 255, 2024, Página(s) 113859, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113859

Low-dose 4D-STEM tomography for beam-sensitive nanocomposites

Autores: Hugenschmidt Milena, Jannis Daen, Kadu Ajinkya Anil, Grünewald Lukas, De Marchi Sarah, Perez-Juste Jorge, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra, Bals Sara
Publicado en: ACS materials letters, Edición 6, 2023, Página(s) 165-173, ISSN 2639-4979
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsmaterialslett.3c01042

Berry phase engineering at oxide interfaces

Autores: D. J. Groenendijk, C. Autieri, T. C. van Thiel, W. Brzezicki, J. R. Hortensius, D. Afanasiev, N. Gauquelin, P. Barone, K. H. W. van den Bos, S. van Aert, J. Verbeeck, A. Filippetti, S. Picozzi, M. Cuoco, A. D. Caviglia
Publicado en: Physical Review Research, Edición 2/2, 2020, ISSN 2643-1564
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevresearch.2.023404

A decade of atom-counting in STEM : from the first results toward reliable 3D atomic models from a single projection

Autores: De Backer Annick, Bals Sara, Van Aert Sandra, Van Aert Sandra
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 247, 2023, Página(s) 113702, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113702

Experimental reconstructions of 3D atomic structures from electron microscopy images using a Bayesian genetic algorithm

Autores: De Backer, A.; Van Aert, S.; Faes, C.; Arslan Irmak, E.; Nellist, P.D.; Jones, L.
Publicado en: npj Computational Materials, Edición 20573960, 2022, Página(s) 1-8, ISSN 2057-3960
Editor: N P J Computational Materials / Chinese academy of sciences
DOI: 10.1038/s41524-022-00900-w

Single Atom Detection from Low Contrast-to-Noise Ratio Electron Microscopy Images

Autores: J. Fatermans, A. J. den Dekker, K. Müller-Caspary, I. Lobato, C. M. O’Leary, P. D. Nellist, S. Van Aert
Publicado en: Physical Review Letters, Edición 121/5, 2018, ISSN 0031-9007
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.121.056101

The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials

Autores: K.H.W. van den Bos, L. Janssens, A. De Backer, P.D. Nellist, S. Van Aert
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 203, 2019, Página(s) 155-162, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.12.004

Electrical Polarization in AlN/GaN Nanodisks Measured by Momentum-Resolved 4D Scanning Transmission Electron Microscopy

Autores: Knut Müller-Caspary, Tim Grieb, Jan Müßener, Nicolas Gauquelin, Pascal Hille, Jörg Schörmann, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Martin Eickhoff, Andreas Rosenauer
Publicado en: Physical Review Letters, Edición 122/10, 2019, ISSN 0031-9007
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.106102

Recent Advances in Transmission Electron Microscopy for Materials Science at the EMAT Lab of the University of Antwerp

Autores: Giulio Guzzinati, Thomas Altantzis, Maria Batuk, Annick De Backer, Gunnar Lumbeeck, Vahid Samaee, Dmitry Batuk, Hosni Idrissi, Joke Hadermann, Sandra Van Aert, Dominique Schryvers, Johan Verbeeck, Sara Bals
Publicado en: Materials, Edición 11/8, 2018, Página(s) 1304, ISSN 1996-1944
Editor: MDPI Open Access Publishing
DOI: 10.3390/ma11081304

Quantitative 3D Characterization of Elemental Diffusion Dynamics in Individual Ag@Au Nanoparticles with Different Shapes

Autores: Alexander Skorikov, Wiebke Albrecht, Eva Bladt, Xiaobin Xie, Jessi E. S. van der Hoeven, Alfons van Blaaderen, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publicado en: ACS Nano, Edición 13/11, 2019, Página(s) 13421-13429, ISSN 1936-0851
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.9b06848

Self‐Assembly of Atomically Thin Chiral Copper Heterostructures Templated by Black Phosphorus

Autores: Hannah C. Nerl, Anuj Pokle, Lewys Jones, Knut Müller‐Caspary, Karel H. W. Bos, Clive Downing, Eoin K. McCarthy, Nicolas Gauquelin, Quentin M. Ramasse, Ivan Lobato, Dermot Daly, Juan Carlos Idrobo, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo, Stefano Sanvito, Jonathan N. Coleman, Clotilde S. Cucinotta, Valeria Nicolosi
Publicado en: Advanced Functional Materials, Edición 29/37, 2019, Página(s) 1903120, ISSN 1616-301X
Editor: John Wiley & Sons Ltd.
DOI: 10.1002/adfm.201903120

Three-Dimensional Quantification of the Facet Evolution of Pt Nanoparticles in a Variable Gaseous Environment

