Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS
CORDIScovery podcast 50th episode CORDIScovery podcast 50th episode

Picometer metrology for light-element nanostructures: making every electron count

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Publikacje

Peer reviewed articles (44)
Element specific atom counting for heterogeneous nanostructures : combining multiple ADF STEM images for simultaneous thickness and composition determination (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Sentürk Duygu Gizem, De Backer Annick, Van Aert Sandra
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 259, 2024, Strona(/y) 113941, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2024.113941

3D Characterization and Plasmon Mapping of Gold Nanorods Welded by Femtosecond Laser Irradiation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Thaís Milagres de Oliveira, Wiebke Albrecht, Guillermo González-Rubio, Thomas Altantzis, Ivan Pedro Lobato Hoyos, Armand Béché, Sandra Van Aert, Andrés Guerrero-Martínez, Luis M. Liz-Marzán, Sara Bals
Opublikowane w: ACS Nano, Numer 14/10, 2020, Strona(/y) 12558-12570, ISSN 1936-0851
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c02610

Alloy CsCd x Pb 1– x Br 3 Perovskite Nanocrystals: The Role of Surface Passivation in Preserving Composition and Blue Emission (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Muhammad Imran, Julien Ramade, Francesco Di Stasio, Manuela De Franco, Joka Buha, Sandra Van Aert, Luca Goldoni, Simone Lauciello, Mirko Prato, Ivan Infante, Sara Bals, Liberato Manna
Opublikowane w: Chemistry of Materials, 2020, ISSN 0897-4756
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.chemmater.0c03825

Modelling ADF STEM images using elliptical Gaussian peaks and its effects on the quantification of structure parameters in the presence of sample tilt (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: De wael, A.; De Backer, A.; Lobato, I.; Van Aert, S.
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 03043991, 2021, Strona(/y) 113391, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113391

Real-time simulations of ADF STEM probe position-integrated scattering cross-sections for single element fcc crystals in zone axis orientation using a densely connected neural network (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Lobato Hoyos Ivan Pedro, De Backer A., Van Aert Sandra
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 251, 2023, Strona(/y) 113769, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113769

Phase object reconstruction for 4D-STEM using deep learning (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Friedrich Thomas, Yu Chu-Ping, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra
Opublikowane w: Microscopy and microanalysis, Numer 29, 2023, Strona(/y) 395, ISSN 1431-9276
Wydawca: Cambridge University Press
DOI: 10.1093/micmic/ozac002

Interface Pattern Engineering in Core‐Shell Upconverting Nanocrystals: Shedding Light on Critical Parameters and Consequences for the Photoluminescence Properties (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Hudry, D.; De Backer, A.; Popescu, R.; Busko, D.; Howard, I.A.; Bals, S.; Zhang, Y.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Van Aert, S.; Gerthsen, D.; Altantzis, T.; Richards, B.S.
Opublikowane w: Small, Numer 17, 2021, Strona(/y) 2104441, ISSN 1613-6810
Wydawca: Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI: 10.1002/smll.202104441

Element Specific Atom Counting at the Atomic Scale by Combining High Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy and Energy Dispersive X‐ray Spectroscopy (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: De Backer, A.; Zhang, Z.; van den Bos, K.H.W.; Bladt, E.; Sánchez‐Iglesias, A.; Liz‐Marzán, L.M.; Nellist, P.D.; Bals, S.; Van Aert, S.
Opublikowane w: Small Methods, Numer 6, 2022, Strona(/y) 2200875, ISSN 2366-9608
Wydawca: Wiley-v c h verlag gmbh
DOI: 10.1002/smtd.202200875

Three-Dimensional Nanoparticle Transformations Captured by an Electron Microscope (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Wiebke Albrecht, Sandra Van Aert, Sara Bals
Opublikowane w: Accounts of Chemical Research, Numer 54/5, 2021, Strona(/y) 1189-1199, ISSN 0001-4842
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.accounts.0c00711

Measuring Dynamic Structural Changes of Nanoparticles at the Atomic Scale Using Scanning Transmission Electron Microscopy (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annelies De wael, Annick De Backer, Lewys Jones, Aakash Varambhia, Peter D. Nellist, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Physical Review Letters, Numer 124/10, 2020, ISSN 0031-9007
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.124.106105

