Picometer metrology for light-element nanostructures: making every electron count

Informations projet

PICOMETRICS

N° de convention de subvention: 770887

DOI

10.3030/770887

Projet clôturé

Date de signature de la CE 26 Janvier 2018

Date de début 1 Mai 2018

Date de fin 30 Avril 2023

Financé au titre de

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Coût total

€ 1 998 750,00

Contribution de l’UE

€ 1 998 750,00

Coordonné par

UNIVERSITEIT ANTWERPEN
Belgium

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Publications

Peer reviewed articles (44)

Element specific atom counting for heterogeneous nanostructures : combining multiple ADF STEM images for simultaneous thickness and composition determination

Auteurs: Sentürk Duygu Gizem, De Backer Annick, Van Aert Sandra
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 259, 2024, Page(s) 113941, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2024.113941

3D Characterization and Plasmon Mapping of Gold Nanorods Welded by Femtosecond Laser Irradiation

Auteurs: Thaís Milagres de Oliveira, Wiebke Albrecht, Guillermo González-Rubio, Thomas Altantzis, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Armand Béché, Sandra Van Aert, Andrés Guerrero-Martínez, Luis M. Liz-Marzán, Sara Bals
Publié dans: ACS Nano, Numéro 14/10, 2020, Page(s) 12558-12570, ISSN 1936-0851
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c02610

Alloy CsCd x Pb 1– x Br 3 Perovskite Nanocrystals: The Role of Surface Passivation in Preserving Composition and Blue Emission

Auteurs: Muhammad Imran, Julien Ramade, Francesco Di Stasio, Manuela De Franco, Joka Buha, Sandra Van Aert, Luca Goldoni, Simone Lauciello, Mirko Prato, Ivan Infante, Sara Bals, Liberato Manna
Publié dans: Chemistry of Materials, 2020, ISSN 0897-4756
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.chemmater.0c03825

Modelling ADF STEM images using elliptical Gaussian peaks and its effects on the quantification of structure parameters in the presence of sample tilt

Auteurs: De wael, A.; De Backer, A.; Lobato, I.; Van Aert, S.
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 03043991, 2021, Page(s) 113391, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113391

Real-time simulations of ADF STEM probe position-integrated scattering cross-sections for single element fcc crystals in zone axis orientation using a densely connected neural network

Auteurs: Lobato Hoyos Ivan Pedro, De Backer A., Van Aert Sandra
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 251, 2023, Page(s) 113769, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113769

Phase object reconstruction for 4D-STEM using deep learning

Auteurs: Friedrich Thomas, Yu Chu-Ping, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra
Publié dans: Microscopy and microanalysis, Numéro 29, 2023, Page(s) 395, ISSN 1431-9276
Éditeur: Cambridge University Press
DOI: 10.1093/micmic/ozac002

Interface Pattern Engineering in Core‐Shell Upconverting Nanocrystals: Shedding Light on Critical Parameters and Consequences for the Photoluminescence Properties

Auteurs: Hudry, D.; De Backer, A.; Popescu, R.; Busko, D.; Howard, I.A.; Bals, S.; Zhang, Y.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Van Aert, S.; Gerthsen, D.; Altantzis, T.; Richards, B.S.
Publié dans: Small, Numéro 17, 2021, Page(s) 2104441, ISSN 1613-6810
Éditeur: Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI: 10.1002/smll.202104441

Element Specific Atom Counting at the Atomic Scale by Combining High Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy and Energy Dispersive X‐ray Spectroscopy

Auteurs: De Backer, A.; Zhang, Z.; van den Bos, K.H.W.; Bladt, E.; Sánchez‐Iglesias, A.; Liz‐Marzán, L.M.; Nellist, P.D.; Bals, S.; Van Aert, S.
Publié dans: Small Methods, Numéro 6, 2022, Page(s) 2200875, ISSN 2366-9608
Éditeur: Wiley-v c h verlag gmbh
DOI: 10.1002/smtd.202200875

Three-Dimensional Nanoparticle Transformations Captured by an Electron Microscope

Auteurs: Wiebke Albrecht, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publié dans: Accounts of Chemical Research, Numéro 54/5, 2021, Page(s) 1189-1199, ISSN 0001-4842
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.accounts.0c00711

Measuring Dynamic Structural Changes of Nanoparticles at the Atomic Scale Using Scanning Transmission Electron Microscopy

Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Aakash Varambhia, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
Publié dans: Physical Review Letters, Numéro 124/10, 2020, ISSN 0031-9007
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.124.106105

Coupling Charge and Topological Reconstructions at Polar Oxide Interfaces

Auteurs: van Thiel, T. c.; Brzezicki, W.; Autieri, C.; Hortensius, J. r.; Afanasiev, D.; Gauquelin, N.; Jannis, D.; Janssen, N.; Groenendijk, D. j.; Fatermans, J.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.; Cuoco, M.; Caviglia, A. d.
Publié dans: Physical review letters, Numéro 127, 2021, Page(s) 127202, ISSN 0031-9007
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.127.127202

Sampling Real-Time Atomic Dynamics in Metal Nanoparticles by Combining Experiments, Simulations, and Machine Learning

Auteurs: Matteo Cioni, Massimo Delle Piane, Daniela Polino, Daniele Rapetti, Martina Crippa, Ece Arslan Irmak, Sandra Van Aert, Sara Bals, and Giovanni M. Pavan
Publié dans: Advanced Science, 2024, Page(s) 1-13, ISSN 2198-3844
Éditeur: Wiley
DOI: 10.1002/advs.202307261

Thermal Activation of Gold Atom Diffusion in Au@Pt Nanorods

Auteurs: Pedrazo-Tardajos, A.; Arslan Irmak, E.; Kumar, V.; Sánchez-Iglesias, A.; Chen, Q.; Wirix, M.; Freitag, B.; Albrecht, W.; Van Aert, S.; Liz-Marzán, L.M.; Bals, S.
Publié dans: ACS nano, Numéro 16, 2022, Page(s) 9608-9619, ISSN 1936-0851
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.2c02889

Dynamical diffraction of high-energy electrons investigated by focal series momentum-resolved scanning transmission electron microscopy at atomic resolution

Auteurs: Robert, Hl.; Lobato, I.; Lyu, Fj.; Chen, Q.; Van Aert, S.; Van Dyck, D.; Müller-Caspary, K.
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 233, 2022, Page(s) 113425, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113425

Atom counting from a combination of two ADF STEM images

Auteurs: Sentürk Duygu Gizem, Yu C.P., De Backer A., Van Aert Sandra
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 255, 2024, Page(s) 113859, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113859

Low-dose 4D-STEM tomography for beam-sensitive nanocomposites

Auteurs: Hugenschmidt Milena, Jannis Daen, Kadu Ajinkya Anil, Grünewald Lukas, De Marchi Sarah, Perez-Juste Jorge, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra, Bals Sara
Publié dans: ACS materials letters, Numéro 6, 2023, Page(s) 165-173, ISSN 2639-4979
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsmaterialslett.3c01042

Berry phase engineering at oxide interfaces

Auteurs: D. J. Groenendijk, C. Autieri, T. C. van Thiel, W. Brzezicki, J. R. Hortensius, D. Afanasiev, N. Gauquelin, P. Barone, K. H. W. van den Bos, S. van Aert, J. Verbeeck, A. Filippetti, S. Picozzi, M. Cuoco, A. D. Caviglia
Publié dans: Physical Review Research, Numéro 2/2, 2020, ISSN 2643-1564
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevresearch.2.023404

A decade of atom-counting in STEM : from the first results toward reliable 3D atomic models from a single projection

Auteurs: De Backer Annick, Bals Sara, Van Aert Sandra, Van Aert Sandra
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 247, 2023, Page(s) 113702, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113702

Experimental reconstructions of 3D atomic structures from electron microscopy images using a Bayesian genetic algorithm

Auteurs: De Backer, A.; Van Aert, S.; Faes, C.; Arslan Irmak, E.; Nellist, P.D.; Jones, L.
Publié dans: npj Computational Materials, Numéro 20573960, 2022, Page(s) 1-8, ISSN 2057-3960
Éditeur: N P J Computational Materials / Chinese academy of sciences
DOI: 10.1038/s41524-022-00900-w

Single Atom Detection from Low Contrast-to-Noise Ratio Electron Microscopy Images

Auteurs: J. Fatermans, A. J. den Dekker, K. Müller-Caspary, I. Lobato, C. M. O’Leary, P. D. Nellist, S. Van Aert
Publié dans: Physical Review Letters, Numéro 121/5, 2018, ISSN 0031-9007
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.121.056101