Autores: Thomas Altantzis, Ivan Lobato, Annick De Backer, Armand Béché, Yang Zhang, Shibabrata Basak, Mauro Porcu, Qiang Xu, Ana Sánchez-Iglesias, Luis M. Liz-Marzán, Gustaaf Van Tendeloo, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publicado en: Nano Letters, Edición 19/1, 2018, Página(s) 477-481, ISSN 1530-6984
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.8B04303

The maximum a posteriori probability rule for atom column detection from HAADF STEM images

Autores: J. Fatermans, S. Van Aert, A.J. den Dekker
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 201, 2019, Página(s) 81-91, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.02.003

Control of Knock-On Damage for 3D Atomic Scale Quantification of Nanostructures: Making Every Electron Count in Scanning Transmission Electron Microscopy

Autores: Sandra Van Aert, Annick De Backer, Lewys Jones, Gerardo T. Martinez, Armand Béché, Peter D. Nellist
Publicado en: Physical Review Letters, Edición 122/6, 2019, ISSN 0031-9007
Editor: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.066101

Comparison of first moment STEM with conventional differential phase contrast and the dependence on electron dose

Autores: Knut Müller-Caspary, Florian F. Krause, Florian Winkler, Armand Béché, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Andreas Rosenauer
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 203, 2019, Página(s) 95-104, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.12.018

Monitoring oxygen production on mass-selected iridium–tantalum oxide electrocatalysts

Autores: Zheng, Y.-R.; Vernieres, J.; Wang, Z.; Zhang, K.; Hochfilzer, D.; Krempl, K.; Liao, T.-W.; Presel, F.; Altantzis, T.; Fatermans, J.; Scott, S.B.; Secher, N.M.; Moon, C.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.; Cao, A.; Anand, M.; Nørskov, J.K.; Kibsgaard, J.; Chorkendorff, I.
Publicado en: Nature Energy, 2021, ISSN 2058-7546
Editor: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41560-021-00948-w

3D Atomic‐Scale Dynamics of Laser‐Light‐Induced Restructuring of Nanoparticles Unraveled by Electron Tomography

Autores: Albrecht, W.; Arslan Irmak, E.; Altantzis, T.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Skorikov, A.; Deng, T.‐S.; van der Hoeven, J.E.S.; van Blaaderen, A.; Van Aert, S.; Bals, S.
Publicado en: Advanced materials, Edición 33, 2021, Página(s) 2100972, ISSN 0935-9648
Editor: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202100972

Three-dimensional atomic structure of supported Au nanoparticles at high temperature

Autores: Pei Liu, Ece Arslan Irmak, Annick De Backer, Annelies De wael, Ivan Lobato, Armand Béché, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publicado en: Nanoscale, Edición 13/3, 2021, Página(s) 1770-1776, ISSN 2040-3364
Editor: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d0nr08664a

Deep convolutional neural networks to restore single-shot electron microscopy images

Autores: Lobato Hoyos Ivan Pedro, Friedrich Thomas, Van Aert Sandra
Publicado en: NPJ Computational Materials, Edición 10, 2024, Página(s) 1-19, ISSN 2057-3960
Editor: Springer Nature
DOI: 10.1038/s41524-023-01188-0

Optimal experiment design for element specific atom counting using multiple annular dark field scanning transmission electron microscopy detectors

Autores: Sentürk, D.G.; De Backer, A.; Friedrich, T.; Van Aert, S.
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 242, 2022, Página(s) 113626, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113626

Atomic-scale detection of individual lead clusters confined in Linde Type A zeolites

Autores: Fatermans, J.; Romolini, G.; Altantzis, T.; Hofkens, J.; Roeffaers, M.B.J.; Bals, S.; Van Aert, S.
Publicado en: Nanoscale, Edición 20403364, 2022, Página(s) 9323-9330, ISSN 2040-3364
Editor: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d2nr01819e

Preventing cation intermixing enables 50% quantum yield in sub-15 nm short-wave infrared-emitting rare-earth based core-shell nanocrystals

Autores: Fernando Arteaga Cardona; Noopur Jain; Radian Popescu; Dmitry Busko; Eduard Madirov; Bernardo A. Arús; Dagmar Gerthsen; Annick De Backer; Sara Bals; Oliver T. Bruns; Andriy Chmyrov; Sandra Van Aert; Bryce S. Richards; Damien Hudry
Publicado en: Nature Communications, Edición 14, 2023, Página(s) 1-14, ISSN 2041-1723
Editor: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41467-023-40031-4

Restructuring of titanium oxide overlayers over nickel nanoparticles during catalysis

Autores: Monai Matteo, Jenkinson Kellie, Melcherts Angela E.M., Louwen Jaap N., Arslan Irmak Ece, Van Aert Sandra, Altantzis Thomas, Vogt Charlotte, van der Stam Ward, Duchon Tomas, Smid Bretislav, Groeneveld Esther, Berben Peter, Bals Sara, Weckhuysen Bert M.
Publicado en: Science, Edición 380, 2023, Página(s) 644-651, ISSN 0036-8075
Editor: American Association for the Advancement of Science
DOI: 10.1126/science.adf6984