Coupling Charge and Topological Reconstructions at Polar Oxide Interfaces (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: van Thiel, T. c.; Brzezicki, W.; Autieri, C.; Hortensius, J. r.; Afanasiev, D.; Gauquelin, N.; Jannis, D.; Janssen, N.; Groenendijk, D. j.; Fatermans, J.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.; Cuoco, M.; Caviglia, A. d.
Opublikowane w: Physical review letters, Numer 127, 2021, Strona(/y) 127202, ISSN 0031-9007
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevlett.127.127202

Sampling Real-Time Atomic Dynamics in Metal Nanoparticles by Combining Experiments, Simulations, and Machine Learning (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Matteo Cioni, Massimo Delle Piane, Daniela Polino, Daniele Rapetti, Martina Crippa, Ece Arslan Irmak, Sandra Van Aert, Sara Bals, and Giovanni M. Pavan
Opublikowane w: Advanced Science, 2024, Strona(/y) 1-13, ISSN 2198-3844
Wydawca: Wiley
DOI: 10.1002/advs.202307261

Thermal Activation of Gold Atom Diffusion in Au@Pt Nanorods (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Pedrazo-Tardajos, A.; Arslan Irmak, E.; Kumar, V.; Sánchez-Iglesias, A.; Chen, Q.; Wirix, M.; Freitag, B.; Albrecht, W.; Van Aert, S.; Liz-Marzán, L.M.; Bals, S.
Opublikowane w: ACS nano, Numer 16, 2022, Strona(/y) 9608-9619, ISSN 1936-0851
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.2c02889

Dynamical diffraction of high-energy electrons investigated by focal series momentum-resolved scanning transmission electron microscopy at atomic resolution (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Robert, Hl.; Lobato, I.; Lyu, Fj.; Chen, Q.; Van Aert, S.; Van Dyck, D.; Müller-Caspary, K.
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 233, 2022, Strona(/y) 113425, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2021.113425

Atom counting from a combination of two ADF STEM images (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Sentürk Duygu Gizem, Yu C.P., De Backer A., Van Aert Sandra
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 255, 2024, Strona(/y) 113859, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113859

Low-dose 4D-STEM tomography for beam-sensitive nanocomposites (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Hugenschmidt Milena, Jannis Daen, Kadu Ajinkya Anil, Grünewald Lukas, De Marchi Sarah, Perez-Juste Jorge, Verbeeck Johan, Van Aert Sandra, Bals Sara
Opublikowane w: ACS materials letters, Numer 6, 2023, Strona(/y) 165-173, ISSN 2639-4979
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsmaterialslett.3c01042

Berry phase engineering at oxide interfaces (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: D. J. Groenendijk, C. Autieri, T. C. van Thiel, W. Brzezicki, J. R. Hortensius, D. Afanasiev, N. Gauquelin, P. Barone, K. H. W. van den Bos, S. van Aert, J. Verbeeck, A. Filippetti, S. Picozzi, M. Cuoco, A. D. Caviglia
Opublikowane w: Physical Review Research, Numer 2/2, 2020, ISSN 2643-1564
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevresearch.2.023404

A decade of atom-counting in STEM : from the first results toward reliable 3D atomic models from a single projection (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: De Backer Annick, Bals Sara, Van Aert Sandra, Van Aert Sandra
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 247, 2023, Strona(/y) 113702, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113702

Experimental reconstructions of 3D atomic structures from electron microscopy images using a Bayesian genetic algorithm (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: De Backer, A.; Van Aert, S.; Faes, C.; Arslan Irmak, E.; Nellist, P.D.; Jones, L.
Opublikowane w: npj Computational Materials, Numer 20573960, 2022, Strona(/y) 1-8, ISSN 2057-3960
Wydawca: N P J Computational Materials / Chinese academy of sciences
DOI: 10.1038/s41524-022-00900-w

Single Atom Detection from Low Contrast-to-Noise Ratio Electron Microscopy Images (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: J. Fatermans, A. J. den Dekker, K. Müller-Caspary, I. Lobato, C. M. O’Leary, P. D. Nellist, S. Van Aert
Opublikowane w: Physical Review Letters, Numer 121/5, 2018, ISSN 0031-9007
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.121.056101

The atomic lensing model: New opportunities for atom-by-atom metrology of heterogeneous nanomaterials (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: K.H.W. van den Bos, L. Janssens, A. De Backer, P.D. Nellist, S. Van Aert
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 203, 2019, Strona(/y) 155-162, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2018.12.004

