Picometer metrology for light-element nanostructures: making every electron count

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Veröffentlichungen

Element specific atom counting for heterogeneous nanostructures : combining multiple ADF STEM images for simultaneous thickness and composition determination

Autoren: Sentürk Duygu Gizem, De Backer Annick, Van Aert Sandra
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 259, 2024, Seite(n) 113941, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2024.113941

3D Characterization and Plasmon Mapping of Gold Nanorods Welded by Femtosecond Laser Irradiation

Autoren: Thaís Milagres de Oliveira, Wiebke Albrecht, Guillermo González-Rubio, Thomas Altantzis, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Armand Béché, Sandra Van Aert, Andrés Guerrero-Martínez, Luis M. Liz-Marzán, Sara Bals
Veröffentlicht in: ACS Nano, Ausgabe 14/10, 2020, Seite(n) 12558-12570, ISSN 1936-0851
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c02610

Alloy CsCd x Pb 1– x Br 3 Perovskite Nanocrystals: The Role of Surface Passivation in Preserving Composition and Blue Emission

Autoren: Muhammad Imran, Julien Ramade, Francesco Di Stasio, Manuela De Franco, Joka Buha, Sandra Van Aert, Luca Goldoni, Simone Lauciello, Mirko Prato, Ivan Infante, Sara Bals, Liberato Manna
Veröffentlicht in: Chemistry of Materials, 2020, ISSN 0897-4756
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.chemmater.0c03825

Modelling ADF STEM images using elliptical Gaussian peaks and its effects on the quantification of structure parameters in the presence of sample tilt

Autoren: De wael, A.; De Backer, A.; Lobato, I.; Van Aert, S.
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 03043991, 2021, Seite(n) 113391, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113391

Real-time simulations of ADF STEM probe position-integrated scattering cross-sections for single element fcc crystals in zone axis orientation using a densely connected neural network

Autoren: Lobato Hoyos Ivan Pedro, De Backer A., Van Aert Sandra
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 251, 2023, Seite(n) 113769, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113769

Phase object reconstruction for 4D-STEM using deep learning

Autoren: Friedrich Thomas, Yu Chu-Ping, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra
Veröffentlicht in: Microscopy and microanalysis, Ausgabe 29, 2023, Seite(n) 395, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Cambridge University Press
DOI: 10.1093/micmic/ozac002

Interface Pattern Engineering in Core‐Shell Upconverting Nanocrystals: Shedding Light on Critical Parameters and Consequences for the Photoluminescence Properties

Autoren: Hudry, D.; De Backer, A.; Popescu, R.; Busko, D.; Howard, I.A.; Bals, S.; Zhang, Y.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Van Aert, S.; Gerthsen, D.; Altantzis, T.; Richards, B.S.
Veröffentlicht in: Small, Ausgabe 17, 2021, Seite(n) 2104441, ISSN 1613-6810
Herausgeber: Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI: 10.1002/smll.202104441

Element Specific Atom Counting at the Atomic Scale by Combining High Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy and Energy Dispersive X‐ray Spectroscopy

Autoren: De Backer, A.; Zhang, Z.; van den Bos, K.H.W.; Bladt, E.; Sánchez‐Iglesias, A.; Liz‐Marzán, L.M.; Nellist, P.D.; Bals, S.; Van Aert, S.
Veröffentlicht in: Small Methods, Ausgabe 6, 2022, Seite(n) 2200875, ISSN 2366-9608
Herausgeber: Wiley-v c h verlag gmbh
DOI: 10.1002/smtd.202200875

Three-Dimensional Nanoparticle Transformations Captured by an Electron Microscope

Autoren: Wiebke Albrecht, Sandra Van Aert, Sara Bals
Veröffentlicht in: Accounts of Chemical Research, Ausgabe 54/5, 2021, Seite(n) 1189-1199, ISSN 0001-4842
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.accounts.0c00711

Measuring Dynamic Structural Changes of Nanoparticles at the Atomic Scale Using Scanning Transmission Electron Microscopy

Autoren: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Aakash Varambhia, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Physical Review Letters, Ausgabe 124/10, 2020, ISSN 0031-9007
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.124.106105

