Creating building blocks for atomic-scale electronics

Projektinformationen

ATRONICS

ID Finanzhilfevereinbarung: 863691

DOI 10.3030/863691

EK-Unterschriftsdatum 13 Februar 2020

Startdatum 1 September 2020

Enddatum 28 Februar 2026

Finanziert unter

• EXCELLENT SCIENCE - European Research Council (ERC)

Gesamtkosten € 1 845 338,00

EU-Beitrag € 1 845 338,00

Koordiniert durch

NORGES TEKNISK-NATURVITENSKAPELIGE UNIVERSITET NTNU
Norway

Veröffentlichungen

Peer reviewed articles (17)

Unveiling Alternating Current Electronic Properties at Ferroelectric Domain Walls

Autoren: Jan Schultheiß, Tadej Rojac, Dennis Meier
Veröffentlicht in: Advanced Electronic Materials, 2021, ISSN 2199-160X
Herausgeber: Wiley
DOI: 10.1002/aelm.202100996

Ferroelectric Domain Engineering Using Structural Defect Ordering

Autoren: Elzbieta Gradauskaite; Kasper Hunnestad; Dennis Meier; Morgan Trassin; Quintin N. Meier
Veröffentlicht in: Chemistry of Materials, 34 (14), Ausgabe 4, 2022, ISSN 0897-4756
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.3929/ethz-b-000558395

Characterization of ferroelectric domain walls by scanning electron microscopy

Autoren: K. A. Hunnestad; Erik Dobloug Roede; A. T. J. van Helvoort; Dennis Meier
Veröffentlicht in: Journal of Applied Physics, Ausgabe 1, 2020, ISSN 0021-8979
Herausgeber: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/5.0029284

Charged Ferroelectric Domain Walls for Deterministic ac Signal Control at the Nanoscale

Autoren: Jan Schultheiß, Erik Lysne, Lukas Puntigam, Jakob Schaab, Edith Bourret, Zewu Yan, Stephan Krohns, and Dennis Meier
Veröffentlicht in: Nano Letters, 2021, ISSN 1530-6984
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.nanolett.1c03182

The Third Dimension of Ferroelectric Domain Walls

Autoren: Erik D. Roede; Konstantin Shapovalov; Thomas J. Moran; Aleksander B. Mosberg; Zewu Yan; Edith Bourret; Andres Cano; Bryan D. Huey; Antonius T. J. van Helvoort; Dennis Meier
Veröffentlicht in: Advanced Materials, 34 (36), Ausgabe 3, 2022, ISSN 0935-9648
Herausgeber: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.3929/ethz-b-000563949

Ferroelectric domain walls for nanotechnology

Autoren: Dennis Meier and Sverre M. Selbach
Veröffentlicht in: Nature Reviews Materials, 2022, ISSN 2058-8437
Herausgeber: Nature Springer
DOI: 10.1038/s41578-021-00375-z

Moiré fringes in conductive atomic force microscopy

Autoren: L. Richarz, J. He, U. Ludacka, E. Bourret, Z. Yan, A. T. J. van Helvoort, and D. Meier
Veröffentlicht in: Applied Physics Letters, Ausgabe 122, 2023, Seite(n) 162903, ISSN 0003-6951
Herausgeber: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/5.0145173

Insulating improper ferroelectric domain walls as robust barrier layer capacitors

Autoren: Lukas Puntigam, Jan Schultheiß, Ana Strinic, Zewu Yan, Edith Bourret, Markus Altthaler, István Kézsmárki, Donald M. Evans, Dennis Meier, and Stephan Krohns
Veröffentlicht in: Journal of Applied Physics, 2021, ISSN 0021-8979
Herausgeber: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/5.0038300

Quantitative Mapping of Chemical Defects at Charged Grain Boundaries in a Ferroelectric Oxide

Autoren: Kasper A. Hunnestad, Jan Schultheiß, Anders C. Mathisen, Ivan N. Ushakov, Constantinos Hatzoglou, Antonius T. J. van Helvoort, Dennis Meier
Veröffentlicht in: Advanced Materials, Ausgabe 35, 2023, Seite(n) 2302543, ISSN 0935-9648
Herausgeber: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202302543