3D Atomic Structure of Supported Metallic Nanoparticles Estimated from 2D ADF STEM Images: A Combination of Atom – Counting and a Local Minima Search Algorithm

Autores: Arslan Irmak, E.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.
Publicado en: Small methods, Edición 5, 2021, Página(s) 2101150, ISSN 2366-9608
Editor: Wiley-VCH GmbH
DOI: 10.1002/smtd.202101150

Real-Time Integration Center of Mass (riCOM) Reconstruction for 4D STEM

Autores: Yu, C.-P.; Friedrich, T.; Jannis, D.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.
Publicado en: Microscopy and microanalysis, Edición 14319276, 2022, Página(s) 1526-1537, ISSN 1431-9276
Editor: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622000617

Hidden Markov model for atom-counting from sequential ADF STEM images: Methodology, possibilities and limitations

Autores: Annelies De wael, Annick De Backer, Sandra Van Aert
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 219, 2020, Página(s) 113131, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113131

An atomically dispersed Mn-photocatalyst for generating hydrogen peroxide from seawater via the Water Oxidation Reaction (WOR)

Autores: Ren Peng, Zhang Tong, Jain Noopur, Ching Hong Yue Vincent, Jaworski Aleksander, Barcaro Giovanni, Monti Susanna, Silvestre-Albero Joaquin, Celorrio Veronica, Chouhan Lata, Rokicinska Anna, Debroye Elke, Kustrowski Piotr, Van Doorslaer Sabine, Van Aert Sandra, Bals Sara, Das Shoubhik
Publicado en: Journal of the American Chemical Society, Edición 145, 2023, Página(s) 16584-16596, ISSN 0002-7863
Editor: American Chemical Society
DOI: 10.1021/jacs.3c03785

Three approaches for representing the statistical uncertainty on atom-counting results in quantitative ADF STEM

Autores: De wael, A.; De Backer, A.; Yu, C.-P.; Sentürk, D.G.; Lobato, I.; Faes, C.; Van Aert, S.
Publicado en: Microscopy and microanalysis, 2022, Página(s) 1-9, ISSN 1431-9276
Editor: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622012284

Fast generation of calculated ADF-EDX scattering cross-sections under channelling conditions

Autores: Zhang, Zezhong; Lobato, Ivan; De Backer, Annick; Van Aert, Sandra; Nellist, Peter
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 246, 2023, Página(s) 113671, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113671

Atom column detection from simultaneously acquired ABF and ADF STEM images

Autores: J. Fatermans, A.J. den Dekker, K. Müller-Caspary, N. Gauquelin, J. Verbeeck, S. Van Aert
Publicado en: Ultramicroscopy, Edición 219, 2020, Página(s) 113046, ISSN 0304-3991
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113046

Optimal experiment design for nanoparticle atom counting from ADF STEM images

Autores: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 145-175, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.005

Statistical parameter estimation theory: principles and simulation studies

Autores: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 29-72, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.002

Atom column detection

Autores: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 177-214, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.006

Efficient fitting algorithm

Autores: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 73-90, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.003

Atom counting

Autores: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 91-144, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.004

Introduction

Autores: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 1-28, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.001

Image-quality evaluation and model selection with maximum a posteriori probability

Autores: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 215-242, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.007

General conclusions and future perspectives

Autores: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publicado en: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Edición 217, 2021, Página(s) 243-253, ISBN 9780128246078
Editor: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.008

Phase retrieval from 4-dimensional electron diffraction datasets

Autores: Friedrich, Thomas; Yu, Chu-Ping; Verbeek, Johan; Pennycook, Timothy; Van Aert, Sandra
Publicado en: IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), SEP 19-22, 2021, Electr. network, 2021, Página(s) 3453-3457, ISBN 978-1-6654-4115-5
Editor: IEEE
DOI: 10.1109/icip42928.2021.9506709

Unscrambling complex heterogeneous nanostructures by using quantitative 4D scanning transmission electron microscopy

Autores: Duygu Gizem Şentürk
Publicado en: 2024
Editor: University of Antwerp

Quantifying atomic structures using neural networks from 4D scanning transmission electron microscopy (STEM) datasets

Autores: Friedrich, Thomas
Publicado en: 2023
Editor: University of Antwerp

Derechos de propiedad intelectual

REDUCING IMAGE ARTEFACTS IN ELECTRON MICROSCOPY

Número de solicitud/publicación: 22 159431
Fecha: 2022-03-01
Solicitante(s): UNIVERSITEIT ANTWERPEN

PHASE RETRIEVAL IN ELECTRON MICROSCOPY

Número de solicitud/publicación: 21 168468
Fecha: 2021-04-14
Solicitante(s): UNIVERSITEIT ANTWERPEN

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