Coupling Charge and Topological Reconstructions at Polar Oxide Interfaces

Autoren: van Thiel, T. c.; Brzezicki, W.; Autieri, C.; Hortensius, J. r.; Afanasiev, D.; Gauquelin, N.; Jannis, D.; Janssen, N.; Groenendijk, D. j.; Fatermans, J.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.; Cuoco, M.; Caviglia, A. d.
Veröffentlicht in: Physical review letters, Ausgabe 127, 2021, Seite(n) 127202, ISSN 0031-9007
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.127.127202

Sampling Real-Time Atomic Dynamics in Metal Nanoparticles by Combining Experiments, Simulations, and Machine Learning

Autoren: Matteo Cioni, Massimo Delle Piane, Daniela Polino, Daniele Rapetti, Martina Crippa, Ece Arslan Irmak, Sandra Van Aert, Sara Bals, and Giovanni M. Pavan
Veröffentlicht in: Advanced Science, 2024, Seite(n) 1-13, ISSN 2198-3844
Herausgeber: Wiley
DOI: 10.1002/advs.202307261

Thermal Activation of Gold Atom Diffusion in Au@Pt Nanorods

Autoren: Pedrazo-Tardajos, A.; Arslan Irmak, E.; Kumar, V.; Sánchez-Iglesias, A.; Chen, Q.; Wirix, M.; Freitag, B.; Albrecht, W.; Van Aert, S.; Liz-Marzán, L.M.; Bals, S.
Veröffentlicht in: ACS nano, Ausgabe 16, 2022, Seite(n) 9608-9619, ISSN 1936-0851
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.2c02889

Dynamical diffraction of high-energy electrons investigated by focal series momentum-resolved scanning transmission electron microscopy at atomic resolution

Autoren: Robert, Hl.; Lobato, I.; Lyu, Fj.; Chen, Q.; Van Aert, S.; Van Dyck, D.; Müller-Caspary, K.
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 233, 2022, Seite(n) 113425, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113425

Atom counting from a combination of two ADF STEM images

Autoren: Sentürk Duygu Gizem, Yu C.P., De Backer A., Van Aert Sandra
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 255, 2024, Seite(n) 113859, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113859

Low-dose 4D-STEM tomography for beam-sensitive nanocomposites

Autoren: Hugenschmidt Milena, Jannis Daen, Kadu Ajinkya Anil, Grünewald Lukas, De Marchi Sarah, Perez-Juste Jorge, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra, Bals Sara
Veröffentlicht in: ACS materials letters, Ausgabe 6, 2023, Seite(n) 165-173, ISSN 2639-4979
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsmaterialslett.3c01042

Berry phase engineering at oxide interfaces

Autoren: D. J. Groenendijk, C. Autieri, T. C. van Thiel, W. Brzezicki, J. R. Hortensius, D. Afanasiev, N. Gauquelin, P. Barone, K. H. W. van den Bos, S. van Aert, J. Verbeeck, A. Filippetti, S. Picozzi, M. Cuoco, A. D. Caviglia
Veröffentlicht in: Physical Review Research, Ausgabe 2/2, 2020, ISSN 2643-1564
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevresearch.2.023404

A decade of atom-counting in STEM : from the first results toward reliable 3D atomic models from a single projection

Autoren: De Backer Annick, Bals Sara, Van Aert Sandra, Van Aert Sandra
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 247, 2023, Seite(n) 113702, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113702

Experimental reconstructions of 3D atomic structures from electron microscopy images using a Bayesian genetic algorithm

Autoren: De Backer, A.; Van Aert, S.; Faes, C.; Arslan Irmak, E.; Nellist, P.D.; Jones, L.
Veröffentlicht in: npj Computational Materials, Ausgabe 20573960, 2022, Seite(n) 1-8, ISSN 2057-3960
Herausgeber: N P J Computational Materials / Chinese academy of sciences
DOI: 10.1038/s41524-022-00900-w

Single Atom Detection from Low Contrast-to-Noise Ratio Electron Microscopy Images

Autoren: J. Fatermans, A. J. den Dekker, K. Müller-Caspary, I. Lobato, C. M. O’Leary, P. D. Nellist, S. Van Aert
Veröffentlicht in: Physical Review Letters, Ausgabe 121/5, 2018, ISSN 0031-9007
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.121.056101

The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials

Autoren: K.H.W. van den Bos, L. Janssens, A. De Backer, P.D. Nellist, S. Van Aert
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 203, 2019, Seite(n) 155-162, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.12.004