The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials

Auteurs: K.H.W. van den Bos, L. Janssens, A. De Backer, P.D. Nellist, S. Van Aert
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 203, 2019, Page(s) 155-162, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.12.004

Electrical Polarization in AlN/GaN Nanodisks Measured by Momentum-Resolved 4D Scanning Transmission Electron Microscopy

Auteurs: Knut Müller-Caspary, Tim Grieb, Jan Müßener, Nicolas Gauquelin, Pascal Hille, Jörg Schörmann, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Martin Eickhoff, Andreas Rosenauer
Publié dans: Physical Review Letters, Numéro 122/10, 2019, ISSN 0031-9007
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.106102

Recent Advances in Transmission Electron Microscopy for Materials Science at the EMAT Lab of the University of Antwerp

Auteurs: Giulio Guzzinati, Thomas Altantzis, Maria Batuk, Annick De Backer, Gunnar Lumbeeck, Vahid Samaee, Dmitry Batuk, Hosni Idrissi, Joke Hadermann, Sandra Van Aert, Dominique Schryvers, Johan Verbeeck, Sara Bals
Publié dans: Materials, Numéro 11/8, 2018, Page(s) 1304, ISSN 1996-1944
Éditeur: MDPI Open Access Publishing
DOI: 10.3390/ma11081304

Quantitative 3D Characterization of Elemental Diffusion Dynamics in Individual Ag@Au Nanoparticles with Different Shapes

Auteurs: Alexander Skorikov, Wiebke Albrecht, Eva Bladt, Xiaobin Xie, Jessi E. S. van der Hoeven, Alfons van Blaaderen, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publié dans: ACS Nano, Numéro 13/11, 2019, Page(s) 13421-13429, ISSN 1936-0851
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.9b06848

Self‐Assembly of Atomically Thin Chiral Copper Heterostructures Templated by Black Phosphorus

Auteurs: Hannah C. Nerl, Anuj Pokle, Lewys Jones, Knut Müller‐Caspary, Karel H. W. Bos, Clive Downing, Eoin K. McCarthy, Nicolas Gauquelin, Quentin M. Ramasse, Ivan Lobato, Dermot Daly, Juan Carlos Idrobo, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo, Stefano Sanvito, Jonathan N. Coleman, Clotilde S. Cucinotta, Valeria Nicolosi
Publié dans: Advanced Functional Materials, Numéro 29/37, 2019, Page(s) 1903120, ISSN 1616-301X
Éditeur: John Wiley & Sons Ltd.
DOI: 10.1002/adfm.201903120

Three-Dimensional Quantification of the Facet Evolution of Pt Nanoparticles in a Variable Gaseous Environment

Auteurs: Thomas Altantzis, Ivan Lobato, Annick De Backer, Armand Béché, Yang Zhang, Shibabrata Basak, Mauro Porcu, Qiang Xu, Ana Sánchez-Iglesias, Luis M. Liz-Marzán, Gustaaf Van Tendeloo, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publié dans: Nano Letters, Numéro 19/1, 2018, Page(s) 477-481, ISSN 1530-6984
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.8B04303

The maximum a posteriori probability rule for atom column detection from HAADF STEM images

Auteurs: J. Fatermans, S. Van Aert, A.J. den Dekker
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 201, 2019, Page(s) 81-91, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.02.003

Control of Knock-On Damage for 3D Atomic Scale Quantification of Nanostructures: Making Every Electron Count in Scanning Transmission Electron Microscopy

Auteurs: Sandra Van Aert, Annick De Backer, Lewys Jones, Gerardo T. Martinez, Armand Béché, Peter D. Nellist
Publié dans: Physical Review Letters, Numéro 122/6, 2019, ISSN 0031-9007
Éditeur: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.066101

Comparison of first moment STEM with conventional differential phase contrast and the dependence on electron dose

Auteurs: Knut Müller-Caspary, Florian F. Krause, Florian Winkler, Armand Béché, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Andreas Rosenauer
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 203, 2019, Page(s) 95-104, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.12.018

Monitoring oxygen production on mass-selected iridium–tantalum oxide electrocatalysts

