Picometer metrology for light-element nanostructures: making every electron count

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Pubblicazioni

Element specific atom counting for heterogeneous nanostructures : combining multiple ADF STEM images for simultaneous thickness and composition determination

Autori: Sentürk Duygu Gizem, De Backer Annick, Van Aert Sandra
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 259, 2024, Pagina/e 113941, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2024.113941

3D Characterization and Plasmon Mapping of Gold Nanorods Welded by Femtosecond Laser Irradiation

Autori: Thaís Milagres de Oliveira, Wiebke Albrecht, Guillermo González-Rubio, Thomas Altantzis, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Armand Béché, Sandra Van Aert, Andrés Guerrero-Martínez, Luis M. Liz-Marzán, Sara Bals
Pubblicato in: ACS Nano, Numero 14/10, 2020, Pagina/e 12558-12570, ISSN 1936-0851
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c02610

Alloy CsCd x Pb 1– x Br 3 Perovskite Nanocrystals: The Role of Surface Passivation in Preserving Composition and Blue Emission

Autori: Muhammad Imran, Julien Ramade, Francesco Di Stasio, Manuela De Franco, Joka Buha, Sandra Van Aert, Luca Goldoni, Simone Lauciello, Mirko Prato, Ivan Infante, Sara Bals, Liberato Manna
Pubblicato in: Chemistry of Materials, 2020, ISSN 0897-4756
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.chemmater.0c03825

Modelling ADF STEM images using elliptical Gaussian peaks and its effects on the quantification of structure parameters in the presence of sample tilt

Autori: De wael, A.; De Backer, A.; Lobato, I.; Van Aert, S.
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 03043991, 2021, Pagina/e 113391, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113391

Real-time simulations of ADF STEM probe position-integrated scattering cross-sections for single element fcc crystals in zone axis orientation using a densely connected neural network

Autori: Lobato Hoyos Ivan Pedro, De Backer A., Van Aert Sandra
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 251, 2023, Pagina/e 113769, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113769

Phase object reconstruction for 4D-STEM using deep learning

Autori: Friedrich Thomas, Yu Chu-Ping, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra
Pubblicato in: Microscopy and microanalysis, Numero 29, 2023, Pagina/e 395, ISSN 1431-9276
Editore: Cambridge University Press
DOI: 10.1093/micmic/ozac002

Interface Pattern Engineering in Core‐Shell Upconverting Nanocrystals: Shedding Light on Critical Parameters and Consequences for the Photoluminescence Properties

Autori: Hudry, D.; De Backer, A.; Popescu, R.; Busko, D.; Howard, I.A.; Bals, S.; Zhang, Y.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Van Aert, S.; Gerthsen, D.; Altantzis, T.; Richards, B.S.
Pubblicato in: Small, Numero 17, 2021, Pagina/e 2104441, ISSN 1613-6810
Editore: Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI: 10.1002/smll.202104441

Element Specific Atom Counting at the Atomic Scale by Combining High Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy and Energy Dispersive X‐ray Spectroscopy

Autori: De Backer, A.; Zhang, Z.; van den Bos, K.H.W.; Bladt, E.; Sánchez‐Iglesias, A.; Liz‐Marzán, L.M.; Nellist, P.D.; Bals, S.; Van Aert, S.
Pubblicato in: Small Methods, Numero 6, 2022, Pagina/e 2200875, ISSN 2366-9608
Editore: Wiley-v c h verlag gmbh
DOI: 10.1002/smtd.202200875

Three-Dimensional Nanoparticle Transformations Captured by an Electron Microscope

Autori: Wiebke Albrecht, Sandra Van Aert, Sara Bals
Pubblicato in: Accounts of Chemical Research, Numero 54/5, 2021, Pagina/e 1189-1199, ISSN 0001-4842
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.accounts.0c00711

Measuring Dynamic Structural Changes of Nanoparticles at the Atomic Scale Using Scanning Transmission Electron Microscopy

Autori: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Aakash Varambhia, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Physical Review Letters, Numero 124/10, 2020, ISSN 0031-9007
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.124.106105