Electrical Polarization in AlN/GaN Nanodisks Measured by Momentum-Resolved 4D Scanning Transmission Electron Microscopy

Autoren: Knut Müller-Caspary, Tim Grieb, Jan Müßener, Nicolas Gauquelin, Pascal Hille, Jörg Schörmann, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Martin Eickhoff, Andreas Rosenauer
Veröffentlicht in: Physical Review Letters, Ausgabe 122/10, 2019, ISSN 0031-9007
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.106102

Recent Advances in Transmission Electron Microscopy for Materials Science at the EMAT Lab of the University of Antwerp

Autoren: Giulio Guzzinati, Thomas Altantzis, Maria Batuk, Annick De Backer, Gunnar Lumbeeck, Vahid Samaee, Dmitry Batuk, Hosni Idrissi, Joke Hadermann, Sandra Van Aert, Dominique Schryvers, Johan Verbeeck, Sara Bals
Veröffentlicht in: Materials, Ausgabe 11/8, 2018, Seite(n) 1304, ISSN 1996-1944
Herausgeber: MDPI Open Access Publishing
DOI: 10.3390/ma11081304

Quantitative 3D Characterization of Elemental Diffusion Dynamics in Individual Ag@Au Nanoparticles with Different Shapes

Autoren: Alexander Skorikov, Wiebke Albrecht, Eva Bladt, Xiaobin Xie, Jessi E. S. van der Hoeven, Alfons van Blaaderen, Sandra Van Aert, Sara Bals
Veröffentlicht in: ACS Nano, Ausgabe 13/11, 2019, Seite(n) 13421-13429, ISSN 1936-0851
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.9b06848

Self‐Assembly of Atomically Thin Chiral Copper Heterostructures Templated by Black Phosphorus

Autoren: Hannah C. Nerl, Anuj Pokle, Lewys Jones, Knut Müller‐Caspary, Karel H. W. Bos, Clive Downing, Eoin K. McCarthy, Nicolas Gauquelin, Quentin M. Ramasse, Ivan Lobato, Dermot Daly, Juan Carlos Idrobo, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo, Stefano Sanvito, Jonathan N. Coleman, Clotilde S. Cucinotta, Valeria Nicolosi
Veröffentlicht in: Advanced Functional Materials, Ausgabe 29/37, 2019, Seite(n) 1903120, ISSN 1616-301X
Herausgeber: John Wiley & Sons Ltd.
DOI: 10.1002/adfm.201903120

Three-Dimensional Quantification of the Facet Evolution of Pt Nanoparticles in a Variable Gaseous Environment

Autoren: Thomas Altantzis, Ivan Lobato, Annick De Backer, Armand Béché, Yang Zhang, Shibabrata Basak, Mauro Porcu, Qiang Xu, Ana Sánchez-Iglesias, Luis M. Liz-Marzán, Gustaaf Van Tendeloo, Sandra Van Aert, Sara Bals
Veröffentlicht in: Nano Letters, Ausgabe 19/1, 2018, Seite(n) 477-481, ISSN 1530-6984
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.8B04303

The maximum a posteriori probability rule for atom column detection from HAADF STEM images

Autoren: J. Fatermans, S. Van Aert, A.J. den Dekker
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 201, 2019, Seite(n) 81-91, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.02.003

Control of Knock-On Damage for 3D Atomic Scale Quantification of Nanostructures: Making Every Electron Count in Scanning Transmission Electron Microscopy

Autoren: Sandra Van Aert, Annick De Backer, Lewys Jones, Gerardo T. Martinez, Armand Béché, Peter D. Nellist
Veröffentlicht in: Physical Review Letters, Ausgabe 122/6, 2019, ISSN 0031-9007
Herausgeber: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.066101

Comparison of first moment STEM with conventional differential phase contrast and the dependence on electron dose

Autoren: Knut Müller-Caspary, Florian F. Krause, Florian Winkler, Armand Béché, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Andreas Rosenauer
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 203, 2019, Seite(n) 95-104, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.12.018

Monitoring oxygen production on mass-selected iridium–tantalum oxide electrocatalysts