Auteurs: Zheng, Y.-R.; Vernieres, J.; Wang, Z.; Zhang, K.; Hochfilzer, D.; Krempl, K.; Liao, T.-W.; Presel, F.; Altantzis, T.; Fatermans, J.; Scott, S.B.; Secher, N.M.; Moon, C.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.; Cao, A.; Anand, M.; Nørskov, J.K.; Kibsgaard, J.; Chorkendorff, I.
Publié dans: Nature Energy, 2021, ISSN 2058-7546
Éditeur: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41560-021-00948-w

3D Atomic‐Scale Dynamics of Laser‐Light‐Induced Restructuring of Nanoparticles Unraveled by Electron Tomography

Auteurs: Albrecht, W.; Arslan Irmak, E.; Altantzis, T.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Skorikov, A.; Deng, T.‐S.; van der Hoeven, J.E.S.; van Blaaderen, A.; Van Aert, S.; Bals, S.
Publié dans: Advanced materials, Numéro 33, 2021, Page(s) 2100972, ISSN 0935-9648
Éditeur: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202100972

Three-dimensional atomic structure of supported Au nanoparticles at high temperature

Auteurs: Pei Liu, Ece Arslan Irmak, Annick De Backer, Annelies De wael, Ivan Lobato, Armand Béché, Sandra Van Aert, Sara Bals
Publié dans: Nanoscale, Numéro 13/3, 2021, Page(s) 1770-1776, ISSN 2040-3364
Éditeur: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d0nr08664a

Deep convolutional neural networks to restore single-shot electron microscopy images

Auteurs: Lobato Hoyos Ivan Pedro, Friedrich Thomas, Van Aert Sandra
Publié dans: NPJ Computational Materials, Numéro 10, 2024, Page(s) 1-19, ISSN 2057-3960
Éditeur: Springer Nature
DOI: 10.1038/s41524-023-01188-0

Optimal experiment design for element specific atom counting using multiple annular dark field scanning transmission electron microscopy detectors

Auteurs: Sentürk, D.G.; De Backer, A.; Friedrich, T.; Van Aert, S.
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 242, 2022, Page(s) 113626, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113626

Atomic-scale detection of individual lead clusters confined in Linde Type A zeolites

Auteurs: Fatermans, J.; Romolini, G.; Altantzis, T.; Hofkens, J.; Roeffaers, M.B.J.; Bals, S.; Van Aert, S.
Publié dans: Nanoscale, Numéro 20403364, 2022, Page(s) 9323-9330, ISSN 2040-3364
Éditeur: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d2nr01819e

Preventing cation intermixing enables 50% quantum yield in sub-15 nm short-wave infrared-emitting rare-earth based core-shell nanocrystals

Auteurs: Fernando Arteaga Cardona; Noopur Jain; Radian Popescu; Dmitry Busko; Eduard Madirov; Bernardo A. Arús; Dagmar Gerthsen; Annick De Backer; Sara Bals; Oliver T. Bruns; Andriy Chmyrov; Sandra Van Aert; Bryce S. Richards; Damien Hudry
Publié dans: Nature Communications, Numéro 14, 2023, Page(s) 1-14, ISSN 2041-1723
Éditeur: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41467-023-40031-4

Restructuring of titanium oxide overlayers over nickel nanoparticles during catalysis

Auteurs: Monai Matteo, Jenkinson Kellie, Melcherts Angela E.M., Louwen Jaap N., Arslan Irmak Ece, Van Aert Sandra, Altantzis Thomas, Vogt Charlotte, van der Stam Ward, Duchon Tomas, Smid Bretislav, Groeneveld Esther, Berben Peter, Bals Sara, Weckhuysen Bert M.
Publié dans: Science, Numéro 380, 2023, Page(s) 644-651, ISSN 0036-8075
Éditeur: American Association for the Advancement of Science
DOI: 10.1126/science.adf6984

3D Atomic Structure of Supported Metallic Nanoparticles Estimated from 2D ADF STEM Images: A Combination of Atom – Counting and a Local Minima Search Algorithm

Auteurs: Arslan Irmak, E.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.
Publié dans: Small methods, Numéro 5, 2021, Page(s) 2101150, ISSN 2366-9608
Éditeur: Wiley-VCH GmbH
DOI: 10.1002/smtd.202101150