Coupling Charge and Topological Reconstructions at Polar Oxide Interfaces

Autori: van Thiel, T. c.; Brzezicki, W.; Autieri, C.; Hortensius, J. r.; Afanasiev, D.; Gauquelin, N.; Jannis, D.; Janssen, N.; Groenendijk, D. j.; Fatermans, J.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.; Cuoco, M.; Caviglia, A. d.
Pubblicato in: Physical review letters, Numero 127, 2021, Pagina/e 127202, ISSN 0031-9007
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.127.127202

Sampling Real-Time Atomic Dynamics in Metal Nanoparticles by Combining Experiments, Simulations, and Machine Learning

Autori: Matteo Cioni, Massimo Delle Piane, Daniela Polino, Daniele Rapetti, Martina Crippa, Ece Arslan Irmak, Sandra Van Aert, Sara Bals, and Giovanni M. Pavan
Pubblicato in: Advanced Science, 2024, Pagina/e 1-13, ISSN 2198-3844
Editore: Wiley
DOI: 10.1002/advs.202307261

Thermal Activation of Gold Atom Diffusion in Au@Pt Nanorods

Autori: Pedrazo-Tardajos, A.; Arslan Irmak, E.; Kumar, V.; Sánchez-Iglesias, A.; Chen, Q.; Wirix, M.; Freitag, B.; Albrecht, W.; Van Aert, S.; Liz-Marzán, L.M.; Bals, S.
Pubblicato in: ACS nano, Numero 16, 2022, Pagina/e 9608-9619, ISSN 1936-0851
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.2c02889

Dynamical diffraction of high-energy electrons investigated by focal series momentum-resolved scanning transmission electron microscopy at atomic resolution

Autori: Robert, Hl.; Lobato, I.; Lyu, Fj.; Chen, Q.; Van Aert, S.; Van Dyck, D.; Müller-Caspary, K.
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 233, 2022, Pagina/e 113425, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113425

Atom counting from a combination of two ADF STEM images

Autori: Sentürk Duygu Gizem, Yu C.P., De Backer A., Van Aert Sandra
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 255, 2024, Pagina/e 113859, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113859

Low-dose 4D-STEM tomography for beam-sensitive nanocomposites

Autori: Hugenschmidt Milena, Jannis Daen, Kadu Ajinkya Anil, Grünewald Lukas, De Marchi Sarah, Perez-Juste Jorge, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra, Bals Sara
Pubblicato in: ACS materials letters, Numero 6, 2023, Pagina/e 165-173, ISSN 2639-4979
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsmaterialslett.3c01042

Berry phase engineering at oxide interfaces

Autori: D. J. Groenendijk, C. Autieri, T. C. van Thiel, W. Brzezicki, J. R. Hortensius, D. Afanasiev, N. Gauquelin, P. Barone, K. H. W. van den Bos, S. van Aert, J. Verbeeck, A. Filippetti, S. Picozzi, M. Cuoco, A. D. Caviglia
Pubblicato in: Physical Review Research, Numero 2/2, 2020, ISSN 2643-1564
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevresearch.2.023404

A decade of atom-counting in STEM : from the first results toward reliable 3D atomic models from a single projection

Autori: De Backer Annick, Bals Sara, Van Aert Sandra, Van Aert Sandra
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 247, 2023, Pagina/e 113702, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113702

Experimental reconstructions of 3D atomic structures from electron microscopy images using a Bayesian genetic algorithm

Autori: De Backer, A.; Van Aert, S.; Faes, C.; Arslan Irmak, E.; Nellist, P.D.; Jones, L.
Pubblicato in: npj Computational Materials, Numero 20573960, 2022, Pagina/e 1-8, ISSN 2057-3960
Editore: N P J Computational Materials / Chinese academy of sciences
DOI: 10.1038/s41524-022-00900-w

Single Atom Detection from Low Contrast-to-Noise Ratio Electron Microscopy Images

Autori: J. Fatermans, A. J. den Dekker, K. Müller-Caspary, I. Lobato, C. M. O’Leary, P. D. Nellist, S. Van Aert
Pubblicato in: Physical Review Letters, Numero 121/5, 2018, ISSN 0031-9007
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.121.056101

The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials

Autori: K.H.W. van den Bos, L. Janssens, A. De Backer, P.D. Nellist, S. Van Aert
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 203, 2019, Pagina/e 155-162, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.12.004