Electrical Polarization in AlN/GaN Nanodisks Measured by Momentum-Resolved 4D Scanning Transmission Electron Microscopy (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Knut Müller-Caspary, Tim Grieb, Jan Müßener, Nicolas Gauquelin, Pascal Hille, Jörg Schörmann, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Martin Eickhoff, Andreas Rosenauer
Opublikowane w: Physical Review Letters, Numer 122/10, 2019, ISSN 0031-9007
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.106102

Recent Advances in Transmission Electron Microscopy for Materials Science at the EMAT Lab of the University of Antwerp (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Giulio Guzzinati, Thomas Altantzis, Maria Batuk, Annick De Backer, Gunnar Lumbeeck, Vahid Samaee, Dmitry Batuk, Hosni Idrissi, Joke Hadermann, Sandra Van Aert, Dominique Schryvers, Johan Verbeeck, Sara Bals
Opublikowane w: Materials, Numer 11/8, 2018, Strona(/y) 1304, ISSN 1996-1944
Wydawca: MDPI Open Access Publishing
DOI: 10.3390/ma11081304

Quantitative 3D Characterization of Elemental Diffusion Dynamics in Individual Ag@Au Nanoparticles with Different Shapes (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Alexander Skorikov, Wiebke Albrecht, Eva Bladt, Xiaobin Xie, Jessi E. S. van der Hoeven, Alfons van Blaaderen, Sandra Van Aert, Sara Bals
Opublikowane w: ACS Nano, Numer 13/11, 2019, Strona(/y) 13421-13429, ISSN 1936-0851
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.9b06848

Self‐Assembly of Atomically Thin Chiral Copper Heterostructures Templated by Black Phosphorus (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Hannah C. Nerl, Anuj Pokle, Lewys Jones, Knut Müller‐Caspary, Karel H. W. Bos, Clive Downing, Eoin K. McCarthy, Nicolas Gauquelin, Quentin M. Ramasse, Ivan Lobato, Dermot Daly, Juan Carlos Idrobo, Sandra Van Aert, Gustaaf Van Tendeloo, Stefano Sanvito, Jonathan N. Coleman, Clotilde S. Cucinotta, Valeria Nicolosi
Opublikowane w: Advanced Functional Materials, Numer 29/37, 2019, Strona(/y) 1903120, ISSN 1616-301X
Wydawca: John Wiley & Sons Ltd.
DOI: 10.1002/adfm.201903120

Three-Dimensional Quantification of the Facet Evolution of Pt Nanoparticles in a Variable Gaseous Environment (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Thomas Altantzis, Ivan Lobato, Annick De Backer, Armand Béché, Yang Zhang, Shibabrata Basak, Mauro Porcu, Qiang Xu, Ana Sánchez-Iglesias, Luis M. Liz-Marzán, Gustaaf Van Tendeloo, Sandra Van Aert, Sara Bals
Opublikowane w: Nano Letters, Numer 19/1, 2018, Strona(/y) 477-481, ISSN 1530-6984
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.8B04303

The maximum a posteriori probability rule for atom column detection from HAADF STEM images (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: J. Fatermans, S. Van Aert, A.J. den Dekker
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 201, 2019, Strona(/y) 81-91, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.02.003

Control of Knock-On Damage for 3D Atomic Scale Quantification of Nanostructures: Making Every Electron Count in Scanning Transmission Electron Microscopy (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Sandra Van Aert, Annick De Backer, Lewys Jones, Gerardo T. Martinez, Armand Béché, Peter D. Nellist
Opublikowane w: Physical Review Letters, Numer 122/6, 2019, ISSN 0031-9007
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.122.066101

Comparison of first moment STEM with conventional differential phase contrast and the dependence on electron dose (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Knut Müller-Caspary, Florian F. Krause, Florian Winkler, Armand Béché, Johan Verbeeck, Sandra Van Aert, Andreas Rosenauer
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 203, 2019, Strona(/y) 95-104, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.12.018

Monitoring oxygen production on mass-selected iridium–tantalum oxide electrocatalysts (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Zheng, Y.-R.; Vernieres, J.; Wang, Z.; Zhang, K.; Hochfilzer, D.; Krempl, K.; Liao, T.-W.; Presel, F.; Altantzis, T.; Fatermans, J.; Scott, S.B.; Secher, N.M.; Moon, C.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.; Cao, A.; Anand, M.; Nørskov, J.K.; Kibsgaard, J.; Chorkendorff, I.
Opublikowane w: Nature Energy, 2021, ISSN 2058-7546
Wydawca: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41560-021-00948-w