Autoren: Zheng, Y.-R.; Vernieres, J.; Wang, Z.; Zhang, K.; Hochfilzer, D.; Krempl, K.; Liao, T.-W.; Presel, F.; Altantzis, T.; Fatermans, J.; Scott, S.B.; Secher, N.M.; Moon, C.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.; Cao, A.; Anand, M.; Nørskov, J.K.; Kibsgaard, J.; Chorkendorff, I.
Veröffentlicht in: Nature Energy, 2021, ISSN 2058-7546
Herausgeber: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41560-021-00948-w

3D Atomic‐Scale Dynamics of Laser‐Light‐Induced Restructuring of Nanoparticles Unraveled by Electron Tomography

Autoren: Albrecht, W.; Arslan Irmak, E.; Altantzis, T.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Skorikov, A.; Deng, T.‐S.; van der Hoeven, J.E.S.; van Blaaderen, A.; Van Aert, S.; Bals, S.
Veröffentlicht in: Advanced materials, Ausgabe 33, 2021, Seite(n) 2100972, ISSN 0935-9648
Herausgeber: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202100972

Three-dimensional atomic structure of supported Au nanoparticles at high temperature

Autoren: Pei Liu, Ece Arslan Irmak, Annick De Backer, Annelies De wael, Ivan Lobato, Armand Béché, Sandra Van Aert, Sara Bals
Veröffentlicht in: Nanoscale, Ausgabe 13/3, 2021, Seite(n) 1770-1776, ISSN 2040-3364
Herausgeber: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d0nr08664a

Deep convolutional neural networks to restore single-shot electron microscopy images

Autoren: Lobato Hoyos Ivan Pedro, Friedrich Thomas, Van Aert Sandra
Veröffentlicht in: NPJ Computational Materials, Ausgabe 10, 2024, Seite(n) 1-19, ISSN 2057-3960
Herausgeber: Springer Nature
DOI: 10.1038/s41524-023-01188-0

Optimal experiment design for element specific atom counting using multiple annular dark field scanning transmission electron microscopy detectors

Autoren: Sentürk, D.G.; De Backer, A.; Friedrich, T.; Van Aert, S.
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 242, 2022, Seite(n) 113626, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113626

Atomic-scale detection of individual lead clusters confined in Linde Type A zeolites

Autoren: Fatermans, J.; Romolini, G.; Altantzis, T.; Hofkens, J.; Roeffaers, M.B.J.; Bals, S.; Van Aert, S.
Veröffentlicht in: Nanoscale, Ausgabe 20403364, 2022, Seite(n) 9323-9330, ISSN 2040-3364
Herausgeber: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d2nr01819e

Preventing cation intermixing enables 50% quantum yield in sub-15 nm short-wave infrared-emitting rare-earth based core-shell nanocrystals

Autoren: Fernando Arteaga Cardona; Noopur Jain; Radian Popescu; Dmitry Busko; Eduard Madirov; Bernardo A. Arús; Dagmar Gerthsen; Annick De Backer; Sara Bals; Oliver T. Bruns; Andriy Chmyrov; Sandra Van Aert; Bryce S. Richards; Damien Hudry
Veröffentlicht in: Nature Communications, Ausgabe 14, 2023, Seite(n) 1-14, ISSN 2041-1723
Herausgeber: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41467-023-40031-4

Restructuring of titanium oxide overlayers over nickel nanoparticles during catalysis

Autoren: Monai Matteo, Jenkinson Kellie, Melcherts Angela E.M., Louwen Jaap N., Arslan Irmak Ece, Van Aert Sandra, Altantzis Thomas, Vogt Charlotte, van der Stam Ward, Duchon Tomas, Smid Bretislav, Groeneveld Esther, Berben Peter, Bals Sara, Weckhuysen Bert M.
Veröffentlicht in: Science, Ausgabe 380, 2023, Seite(n) 644-651, ISSN 0036-8075
Herausgeber: American Association for the Advancement of Science
DOI: 10.1126/science.adf6984

3D Atomic Structure of Supported Metallic Nanoparticles Estimated from 2D ADF STEM Images: A Combination of Atom – Counting and a Local Minima Search Algorithm

Autoren: Arslan Irmak, E.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.
Veröffentlicht in: Small methods, Ausgabe 5, 2021, Seite(n) 2101150, ISSN 2366-9608
Herausgeber: Wiley-VCH GmbH
DOI: 10.1002/smtd.202101150