Electrical Polarization in AlN/GaN Nanodisks Measured by Momentum-Resolved 4D Scanning Transmission Electron Microscopy

Autori: Knut Müller-Caspary, Tim Grieb, Jan Müßener, Nicolas Gauquelin, Pascal Hille, Jörg Schörmann, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Martin Eickhoff, Andreas Rosenauer
Pubblicato in: Physical Review Letters, Numero 122/10, 2019, ISSN 0031-9007
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.106102

Recent Advances in Transmission Electron Microscopy for Materials Science at the EMAT Lab of the University of Antwerp

Autori: Giulio Guzzinati, Thomas Altantzis, Maria Batuk, Annick De Backer, Gunnar Lumbeeck, Vahid Samaee, Dmitry Batuk, Hosni Idrissi, Joke Hadermann, Sandra Van Aert, Dominique Schryvers, Johan Verbeeck, Sara Bals
Pubblicato in: Materials, Numero 11/8, 2018, Pagina/e 1304, ISSN 1996-1944
Editore: MDPI Open Access Publishing
DOI: 10.3390/ma11081304

Quantitative 3D Characterization of Elemental Diffusion Dynamics in Individual Ag@Au Nanoparticles with Different Shapes

Autori: Alexander Skorikov, Wiebke Albrecht, Eva Bladt, Xiaobin Xie, Jessi E. S. van der Hoeven, Alfons van Blaaderen, Sandra Van Aert, Sara Bals
Pubblicato in: ACS Nano, Numero 13/11, 2019, Pagina/e 13421-13429, ISSN 1936-0851
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.9b06848

Self‐Assembly of Atomically Thin Chiral Copper Heterostructures Templated by Black Phosphorus

Autori: Hannah C. Nerl, Anuj Pokle, Lewys Jones, Knut Müller‐Caspary, Karel H. W. Bos, Clive Downing, Eoin K. McCarthy, Nicolas Gauquelin, Quentin M. Ramasse, Ivan Lobato, Dermot Daly, Juan Carlos Idrobo, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo, Stefano Sanvito, Jonathan N. Coleman, Clotilde S. Cucinotta, Valeria Nicolosi
Pubblicato in: Advanced Functional Materials, Numero 29/37, 2019, Pagina/e 1903120, ISSN 1616-301X
Editore: John Wiley & Sons Ltd.
DOI: 10.1002/adfm.201903120

Three-Dimensional Quantification of the Facet Evolution of Pt Nanoparticles in a Variable Gaseous Environment

Autori: Thomas Altantzis, Ivan Lobato, Annick De Backer, Armand Béché, Yang Zhang, Shibabrata Basak, Mauro Porcu, Qiang Xu, Ana Sánchez-Iglesias, Luis M. Liz-Marzán, Gustaaf Van Tendeloo, Sandra Van Aert, Sara Bals
Pubblicato in: Nano Letters, Numero 19/1, 2018, Pagina/e 477-481, ISSN 1530-6984
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.8B04303

The maximum a posteriori probability rule for atom column detection from HAADF STEM images

Autori: J. Fatermans, S. Van Aert, A.J. den Dekker
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 201, 2019, Pagina/e 81-91, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.02.003

Control of Knock-On Damage for 3D Atomic Scale Quantification of Nanostructures: Making Every Electron Count in Scanning Transmission Electron Microscopy

Autori: Sandra Van Aert, Annick De Backer, Lewys Jones, Gerardo T. Martinez, Armand Béché, Peter D. Nellist
Pubblicato in: Physical Review Letters, Numero 122/6, 2019, ISSN 0031-9007
Editore: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.066101

Comparison of first moment STEM with conventional differential phase contrast and the dependence on electron dose

Autori: Knut Müller-Caspary, Florian F. Krause, Florian Winkler, Armand Béché, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Andreas Rosenauer
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 203, 2019, Pagina/e 95-104, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.12.018

Monitoring oxygen production on mass-selected iridium–tantalum oxide electrocatalysts