Real-Time Integration Center of Mass (riCOM) Reconstruction for 4D STEM

Auteurs: Yu, C.-P.; Friedrich, T.; Jannis, D.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.
Publié dans: Microscopy and microanalysis, Numéro 14319276, 2022, Page(s) 1526-1537, ISSN 1431-9276
Éditeur: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622000617

Hidden Markov model for atom-counting from sequential ADF STEM images: Methodology, possibilities and limitations

Auteurs: Annelies De wael, Annick De Backer, Sandra Van Aert
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 219, 2020, Page(s) 113131, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113131

An atomically dispersed Mn-photocatalyst for generating hydrogen peroxide from seawater via the Water Oxidation Reaction (WOR)

Auteurs: Ren Peng, Zhang Tong, Jain Noopur, Ching Hong Yue Vincent, Jaworski Aleksander, Barcaro Giovanni, Monti Susanna, Silvestre-Albero Joaquin, Celorrio Veronica, Chouhan Lata, Rokicinska Anna, Debroye Elke, Kustrowski Piotr, Van Doorslaer Sabine, Van Aert Sandra, Bals Sara, Das Shoubhik
Publié dans: Journal of the American Chemical Society, Numéro 145, 2023, Page(s) 16584-16596, ISSN 0002-7863
Éditeur: American Chemical Society
DOI: 10.1021/jacs.3c03785

Three approaches for representing the statistical uncertainty on atom-counting results in quantitative ADF STEM

Auteurs: De wael, A.; De Backer, A.; Yu, C.-P.; Sentürk, D.G.; Lobato, I.; Faes, C.; Van Aert, S.
Publié dans: Microscopy and microanalysis, 2022, Page(s) 1-9, ISSN 1431-9276
Éditeur: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622012284

Fast generation of calculated ADF-EDX scattering cross-sections under channelling conditions

Auteurs: Zhang, Zezhong; Lobato, Ivan; De Backer, Annick; Van Aert, Sandra; Nellist, Peter
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 246, 2023, Page(s) 113671, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113671

Atom column detection from simultaneously acquired ABF and ADF STEM images

Auteurs: J. Fatermans, A.J. den Dekker, K. Müller-Caspary, N. Gauquelin, J. Verbeeck, S. Van Aert
Publié dans: Ultramicroscopy, Numéro 219, 2020, Page(s) 113046, ISSN 0304-3991
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113046

Book chapters (8)

Optimal experiment design for nanoparticle atom counting from ADF STEM images

Auteurs: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 145-175, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.005

Statistical parameter estimation theory: principles and simulation studies

Auteurs: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 29-72, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.002

Atom column detection

Auteurs: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 177-214, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.006

Efficient fitting algorithm

Auteurs: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 73-90, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.003

Atom counting

Auteurs: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 91-144, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.004

Introduction

Auteurs: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 1-28, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.001

Image-quality evaluation and model selection with maximum a posteriori probability

Auteurs: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 215-242, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.007

General conclusions and future perspectives

Auteurs: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Publié dans: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numéro 217, 2021, Page(s) 243-253, ISBN 9780128246078
Éditeur: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.008

Conference proceedings (1)

Phase retrieval from 4-dimensional electron diffraction datasets

Auteurs: Friedrich, Thomas; Yu, Chu-Ping; Verbeek, Johan; Pennycook, Timothy; Van Aert, Sandra
Publié dans: IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), SEP 19-22, 2021, Electr. network, 2021, Page(s) 3453-3457, ISBN 978-1-6654-4115-5
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/icip42928.2021.9506709

Thesis and dissertations (2)

Unscrambling complex heterogeneous nanostructures by using quantitative 4D scanning transmission electron microscopy

Auteurs: Duygu Gizem Şentürk
Publié dans: 2024
Éditeur: University of Antwerp

Quantifying atomic structures using neural networks from 4D scanning transmission electron microscopy (STEM) datasets

Auteurs: Friedrich, Thomas
Publié dans: 2023
Éditeur: University of Antwerp

Droits de propriété intellectuelle

Patent (2)

REDUCING IMAGE ARTEFACTS IN ELECTRON MICROSCOPY

Numéro de demande/publication: 22 159431
Date: 2022-03-01
Demandeur(s): UNIVERSITEIT ANTWERPEN

PHASE RETRIEVAL IN ELECTRON MICROSCOPY

Numéro de demande/publication: 21 168468
Date: 2021-04-14
Demandeur(s): UNIVERSITEIT ANTWERPEN