3D Atomic‐Scale Dynamics of Laser‐Light‐Induced Restructuring of Nanoparticles Unraveled by Electron Tomography (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Albrecht, W.; Arslan Irmak, E.; Altantzis, T.; Pedrazo‐Tardajos, A.; Skorikov, A.; Deng, T.‐S.; van der Hoeven, J.E.S.; van Blaaderen, A.; Van Aert, S.; Bals, S.
Opublikowane w: Advanced materials, Numer 33, 2021, Strona(/y) 2100972, ISSN 0935-9648
Wydawca: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202100972

Three-dimensional atomic structure of supported Au nanoparticles at high temperature (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Pei Liu, Ece Arslan Irmak, Annick De Backer, Annelies De wael, Ivan Lobato, Armand Béché, Sandra Van Aert, Sara Bals
Opublikowane w: Nanoscale, Numer 13/3, 2021, Strona(/y) 1770-1776, ISSN 2040-3364
Wydawca: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d0nr08664a

Deep convolutional neural networks to restore single-shot electron microscopy images (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Lobato Hoyos Ivan Pedro, Friedrich Thomas, Van Aert Sandra
Opublikowane w: NPJ Computational Materials, Numer 10, 2024, Strona(/y) 1-19, ISSN 2057-3960
Wydawca: Springer Nature
DOI: 10.1038/s41524-023-01188-0

Optimal experiment design for element specific atom counting using multiple annular dark field scanning transmission electron microscopy detectors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Sentürk, D.G.; De Backer, A.; Friedrich, T.; Van Aert, S.
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 242, 2022, Strona(/y) 113626, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113626

Atomic-scale detection of individual lead clusters confined in Linde Type A zeolites (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Fatermans, J.; Romolini, G.; Altantzis, T.; Hofkens, J.; Roeffaers, M.B.J.; Bals, S.; Van Aert, S.
Opublikowane w: Nanoscale, Numer 20403364, 2022, Strona(/y) 9323-9330, ISSN 2040-3364
Wydawca: Royal Society of Chemistry
DOI: 10.1039/d2nr01819e

Preventing cation intermixing enables 50% quantum yield in sub-15 nm short-wave infrared-emitting rare-earth based core-shell nanocrystals (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Fernando Arteaga Cardona; Noopur Jain; Radian Popescu; Dmitry Busko; Eduard Madirov; Bernardo A. Arús; Dagmar Gerthsen; Annick De Backer; Sara Bals; Oliver T. Bruns; Andriy Chmyrov; Sandra Van Aert; Bryce S. Richards; Damien Hudry
Opublikowane w: Nature Communications, Numer 14, 2023, Strona(/y) 1-14, ISSN 2041-1723
Wydawca: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41467-023-40031-4

Restructuring of titanium oxide overlayers over nickel nanoparticles during catalysis (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Monai Matteo, Jenkinson Kellie, Melcherts Angela E.M., Louwen Jaap N., Arslan Irmak Ece, Van Aert Sandra, Altantzis Thomas, Vogt Charlotte, van der Stam Ward, Duchon Tomas, Smid Bretislav, Groeneveld Esther, Berben Peter, Bals Sara, Weckhuysen Bert M.
Opublikowane w: Science, Numer 380, 2023, Strona(/y) 644-651, ISSN 0036-8075
Wydawca: American Association for the Advancement of Science
DOI: 10.1126/science.adf6984

3D Atomic Structure of Supported Metallic Nanoparticles Estimated from 2D ADF STEM Images: A Combination of Atom – Counting and a Local Minima Search Algorithm (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Arslan Irmak, E.; Liu, P.; Bals, S.; Van Aert, S.
Opublikowane w: Small methods, Numer 5, 2021, Strona(/y) 2101150, ISSN 2366-9608
Wydawca: Wiley-VCH GmbH
DOI: 10.1002/smtd.202101150

Real-Time Integration Center of Mass (riCOM) Reconstruction for 4D STEM (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Yu, C.-P.; Friedrich, T.; Jannis, D.; Van Aert, S.; Verbeeck, J.
Opublikowane w: Microscopy and microanalysis, Numer 14319276, 2022, Strona(/y) 1526-1537, ISSN 1431-9276
Wydawca: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622000617

Hidden Markov model for atom-counting from sequential ADF STEM images: Methodology, possibilities and limitations (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annelies De wael, Annick De Backer, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 219, 2020, Strona(/y) 113131, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113131