Correlating laser energy with compositional and atomic-level information of oxides in atom probe tomography

Autoren: K.A. Hunnestad, C. Hatzoglou, F. Vurpillot, I.-E. Nylund, Z. Yan, E. Bourret, A.T.J. van Helvoort, D. Meier
Veröffentlicht in: Materials Characterization, Ausgabe 203, 2023, Seite(n) 113085, ISSN 1044-5803
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.matchar.2023.113085

Pressure Control of Nonferroelastic Ferroelectric Domains in ErMnO₃

Autoren: Olav W. Sandvik; Aaron Merlin Müller; Håkon W. Ånes; Manuel Zahn; Jiali He; Manfred Fiebig; Thomas Lottermoser; Tadej Rojac; Dennis Meier; Jan Schultheiß
Veröffentlicht in: Nano Letters, Ausgabe 23, 2023, Seite(n) 6994-7000, ISSN 1530-6984
Herausgeber: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.nanolett.3c01638

Confinement‐Driven Inverse Domain Scaling in Polycrystalline ErMnO ₃

Autoren: Jan Schultheiß; Fei Xue; Erik Roede; Håkon W. Ånes; Frida H. Danmo; Sverre M. Selbach; Long‐Qing Chen; Dennis Meier
Veröffentlicht in: Advanced Materials, Ausgabe 2, 2022, ISSN 0935-9648
Herausgeber: United Nations Industrial Developement Organization
DOI: 10.1002/adma.202203449

Magnetoelastic properties of multiferroic hexagonal ErMnO3

Autoren: C.M. Fernandez-Posada, C.R.S. Haines, D.M. Evans, Z. Yan, E. Bourret, D. Meier, and M.A. Carpenter
Veröffentlicht in: Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 2022, ISSN 0304-8853
Herausgeber: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.jmmm.2022.169277

Contact-free reversible switching of improper ferroelectric domains by electron and ion irradiation

Autoren: Erik Dobloug Roede; Aleksander B. Mosberg; Donald M. Evans; Edith Bourret; Zewu Yan; Antonius T. J. van Helvoort; Dennis Meier
Veröffentlicht in: APL Materials, Ausgabe 9, 2021, Seite(n) 021105, ISSN 2166-532X
Herausgeber: AIP
DOI: 10.1063/5.0038909

Atomic-scale 3D imaging of individual dopant atoms in an oxide semiconductor

Autoren: K. A. Hunnestad, C. Hatzoglou, Z. M. Khalid, P. E. Vullum, Z. Yan, E. Bourret, A. T. J. van Helvoort, S. M. Selbach, D. Meier
Veröffentlicht in: Nature Communications, Ausgabe 13, 2022, ISSN 2041-1723
Herausgeber: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41467-022-32189-0

Introducing a Dynamic Reconstruction Methodology for Multilayered Structures in Atom Probe Tomography

Autoren: Constantinos Hatzoglou, Gérald Da Costa, Peter Wells, Xiaochen Ren, Brian P Geiser, David J Larson, Remi Demoulin, Kasper Hunnestad, Etienne Talbot, Baishakhi Mazumder, Dennis Meier, François Vurpillot
Veröffentlicht in: Microscopy and Microanalysis, Ausgabe 29, 2023, Seite(n) 1124–1136, ISSN 1435-8115
Herausgeber: Oxford University Press
DOI: 10.1093/micmic/ozad054

Application of a long short-term memory for deconvoluting conductance contributions at charged ferroelectric domain walls

Autoren: Theodor S. Holstad, Trygve M. Ræder, Donald M. Evans, Didirk R. Småbråten, Stephan Krohns, Jakob Schaab, Zewu Yan, Edith Bourret, Antonius T. J. van Helvoort, Tor Grande, Sverre M. Selbach, Joshua C. Agar, and Dennis Meier
Veröffentlicht in: npj Computational Materials, 2020, ISSN 2057-3960
Herausgeber: Springer Nature
DOI: 10.1038/s41524-020-00426-z