Publicaciones
Autores:
Jan Schultheiß, Tadej Rojac, Dennis Meier
Publicado en:
Advanced Electronic Materials, 2021, ISSN 2199-160X
Editor:
Wiley
DOI:
10.1002/aelm.202100996
Autores:
Elzbieta Gradauskaite; Kasper Hunnestad; Dennis Meier; Morgan Trassin; Quintin N. Meier
Publicado en:
Chemistry of Materials, 34 (14), Edición 4, 2022, ISSN 0897-4756
Editor:
American Chemical Society
DOI:
10.3929/ethz-b-000558395
Autores:
K. A. Hunnestad; Erik Dobloug Roede; A. T. J. van Helvoort; Dennis Meier
Publicado en:
Journal of Applied Physics, Edición 1, 2020, ISSN 0021-8979
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0029284
Autores:
Jan Schultheiß, Erik Lysne, Lukas Puntigam, Jakob Schaab, Edith Bourret, Zewu Yan, Stephan Krohns, and Dennis Meier
Publicado en:
Nano Letters, 2021, ISSN 1530-6984
Editor:
American Chemical Society
DOI:
10.1021/acs.nanolett.1c03182
Autores:
Erik D. Roede; Konstantin Shapovalov; Thomas J. Moran; Aleksander B. Mosberg; Zewu Yan; Edith Bourret; Andres Cano; Bryan D. Huey; Antonius T. J. van Helvoort; Dennis Meier
Publicado en:
Advanced Materials, 34 (36), Edición 3, 2022, ISSN 0935-9648
Editor:
United Nations Industrial Developement Organization
DOI:
10.3929/ethz-b-000563949
Autores:
Dennis Meier and Sverre M. Selbach
Publicado en:
Nature Reviews Materials, 2022, ISSN 2058-8437
Editor:
Nature Springer
DOI:
10.1038/s41578-021-00375-z
Autores:
L. Richarz, J. He, U. Ludacka, E. Bourret, Z. Yan, A. T. J. van Helvoort, and D. Meier
Publicado en:
Applied Physics Letters, Edición 122, 2023, Página(s) 162903, ISSN 0003-6951
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0145173
Autores:
Lukas Puntigam, Jan Schultheiß, Ana Strinic, Zewu Yan, Edith Bourret, Markus Altthaler, István Kézsmárki, Donald M. Evans, Dennis Meier, and Stephan Krohns
Publicado en:
Journal of Applied Physics, 2021, ISSN 0021-8979
Editor:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0038300
Autores:
Kasper A. Hunnestad, Jan Schultheiß, Anders C. Mathisen, Ivan N. Ushakov, Constantinos Hatzoglou, Antonius T. J. van Helvoort, Dennis Meier
Publicado en:
Advanced Materials, Edición 35, 2023, Página(s) 2302543, ISSN 0935-9648
Editor:
United Nations Industrial Developement Organization
DOI:
10.1002/adma.202302543
Autores:
K.A. Hunnestad, C. Hatzoglou, F. Vurpillot, I.-E. Nylund, Z. Yan, E. Bourret, A.T.J. van Helvoort, D. Meier
Publicado en:
Materials Characterization, Edición 203, 2023, Página(s) 113085, ISSN 1044-5803
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.matchar.2023.113085
Autores:
Olav W. Sandvik; Aaron Merlin Müller; Håkon W. Ånes; Manuel Zahn; Jiali He; Manfred Fiebig; Thomas Lottermoser; Tadej Rojac; Dennis Meier; Jan Schultheiß
Publicado en:
Nano Letters, Edición 23, 2023, Página(s) 6994-7000, ISSN 1530-6984
Editor:
American Chemical Society
DOI:
10.1021/acs.nanolett.3c01638
Autores:
Jan Schultheiß; Fei Xue; Erik Roede; Håkon W. Ånes; Frida H. Danmo; Sverre M. Selbach; Long‐Qing Chen; Dennis Meier
Publicado en:
Advanced Materials, Edición 2, 2022, ISSN 0935-9648
Editor:
United Nations Industrial Developement Organization
DOI:
10.1002/adma.202203449
Autores:
C.M. Fernandez-Posada, C.R.S. Haines, D.M. Evans, Z. Yan, E. Bourret, D. Meier, and M.A. Carpenter
Publicado en:
Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 2022, ISSN 0304-8853
Editor:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.jmmm.2022.169277
Autores:
Erik Dobloug Roede; Aleksander B. Mosberg; Donald M. Evans; Edith Bourret; Zewu Yan; Antonius T. J. van Helvoort; Dennis Meier
Publicado en:
APL Materials, Edición 9, 2021, Página(s) 021105, ISSN 2166-532X
Editor:
AIP
DOI:
10.1063/5.0038909
Autores:
K. A. Hunnestad, C. Hatzoglou, Z. M. Khalid, P. E. Vullum, Z. Yan, E. Bourret, A. T. J. van Helvoort, S. M. Selbach, D. Meier
Publicado en:
Nature Communications, Edición 13, 2022, ISSN 2041-1723
Editor:
Nature Publishing Group
DOI:
10.1038/s41467-022-32189-0
Autores:
Constantinos Hatzoglou, Gérald Da Costa, Peter Wells, Xiaochen Ren, Brian P Geiser, David J Larson, Remi Demoulin, Kasper Hunnestad, Etienne Talbot, Baishakhi Mazumder, Dennis Meier, François Vurpillot
Publicado en:
Microscopy and Microanalysis, Edición 29, 2023, Página(s) 1124–1136, ISSN 1435-8115
Editor:
Oxford University Press
DOI:
10.1093/micmic/ozad054
Autores:
Theodor S. Holstad, Trygve M. Ræder, Donald M. Evans, Didirk R. Småbråten, Stephan Krohns, Jakob Schaab, Zewu Yan, Edith Bourret, Antonius T. J. van Helvoort, Tor Grande, Sverre M. Selbach, Joshua C. Agar, and Dennis Meier
Publicado en:
npj Computational Materials, 2020, ISSN 2057-3960
Editor:
Springer Nature
DOI:
10.1038/s41524-020-00426-z
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