Autori: Zheng, Y.-R.; Vernieres, J.; Wang, Z.; Zhang, K.; Hochfilzer, D.; Krempl, K.; Liao, T.-W.; Presel, F.; Altantzis, T.; Fatermans, J.; Scott, S.B.; Secher, N.M.; Moon, C.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.; Cao, A.; Anand, M.; Nørskov, J.K.; Kibsgaard, J.; Chorkendorff, I.
Pubblicato in: Nature Energy, 2021, ISSN 2058-7546
Editore: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41560-021-00948-w

3D Atomic‐Scale Dynamics of Laser‐Light‐Induced Restructuring of Nanoparticles Unraveled by Electron Tomography

Autori: Albrecht, W.; Arslan Irmak, E.; Altantzis, T.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Skorikov, A.; Deng, T.‐S.; van der Hoeven, J.E.S.; van Blaaderen, A.; Van Aert, S.; Bals, S.
Pubblicato in: Advanced materials, Numero 33, 2021, Pagina/e 2100972, ISSN 0935-9648
Editore: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202100972

Three-dimensional atomic structure of supported Au nanoparticles at high temperature

Autori: Pei Liu, Ece Arslan Irmak, Annick De Backer, Annelies De wael, Ivan Lobato, Armand Béché, Sandra Van Aert, Sara Bals
Pubblicato in: Nanoscale, Numero 13/3, 2021, Pagina/e 1770-1776, ISSN 2040-3364
Editore: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d0nr08664a

Deep convolutional neural networks to restore single-shot electron microscopy images

Autori: Lobato Hoyos Ivan Pedro, Friedrich Thomas, Van Aert Sandra
Pubblicato in: NPJ Computational Materials, Numero 10, 2024, Pagina/e 1-19, ISSN 2057-3960
Editore: Springer Nature
DOI: 10.1038/s41524-023-01188-0

Optimal experiment design for element specific atom counting using multiple annular dark field scanning transmission electron microscopy detectors

Autori: Sentürk, D.G.; De Backer, A.; Friedrich, T.; Van Aert, S.
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 242, 2022, Pagina/e 113626, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113626

Atomic-scale detection of individual lead clusters confined in Linde Type A zeolites

Autori: Fatermans, J.; Romolini, G.; Altantzis, T.; Hofkens, J.; Roeffaers, M.B.J.; Bals, S.; Van Aert, S.
Pubblicato in: Nanoscale, Numero 20403364, 2022, Pagina/e 9323-9330, ISSN 2040-3364
Editore: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d2nr01819e

Preventing cation intermixing enables 50% quantum yield in sub-15 nm short-wave infrared-emitting rare-earth based core-shell nanocrystals

Autori: Fernando Arteaga Cardona; Noopur Jain; Radian Popescu; Dmitry Busko; Eduard Madirov; Bernardo A. Arús; Dagmar Gerthsen; Annick De Backer; Sara Bals; Oliver T. Bruns; Andriy Chmyrov; Sandra Van Aert; Bryce S. Richards; Damien Hudry
Pubblicato in: Nature Communications, Numero 14, 2023, Pagina/e 1-14, ISSN 2041-1723
Editore: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41467-023-40031-4

Restructuring of titanium oxide overlayers over nickel nanoparticles during catalysis

Autori: Monai Matteo, Jenkinson Kellie, Melcherts Angela E.M., Louwen Jaap N., Arslan Irmak Ece, Van Aert Sandra, Altantzis Thomas, Vogt Charlotte, van der Stam Ward, Duchon Tomas, Smid Bretislav, Groeneveld Esther, Berben Peter, Bals Sara, Weckhuysen Bert M.
Pubblicato in: Science, Numero 380, 2023, Pagina/e 644-651, ISSN 0036-8075
Editore: American Association for the Advancement of Science
DOI: 10.1126/science.adf6984

3D Atomic Structure of Supported Metallic Nanoparticles Estimated from 2D ADF STEM Images: A Combination of Atom – Counting and a Local Minima Search Algorithm

Autori: Arslan Irmak, E.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.
Pubblicato in: Small methods, Numero 5, 2021, Pagina/e 2101150, ISSN 2366-9608
Editore: Wiley-VCH GmbH
DOI: 10.1002/smtd.202101150

