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Automated inspection tool to unveil defects in raw Silicon Carbide crystals.

Descrizione del progetto

Nuovi strumenti per valutare i difetti dei cristalli del carburo di silicio

Il carburo di silicio è un materiale di base per semiconduttori che consiste in silicio puro e carbonio puro. Le sue proprietà sono particolarmente adatte per diversi componenti e dispositivi elettrici utilizzati nei veicoli elettrici, nell’energia rinnovabile e in varie applicazioni industriali. È in grado di sopportare tensioni, frequenze e temperature sostanzialmente superiori rispetto al silicio tradizionale. Tuttavia, la commercializzazione di un gran numero di dispositivi elettronici basati sul carburo di silicio è stata impegnativa, a causa della presenza di una vasta gamma di difetti. Il progetto SiC_Scope, finanziato dall’UE, intende sviluppare uno strumento di ispezione automatizzato che possa permettere ai costruttori di valutare i difetti dei cristalli di carburo di silicio prima che entrino nella fase di trasformazione. Il nuovo strumento aiuterà i costruttori di semiconduttori a migliorare il processo di crescita e la qualità dei cristalli.

Obiettivo

Silicon Carbide (SiC) is emerging semiconductor crystal for high-power electronics. There is great demand from Electric Vehicles and Power Generation industries for SiC devices that enable to operate at higher power, higher voltages, higher temperatures, and higher frequencies, compare to traditional silicon. On top of it SiC wafers reduce energy loss at electric power control, contributing to the reduction of energy use and the environmental stress.

Unfortunately high defectiveness of produced SiC crystals is a stumbling block in its wide-spread use in electronics. Today defective volume in SiC crystals could reach 50%, and the defects are unveiled only after crystal processing, wafering and, in many cases, polishing wafers. This process is considerably costly because SiC is one of the hardest materials with hardness just below diamond.

This project is to develop an automated inspection tool to enable manufacturers to assess defectiveness of SiC crystals before they enter costly processing. It will help semiconductor manufacturers to save resources on slicing and polishing initially defective crystals, and provide insight into the crystal quality to improve the growth process.

I am PhD in Physics who studied Material science, crystal growth and characterisation. The project will be carried out at the Swiss company Scientific Visual, that has developed quality inspection tools for other industrial crystals, and it is to expand its technology to Silicon Carbide.

Campo scientifico (EuroSciVoc)

CORDIS classifica i progetti con EuroSciVoc, una tassonomia multilingue dei campi scientifici, attraverso un processo semi-automatico basato su tecniche NLP.

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Coordinatore

SCIENTIFIC VISUAL SA
Contribution nette de l'UE
€ 203 149,44
Indirizzo
8, CHEMIN DES ALLINGES
1006 Lausanne
Svizzera

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PMI

L’organizzazione si è definita una PMI (piccola e media impresa) al momento della firma dell’accordo di sovvenzione.

Regione
Schweiz/Suisse/Svizzera Région lémanique Vaud
Tipo di attività
Private for-profit entities (excluding Higher or Secondary Education Establishments)
Collegamenti
Costo totale
€ 203 149,44