Real-Time Integration Center of Mass (riCOM) Reconstruction for 4D STEM

Autoren: Yu, C.-P.; Friedrich, T.; Jannis, D.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.
Veröffentlicht in: Microscopy and microanalysis, Ausgabe 14319276, 2022, Seite(n) 1526-1537, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622000617

Hidden Markov model for atom-counting from sequential ADF STEM images: Methodology, possibilities and limitations

Autoren: Annelies De wael, Annick De Backer, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 219, 2020, Seite(n) 113131, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113131

An atomically dispersed Mn-photocatalyst for generating hydrogen peroxide from seawater via the Water Oxidation Reaction (WOR)

Autoren: Ren Peng, Zhang Tong, Jain Noopur, Ching Hong Yue Vincent, Jaworski Aleksander, Barcaro Giovanni, Monti Susanna, Silvestre-Albero Joaquin, Celorrio Veronica, Chouhan Lata, Rokicinska Anna, Debroye Elke, Kustrowski Piotr, Van Doorslaer Sabine, Van Aert Sandra, Bals Sara, Das Shoubhik
Veröffentlicht in: Journal of the American Chemical Society, Ausgabe 145, 2023, Seite(n) 16584-16596, ISSN 0002-7863
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/jacs.3c03785

Three approaches for representing the statistical uncertainty on atom-counting results in quantitative ADF STEM

Autoren: De wael, A.; De Backer, A.; Yu, C.-P.; Sentürk, D.G.; Lobato, I.; Faes, C.; Van Aert, S.
Veröffentlicht in: Microscopy and microanalysis, 2022, Seite(n) 1-9, ISSN 1431-9276
Herausgeber: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622012284

Fast generation of calculated ADF-EDX scattering cross-sections under channelling conditions

Autoren: Zhang, Zezhong; Lobato, Ivan; De Backer, Annick; Van Aert, Sandra; Nellist, Peter
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 246, 2023, Seite(n) 113671, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113671

Atom column detection from simultaneously acquired ABF and ADF STEM images

Autoren: J. Fatermans, A.J. den Dekker, K. Müller-Caspary, N. Gauquelin, J. Verbeeck, S. Van Aert
Veröffentlicht in: Ultramicroscopy, Ausgabe 219, 2020, Seite(n) 113046, ISSN 0304-3991
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113046

Optimal experiment design for nanoparticle atom counting from ADF STEM images

Autoren: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 145-175, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.005

Statistical parameter estimation theory: principles and simulation studies

Autoren: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 29-72, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.002

Atom column detection

Autoren: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 177-214, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.006

Efficient fitting algorithm

Autoren: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 73-90, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.003

Atom counting

Autoren: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 91-144, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.004

Introduction

Autoren: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 1-28, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.001

Image-quality evaluation and model selection with maximum a posteriori probability

Autoren: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 215-242, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.007

General conclusions and future perspectives

Autoren: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Veröffentlicht in: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Ausgabe 217, 2021, Seite(n) 243-253, ISBN 9780128246078
Herausgeber: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.008

Phase retrieval from 4-dimensional electron diffraction datasets

Autoren: Friedrich, Thomas; Yu, Chu-Ping; Verbeek, Johan; Pennycook, Timothy; Van Aert, Sandra
Veröffentlicht in: IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), SEP 19-22, 2021, Electr. network, 2021, Seite(n) 3453-3457, ISBN 978-1-6654-4115-5
Herausgeber: IEEE
DOI: 10.1109/icip42928.2021.9506709

Unscrambling complex heterogeneous nanostructures by using quantitative 4D scanning transmission electron microscopy

Autoren: Duygu Gizem Şentürk
Veröffentlicht in: 2024
Herausgeber: University of Antwerp

Quantifying atomic structures using neural networks from 4D scanning transmission electron microscopy (STEM) datasets

Autoren: Friedrich, Thomas
Veröffentlicht in: 2023
Herausgeber: University of Antwerp

Rechte des geistigen Eigentums

REDUCING IMAGE ARTEFACTS IN ELECTRON MICROSCOPY

Antrags-/Publikationsnummer: 22 159431
Datum: 2022-03-01
Antragsteller: UNIVERSITEIT ANTWERPEN

PHASE RETRIEVAL IN ELECTRON MICROSCOPY

Antrags-/Publikationsnummer: 21 168468
Datum: 2021-04-14
Antragsteller: UNIVERSITEIT ANTWERPEN

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