Real-Time Integration Center of Mass (riCOM) Reconstruction for 4D STEM

Autori: Yu, C.-P.; Friedrich, T.; Jannis, D.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.
Pubblicato in: Microscopy and microanalysis, Numero 14319276, 2022, Pagina/e 1526-1537, ISSN 1431-9276
Editore: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622000617

Hidden Markov model for atom-counting from sequential ADF STEM images: Methodology, possibilities and limitations

Autori: Annelies De wael, Annick De Backer, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 219, 2020, Pagina/e 113131, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113131

An atomically dispersed Mn-photocatalyst for generating hydrogen peroxide from seawater via the Water Oxidation Reaction (WOR)

Autori: Ren Peng, Zhang Tong, Jain Noopur, Ching Hong Yue Vincent, Jaworski Aleksander, Barcaro Giovanni, Monti Susanna, Silvestre-Albero Joaquin, Celorrio Veronica, Chouhan Lata, Rokicinska Anna, Debroye Elke, Kustrowski Piotr, Van Doorslaer Sabine, Van Aert Sandra, Bals Sara, Das Shoubhik
Pubblicato in: Journal of the American Chemical Society, Numero 145, 2023, Pagina/e 16584-16596, ISSN 0002-7863
Editore: American Chemical Society
DOI: 10.1021/jacs.3c03785

Three approaches for representing the statistical uncertainty on atom-counting results in quantitative ADF STEM

Autori: De wael, A.; De Backer, A.; Yu, C.-P.; Sentürk, D.G.; Lobato, I.; Faes, C.; Van Aert, S.
Pubblicato in: Microscopy and microanalysis, 2022, Pagina/e 1-9, ISSN 1431-9276
Editore: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622012284

Fast generation of calculated ADF-EDX scattering cross-sections under channelling conditions

Autori: Zhang, Zezhong; Lobato, Ivan; De Backer, Annick; Van Aert, Sandra; Nellist, Peter
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 246, 2023, Pagina/e 113671, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113671

Atom column detection from simultaneously acquired ABF and ADF STEM images

Autori: J. Fatermans, A.J. den Dekker, K. Müller-Caspary, N. Gauquelin, J. Verbeeck, S. Van Aert
Pubblicato in: Ultramicroscopy, Numero 219, 2020, Pagina/e 113046, ISSN 0304-3991
Editore: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113046

Optimal experiment design for nanoparticle atom counting from ADF STEM images

Autori: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 145-175, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.005

Statistical parameter estimation theory: principles and simulation studies

Autori: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 29-72, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.002

Atom column detection

Autori: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 177-214, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.006

Efficient fitting algorithm

Autori: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 73-90, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.003

Atom counting

Autori: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 91-144, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.004

Introduction

Autori: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 1-28, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.001

Image-quality evaluation and model selection with maximum a posteriori probability

Autori: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 215-242, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.007

General conclusions and future perspectives

Autori: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Pubblicato in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numero 217, 2021, Pagina/e 243-253, ISBN 9780128246078
Editore: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.008

Phase retrieval from 4-dimensional electron diffraction datasets

Autori: Friedrich, Thomas; Yu, Chu-Ping; Verbeek, Johan; Pennycook, Timothy; Van Aert, Sandra
Pubblicato in: IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), SEP 19-22, 2021, Electr. network, 2021, Pagina/e 3453-3457, ISBN 978-1-6654-4115-5
Editore: IEEE
DOI: 10.1109/icip42928.2021.9506709

Unscrambling complex heterogeneous nanostructures by using quantitative 4D scanning transmission electron microscopy

Autori: Duygu Gizem Şentürk
Pubblicato in: 2024
Editore: University of Antwerp

Quantifying atomic structures using neural networks from 4D scanning transmission electron microscopy (STEM) datasets

Autori: Friedrich, Thomas
Pubblicato in: 2023
Editore: University of Antwerp

Diritti di proprietà intellettuale

REDUCING IMAGE ARTEFACTS IN ELECTRON MICROSCOPY

Numero candidatura/pubblicazione: 22 159431
Data: 2022-03-01
Candidato/i: UNIVERSITEIT ANTWERPEN

PHASE RETRIEVAL IN ELECTRON MICROSCOPY

Numero candidatura/pubblicazione: 21 168468
Data: 2021-04-14
Candidato/i: UNIVERSITEIT ANTWERPEN

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