An atomically dispersed Mn-photocatalyst for generating hydrogen peroxide from seawater via the Water Oxidation Reaction (WOR) (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ren Peng, Zhang Tong, Jain Noopur, Ching Hong Yue Vincent, Jaworski Aleksander, Barcaro Giovanni, Monti Susanna, Silvestre-Albero Joaquin, Celorrio Veronica, Chouhan Lata, Rokicinska Anna, Debroye Elke, Kustrowski Piotr, Van Doorslaer Sabine, Van Aert Sandra, Bals Sara, Das Shoubhik
Opublikowane w: Journal of the American Chemical Society, Numer 145, 2023, Strona(/y) 16584-16596, ISSN 0002-7863
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/jacs.3c03785

Three approaches for representing the statistical uncertainty on atom-counting results in quantitative ADF STEM (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: De wael, A.; De Backer, A.; Yu, C.-P.; Sentürk, D.G.; Lobato, I.; Faes, C.; Van Aert, S.
Opublikowane w: Microscopy and microanalysis, 2022, Strona(/y) 1-9, ISSN 1431-9276
Wydawca: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927622012284

Fast generation of calculated ADF-EDX scattering cross-sections under channelling conditions (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Zhang, Zezhong; Lobato, Ivan; De Backer, Annick; Van Aert, Sandra; Nellist, Peter
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 246, 2023, Strona(/y) 113671, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113671

Atom column detection from simultaneously acquired ABF and ADF STEM images (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: J. Fatermans, A.J. den Dekker, K. Müller-Caspary, N. Gauquelin, J. Verbeeck, S. Van Aert
Opublikowane w: Ultramicroscopy, Numer 219, 2020, Strona(/y) 113046, ISSN 0304-3991
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113046

Book chapters (8)
Optimal experiment design for nanoparticle atom counting from ADF STEM images (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 145-175, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.005

Statistical parameter estimation theory: principles and simulation studies (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 29-72, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.002

Atom column detection (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 177-214, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.006

Efficient fitting algorithm (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 73-90, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.003

Atom counting (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 91-144, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.004

Introduction (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 1-28, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.001

Image-quality evaluation and model selection with maximum a posteriori probability (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Jarmo Fatermans, Annick De Backer, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 215-242, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.007

General conclusions and future perspectives (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Annick De Backer, Jarmo Fatermans, Arnold J. den Dekker, Sandra Van Aert
Opublikowane w: Quantitative Atomic-Resolution Electron Microscopy, Numer 217, 2021, Strona(/y) 243-253, ISBN 9780128246078
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2021.01.008

Conference proceedings (1)
Phase retrieval from 4-dimensional electron diffraction datasets (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Friedrich, Thomas; Yu, Chu-Ping; Verbeek, Johan; Pennycook, Timothy; Van Aert, Sandra
Opublikowane w: IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), SEP 19-22, 2021, Electr. network, 2021, Strona(/y) 3453-3457, ISBN 978-1-6654-4115-5
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/icip42928.2021.9506709

Thesis and dissertations (2)
Unscrambling complex heterogeneous nanostructures by using quantitative 4D scanning transmission electron microscopy

Autorzy: Duygu Gizem Şentürk
Opublikowane w: 2024
Wydawca: University of Antwerp

Quantifying atomic structures using neural networks from 4D scanning transmission electron microscopy (STEM) datasets

Autorzy: Friedrich, Thomas
Opublikowane w: 2023
Wydawca: University of Antwerp

Prawa własności intelektualnej

Patent (2)
REDUCING IMAGE ARTEFACTS IN ELECTRON MICROSCOPY

Numer wniosku/publikacji: 22 159431
Data: 2022-03-01
Wnioskodawca/wnioskodawcy: UNIVERSITEIT ANTWERPEN

PHASE RETRIEVAL IN ELECTRON MICROSCOPY

Numer wniosku/publikacji: 21 168468
Data: 2021-04-14
Wnioskodawca/wnioskodawcy: UNIVERSITEIT ANTWERPEN

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Udostępnij tę stronę Udostępnij tę stronę w mediach społecznościowych

Pobierz Pobierz zawartość strony

Ostatnia aktualizacja: 11 Listopada 2024

Moja broszura

Permalink: https://cordis.europa.eu/project/id/770887/results/pl

European Union, 2025

Moja broszura 0 0